ADS9229双通道、同步采样、16位20MSPS SAR ADC技术手册

描述

ADS922x是16位、高速、双通道、同步采样、模数转换器(ADC)系列,具有用于ADC输入的集成驱动器。集成ADC驱动器简化了信号链,降低了精密应用的功耗,并支持超过1MHz的高频信号。由于不需要外部去耦电容器,集成ADC基准电压缓冲器针对宽带宽应用进行了优化。

ADS922x使用串行LVDS (SLVDS)数据接口,支持高速数字接口,同时最大限度地降低数字开关噪声。使用每个ADC通道的单独SLVDS输出或两个ADC通道的一个SLVDS输出读取双通道ADC数据。
*附件:ads9229.pdf

特性

  • 高速采样率:20MSPS/ch
    • ADS9229:20MSPS/通道,230mW/通道
    • ADS9228:10MSPS/通道,146mW/通道
    • ADS9227:5MSPS/通道,95mW/通道
  • 2 通道,同时采样
  • 功能集成:
    • 集成ADC驱动器
    • 集成精密参考
    • 共模电压输出缓冲器
  • 高性能:
    • 16 位无缺失码
    • INL:±0.3LSB,DNL:±0.3LSB
    • 信噪比:93.9dB
  • 宽输入带宽 (–3dB):
    • ADS9229和ADS9228:90MHz
    • ADS9227:45MHz
  • 串行LVDS接口:
    • SDR 和 DDR 输出模式
    • 同步时钟和数据输出
  • 扩展工作范围:–40°C 至 +125°C

参数

adc

方框图

adc

一、产品基础信息与核心差异对比

ADS9227、ADS9228、ADS9229 同属 ADS922x 系列,核心架构均为 16 位双通道同步采样 ADC,共享集成驱动、基准等特性,主要差异集中在采样速率与功耗,具体参数对比如下:

参数分类参数名称ADS9227ADS9228ADS9229系列共同特性
基础性能最大采样速率5MSPS / 通道10MSPS / 通道20MSPS / 通道1. 16 位分辨率无失码,INL±0.3LSB、DNL±0.3LSB(典型值),全温度范围(-40°C 至 125°C)INL 最大 ±0.75LSB2. 集成 ADC 输入驱动,无需外部放大器,支持 AC/DC 耦合差分输入,输入满量程 ±3.2Vpp3. 低噪声:5MHz 输入时 SNR 典型 93.9dBFS,THD 典型 - 120dBc,无杂散动态范围(SFDR)120dB4. 内置 4.096V 精密基准(温度漂移 6-20ppm/°C)与共模电压输出(VCMOUT 典型 2.385-2.460V)5. 串行 LVDS 接口:支持 1 路 / 2 路输出,SDR/DDR 模式,输出帧宽 20/24 位可调6. 集成数据平均(2/4/8/16 倍)、数字下变频器(DDC)与 10 位温度传感器,支持多器件 SPI 菊花链配置
基础性能典型功耗(满速)95mW / 通道146mW / 通道230mW / 通道
信号处理模拟输入带宽(-3dB)45MHz90MHz90MHz
信号处理输入噪声150Hz 带宽内低噪声,确保弱信号采集精度
电源与电流AVDD_5V 电流(满速)20-24mA33-40mA55-59mA
电源与电流VDD_1V8 电流(满速)50-66mA70.5-89mA103-110mA

二、关键功能特性详解

1. 模拟输入与基准电路配置

1.1 模拟输入特性

  • 输入范围与阻抗 :差分输入满量程 3.2Vpp,共模输入电压需匹配 VCMOUT 引脚(0.9-1.0V,典型 0.95V),允许 ±70mV 波动;直流差分输入电阻 8kΩ,输入电容 5.4pF,等效输入网络含 2Ω 与 0.6Ω 匹配电阻及 22pF 采样电容(如图 7-1 等效输入网络所示),适配高频信号。
  • 线性度与误差 :增益误差最大 ±0.05% FSR,温度漂移最大 0.5ppm/°C;失调误差最大 ±10LSB,温度漂移 0.25LSB/°C,宽温域内测量精度稳定;支持增益误差校准(通过寄存器 0x0D、0x33 配置),进一步降低误差。
  • 噪声性能 :5MHz 输入时 THD 典型 - 120dBc,二次 / 三次谐波失真(HD2/HD3)抑制能力强;1MHz 输入时 SNR 仍达 93.3dBFS,适合中高频弱信号采集。

