STMicroelectronics GWA40MS120DF4AG IGBT技术解析与应用指南

描述

STMicroelectronics GWA40MS120DF4AG汽车级MS系列IGBT采用先进、专有的沟槽式栅极场终止型结构进行开发。该IGBT属于MS系列,专门设计用于逆变器系统。该器件在高总线电压下具有出色的短路能力,因此非常适用于此类应用。此外,VCE(sat) 温度系数微正,参数分布非常紧密,有助于实现更安全的并联操作。GWA40MS120DF4AG汽车级IGBT具有1200V集电极-发射极电压( VGE =0V)、40A集电极连续电流(TC=100°C)以及120A脉冲正向电流。~~该IGBT采用TO-247长引线封装,工作温度范围为-55°C至175°C。典型应用包括辅助负载、热管理和PTC加热器。

数据手册:*附件:STMicroelectronics GWA40MS120DF4AG汽车级MS系列IGBT数据手册.pdf

特性

  • 先进、专有的沟槽式栅极场终止型结构
  • 参数分布紧密
  • VCE(sat) 温度系数
  • 低热阻

测试电路

汽车级

封装信息

汽车级

STMicroelectronics GWA40MS120DF4AG IGBT技术解析与应用指南

一、器件核心特性综述

GWA40MS120DF4AG是STMicroelectronics推出的汽车级沟槽栅场截止型IGBT,采用TO-247长引脚封装,具有以下突出特性:

  • 电压电流规格‌:1200V/40A连续工作能力(TC=100℃时),脉冲电流达120A
  • 低损耗设计‌:典型VCE(sat)仅1.95V@40A,开关损耗Eon+Eoff=4.8mJ@600V/40A
  • 汽车级认证‌:通过AEC-Q101认证,结温范围-55至175℃
  • 热特性优异‌:结壳热阻RθJC(IGBT)=0.28℃/W,支持高频开关应用

二、关键参数工程解读

2.1 静态特性

参数测试条件典型值温度特性
VCE(sat)VGE=15V, IC=40A1.95V+0.4V@175℃(见图5)
VGE(th)IC=2mA5V负温度系数(见图11)
输入电容VCE=25V2700pF随电压升高非线性下降(见图13)

2.2 动态性能

  • 开关速度‌:RG=10Ω时,tr=15ns,tf=135ns(25℃工况)
  • 短路耐受‌:VCC=800V时可持续8μs(TJ起始=175℃)
  • 二极管特性‌:trr=465ns@40A/600V,Qrr=2.8μC(见图30波形)

三、典型应用设计要点

3.1 热设计建议

  1. 损耗计算‌:
    • 导通损耗:Pcond = VCE(sat) × IC × 占空比
    • 开关损耗:Psw = (Eon + Eoff) × 开关频率
    • 总损耗需结合图1功率降额曲线校验
  2. 散热方案‌:
    • 参考热阻RθJA=50℃/W
    • 当PTOT=100W时,要求散热器热阻<0.5℃/W(TC=75℃工况)

3.2 驱动电路设计

  • 栅极电阻选择‌:
    • 权衡开关损耗(图16)与di/dt应力
    • 推荐RG=10Ω(Esw=8mJ@175℃)
  • 栅极电荷管理‌:
    • 总Qg=147nC(图14)
    • 驱动电流≥Qg/td(on)=4.2A(确保快速开通)

四、汽车电子应用实例

4.1 PTC加热器驱动

  • 拓扑选择‌:H桥架构,需并联续流二极管
  • 保护设计‌:
    • DESAT检测阈值建议设于7-9V
    • 结合短路耐受时间配置硬件保护延时

4.2 辅助电源逆变

  • 并联注意事项‌:
    • 利用正VCE(sat)温度系数(+0.015%/℃)
    • 建议栅极阻抗偏差<5%
    • 布局保证均流电感<10nH

五、可靠性验证建议

  1. 加速老化测试‌:
    • 功率循环:ΔTJ=125K,验证绑定线可靠性
    • HTGB测试:VGE=20V@150℃
  2. 失效模式分析‌:
    • 关注高温下栅氧完整性
    • 监测VCE(sat)漂移作为退化指标
打开APP阅读更多精彩内容
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !

×
20
完善资料,
赚取积分