1.2 基准电压配置

  • 内部基准 :默认启用 4.096V 内部基准,需在 REFIO 引脚外接 10μF 陶瓷去耦电容滤除噪声,REFM 引脚接地;基准输出电压范围 4.092V-4.1V,输出阻抗 8Ω,额外消耗 4mA 模拟电流。
  • 外部基准 :可通过寄存器 0xC1(PD_REF=1b)禁用内部基准,在 REFIO 引脚接入 4.096V 外部基准(推荐 REF7040),需同样外接 10μF 去耦电容,外部基准负载电流约 1mA,温度漂移更低,适合超高精度场景。

2. 数据处理与接口功能设计

2.1 数据平均(Decimation)功能

  • 平均模式 :支持 2、4、8、16 倍数据平均,平均使能后输出速率按对应倍数降低(如 ADS9229 用 16 倍平均时,输出速率降至 1.25MSPS / 通道),SNR 随平均倍数提升,16 倍平均时 SNR 达 97dBFS。
  • 配置方式 :需通过多寄存器协同配置,核心寄存器包括 OSR_EN(0x0D [6],使能平均)、OSR(0x0D [5:2],选择平均倍数)、OSR_INIT1/2/3(0xC0 [11:10]、0xC4 [5:4]、0xC4 [1],初始化配置),SMPL_SYNC 引脚可同步多器件平均滤波复位。

2.2 数字下变频器(DDC)

  • 核心构成 :集成 32 位数控振荡器(NCO)与数字混频器,支持 2/4/8/16 倍复抽取,每通道输出 48 位 I/Q 数据(24 位 I+24 位 Q),NCO 为双通道共享,频率范围 - FS/2 至 + FS/2。
  • NCO 配置 :NCO 频率通过寄存器 0xFD/0xFE(NCO_FREQUENCY)配置,公式为fNCO =fSMP L _CLK​**×NCOFREQUENCY /224**;初始相位通过 0xFC/0xFD(NCO_PHASE)配置,支持 0、π、2π 三种相位,可通过 SMPL_SYNC 引脚复位相位。
  • 抽取与增益补偿 :复抽取时信号经混频后幅度衰减 6dB,可通过寄存器 0x26 配置 6dB 数字增益补偿;实抽取(仅低通滤波,无混频)衰减 3dB,支持 3dB 增益补偿,避免 SNR 损失。

2.3 LVDS 数据接口

  • 接口模式 :支持两种输出模式,适配不同数据速率需求:
    • 2 路模式:双通道数据分别从 DOUTA(通道 A)、DOUTB(通道 B)输出,24 位 SDR 时 DCLK 频率 = 12×SMPL_CLK(ADS9229 满速时 DCLK=240MHz)。
    • 1 路模式:双通道数据合并从 DOUTA 输出,24 位 SDR 时 DCLK 频率 = 24×SMPL_CLK(ADS9229 满速时 DCLK=480MHz)。
  • 输出格式 :支持二进制与二进制补码格式(通过 0x0D [13] 配置),输出帧宽 20/24 位可调(20 位含 16 位数据 + 4 位用户自定义位,24 位含 16 位数据 + 8 位用户自定义位),用户自定义位通过寄存器 0x1C 配置。
  • 时序特性 :数据延迟低,2 路模式延迟 2 个时钟周期,1 路模式延迟 1 个时钟周期;LVDS 输出差分电压 200-500mVpp,共模电压 0.88-1.32V,需在接收端接 100Ω 匹配电阻。

3. 特殊功能模块说明

3.1 温度传感器

  • 性能指标 :10 位精度,测量范围覆盖器件工作温度区间(-40°C 至 125°C),需通过固定寄存器序列读取:
    1. 向 Bank1 的 0x90 寄存器写入 0x4000,加载温度数据至 0x91 寄存器;
    2. 读取 Bank1 的 0x91 寄存器,获取 10 位温度数据;
    3. 向 Bank1 的 0x90 寄存器写入 0x0000,完成读取。
  • 温度计算 :通过公式转换为实际温度值,温度漂移小,可用于环境温度监测与精度补偿。

3.2 测试模式

  • 模式类型 :支持三种测试图案,用于接口调试与链路验证:
    1. 固定模式:输出 TP0_A/TP0_B 寄存器(0x14/0x19)定义的固定值;
    2. 数字斜坡:输出随 RAMP_INC_A/RAMP_INC_B(0x13 [7:4]/0x18 [7:4])配置递增的斜坡信号,递增步长为 N+1(N 为寄存器配置值);
    3. 交替模式:交替输出 TP0_A/TP1_A、TP0_B/TP1_B 寄存器(0x14/0x15、0x19/0x1A)定义的值。
  • 启用方式 :通过 TP_EN_A/TP_EN_B(0x13 [1]/0x18 [1],使能测试模式)、TP_MODE_A/TP_MODE_B(0x13 [3:2]/0x18 [3:2],选择模式类型)配置,无需外部电路即可完成接口验证。

三、电气规格详情(典型值,TA=25°C,AVDD_5V=5V,VDD_1V8=1.8V)

3.1 供电与电流特性

器件型号AVDD_5V 电流(满速)AVDD_5V 电流(掉电)VDD_1V8 电流(满速)VDD_1V8 电流(掉电)
ADS922720-24mA2mA50-66mA2mA
ADS922833-40mA2mA70.5-89mA2mA
ADS922955-59mA2mA103-110mA2mA

3.2 AC 性能指标(fIN=5MHz,-1dBFS 输入)

AC 性能参数最小值典型值最大值单位
信噪比(SNR)9293.9-dBFS
信号噪声失真比(SINAD)-93.3-dBFS
总谐波失真(THD)-71.5-80-dBc
二次谐波失真(HD2)77-84-dBc
三次谐波失真(HD2)73.5-84-dBc
无杂散动态范围(SFDR)110120-dB
三阶互调失真(IMD3)--88-dBc
模拟输入带宽(-3dB)-45(ADS9227)/90(其他)-MHz
孔径抖动(差分时钟)-0.8-psRMS

3.3 数字接口电气特性

接口类型参数名称测试条件最小值典型值最大值单位
LVDS 输出差分输出电压RL=100Ω200350500mVpp
LVDS 输出输出共模电压RL=100Ω0.881.11.32V
LVDS 输出上升 / 下降时间50Ω 传输线,20mm--600ps
CMOS 输入(CS/SCLK/SDI)低电平输入电压(VIL)--0.1-0.5V
CMOS 输入(CS/SCLK/SDI)高电平输入电压(VIH)-1.3-VDD_1V8V
CMOS 输出(SDO)低电平输出电压(VOL)IOL=200μA0-0.4V
CMOS 输出(SDO)高电平输出电压(VOH)IOH=200μA1.4-VDD_1V8V

四、寄存器配置体系

器件包含 3 个寄存器组(Bank 0/1/2),共定义数十个配置寄存器,关键寄存器功能分类如下:

4.1 Bank 0:基础配置寄存器

寄存器地址寄存器名称核心功能关键字段说明
0x00复位与 SPI 模式寄存器器件复位、SPI 模式选择- RESET(bit0):1b 时复位所有寄存器,自动清零- SPI_MODE(bit2):0b 为菊花链模式,1b 为传统模式- SPI_RD_EN(bit1):1b 时使能寄存器读(仅传统模式)
0x01菊花链长度寄存器配置 SPI 菊花链设备数量- DAISY_CHAIN_LEN(bit6-2):0=1 个 ADC,31=32 个 ADC
0x03寄存器组选择寄存器选择待操作的寄存器组- REG_BANK_SEL(bit7-0):0=Bank0,2=Bank1,16=Bank2
0x04初始化配置寄存器器件初始化控制- INIT_1(bit3-0):初始化时写 1011b,正常运行写 0000b

4.2 Bank 1:功能配置寄存器

寄存器地址寄存器名称核心功能关键字段说明
0x0D数据格式与平均控制寄存器数据格式选择、数据平均使能- DATA_FORMAT(bit13):0 = 二进制,1 = 二进制补码- OSR_EN(bit6):1b 使能数据平均- OSR(bit5-2):0=2 倍平均,3=16 倍平均- GE_CAL_EN1(bit7):1b 使能增益误差校准
0x12数据接口配置寄存器接口模式、数据异或使能- DATA_LANES(bit2-0):0=2 路 24 位,2=2 路 20 位,5=1 路 20 位,7=1 路 24 位- XOR_EN(bit3):1b 使能数据异或(降低地弹噪声)
0x13/0x18ADC A/B 测试模式寄存器测试图案控制- TP_EN_A/B(bit1):1b 使能测试模式- TP_MODE_A/B(bit3-2):0 = 固定模式,2 = 斜坡模式,3 = 交替模式- RAMP_INC_A/B(bit7-4):斜坡递增步长(N+1)
0x90/0x91温度传感器控制 / 数据寄存器温度数据读取- TS_LD(0x90 bit14):1b 触发温度数据加载- TEMPERATURE_SENSOR(0x91 bit9-0):10 位温度数据
0xC0时钟与电源控制寄存器时钟配置、通道掉电- OSR_INIT1(bit11-10):数据平均初始化- OSR_CLK(bit9-7):平均模式时钟配置- PD_CH(bit1-0):0 = 正常,1=ADC A 掉电,2=ADC B 掉电,3 = 双路掉电
0xC1基准与数据速率寄存器基准选择、数据速率- PD_REF(bit11):1b 禁用内部基准- DATA_RATE(bit8):0=DDR 模式,1=SDR 模式- CLK2(bit0):接口时钟配置
0xFBDDC 与异或模式寄存器DDC 使能、异或模式- MIXER_EN(bit0):1b 使能 DDC- XOR_MODE(bit2):0=PRBS 异或,1=LSB 异或- NCO_SYSREF(bit3):1b 支持 SMPL_SYNC 周期脉冲同步

五、应用设计与布局建议

5.1 典型应用场景

该系列 ADC 主要面向中高频高精度数据采集,具体场景包括:

  • 工业测试设备 :功率分析仪、源测量单元(SMU)、直流电源 / 交流源 / 电子负载。
  • 运动控制 :伺服驱动器位置反馈、 marine 设备(船用监测系统)。
  • 医疗与仪器 :需中高频信号采集的诊断设备(非直接人体接触类)。

5.1.1 不同带宽 DAQ 电路设计

应用场景输入带宽核心驱动器件关键参数电路特点
低频测量≤20kHzTHS4552(双通道全差分放大器)SNR≥92dB,THD≤-110dB放大器输出端串联 270pF 电容与 ADC 输入匹配,RFB=1kΩ(增益 1)或 4.02kΩ(增益 4),VCM 端接 ADC 的 VCMOUT 引脚
中频测量≤100kHzTHS4552SNR≥91dB,THD≤-110dB新增 47pF 补偿电容优化高频性能,ADC 输入端保留 270pF 匹配电容
高频测量≤1MHzTHS4541(850MHz 带宽全差分放大器)SNR≥80dB,THD≤-100dB添加 22pF 匹配电容与 50Ω 终端电阻,抑制高频反射,适配 ADC 90MHz 输入带宽

5.2 电源与布局设计要点

5.2.1 电源去耦设计

  • 供电体系 :需双电源供电,模拟电源(AVDD_5V)4.5-5.5V(ADS9227)、4.75-5.25V(其他型号),为 ADC 驱动供电;数字电源(VDD_1V8)1.75-1.85V,为 LVDS 接口与数字电路供电,无上电顺序要求。
  • 去耦配置 :AVDD_5V 与 VDD_1V8 引脚均需并联 1μF+0.1μF 陶瓷电容,且靠近引脚布局,避免过孔;REFIO 引脚外接 10μF 去耦电容,REFM 直接接地,降低基准噪声。

5.2.2 PCB 布局准则

  • 分区布局 :将模拟部分(AINx、REFIO、VCMOUT)与数字部分(LVDS 接口、SPI 接口)严格分区,模拟信号路径避免穿越数字区域,减少 EMI 干扰。
  • 差分对布线 :模拟输入(AINAP/AINAM、AINBP/AINBM)与 LVDS 差分对(如 DCLKP/DCLKM、DOUTAP/DOUTAM)需等长布线,长度差≤5mil,特性阻抗 100Ω,远离电源噪声源。
  • 接地处理 :暴露热焊盘(Thermal Pad)必须接地,GND 与 REFM 单点连接,采用独立接地平面;电源平面与接地平面紧密耦合,降低电源噪声。

六、封装与订购信息

6.1 封装规格

  • 封装类型 :40 引脚 VQFN(型号 RHA),尺寸 6mm×6mm,引脚间距 0.5mm,最大高度 1mm,暴露热焊盘(面积约 4.5mm×4.5mm)用于散热,热阻参数:RθJA=25.8°C/W,RθJB=7.5°C/W。
  • 焊接要求 :MSL 等级 3(260°C 峰值回流,168 小时湿敏存储),推荐焊盘直径 0.4mm,钢网厚度 0.125mm,热焊盘焊接覆盖率≥70%,确保散热效率。
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