10 位 AFE532A3W 和 8 位 AFE432A3W (AFEx32A3W) 是 3 通道、缓冲电压输出、电流输出和 ADC 输入、智能模拟前端 (AFE)。AFEx32A3W 支持用于激光二极管和微型电机线性控制的电流源。这些器件支持Hi-Z掉电模式和电压输出断电条件下的Hi-Z输出。通道1可配置为ADC、电压输出DAC或比较器。电压输出DAC提供力检测选项,用作可编程比较器和电流吸收器。多功能 GPIO、功能生成和可编程非易失性存储器 (NVM) 使这些智能 AFE 能够实现无处理器应用和设计重用。这些器件可自动检测 SPI 或 I2C 接口,并包含内部基准电压源。
*附件:afe432a3w.pdf
AFEx32A3W 功能集与微型封装和低功耗相结合,使这些智能 AFE 成为无源光网络 (PON) 和其他工业激光应用中激光二极管功率控制和电吸收调制激光器 (EML) 控制的绝佳选择。
特性
- 电流源DAC:
- 1LSB DNL
- 两个量程:300mA 和 220mA
- 770mV 动态余量
- 双电压输出DAC:
- 1LSB DNL
- 收益为 1 ×、1.5 ×、2 ×、3 ×和 4 ×
- 通道1上的ADC输入
- 通道1上的可编程比较器模式
- VDD关闭时的高阻抗输出
- 高阻抗和电阻下拉掉电模式
- 50MHz SPI 兼容接口
- 自动检测 I2C 或 SPI
- 通用输入/输出 (GPIO) 可配置为多种功能
- 预定义波形生成:正弦波、余弦波、三角波、锯齿波
- 用户可编程非易失性存储器 (NVM)
- 内部或电源作为参考
- 工作范围广:
- 电源:3V至5.5V
- 温度:–40°C 至 +125°C
参数

方框图

一、产品概述
AFE432A3W(8 位)与 AFE532A3W(10 位)是德州仪器推出的三通道智能模拟前端(AFE) ,核心优势在于多功能集成(电压输出、电流输出、ADC 输入)、低功耗(正常模式电流≤172μA)及小型化封装(16 引脚 DSBGA,1.76mm×1.76mm),专为光模块、激光控制、工业传感器等场景设计。通过可编程波形生成、非易失性存储器(NVM)及自动接口检测(I²C/SPI),实现无处理器独立运行,同时支持高压电流驱动(最大 300mA)与高精度信号采集,适配复杂模拟信号处理需求。
二、核心特性
(一)多通道多功能集成
- 通道配置 :3 个通道分工明确,通道 0 为固定电压输出 DAC,通道 1 可配置为电压输出 DAC / 比较器 / ADC 输入,通道 2 为固定电流输出 DAC(IDAC),支持单设备完成信号生成、检测与采集;
- 分辨率与线性度 :AFE532A3W(10 位)积分非线性(INL)最大 ±1.25LSB,微分非线性(DNL)最大 ±1LSB;AFE432A3W(8 位)INL 最大 ±1LSB,DNL 最大 ±1LSB,确保高精度信号转换;
- 输出能力 :电压输出范围 0~VDD(支持 1×/1.5×/2×/3×/4× 增益),电流输出支持 300mA(IOUT-GAIN=000b)与 220mA(IOUT-GAIN=001b)两档,最小输出电压裕量 770mV(300mA 输出时)。
(二)低功耗与宽工作范围
- 功耗优化 :正常模式下 VDD 电流典型 172μA(三通道使能),掉电模式(内部基准关闭)电流≤28μA,适配电池供电场景;
- 供电与温度 :单电源供电 3
5.5V(PVDD 与 VDD 短接),工作温度 - 40125°C,结温最高 150°C,满足工业级环境要求; - 关断特性 :VDD 关闭时输出自动进入高阻态(Hi-Z),泄漏电流≤500nA(VOUT≤5.5V),避免系统断电时信号干扰。
(三)智能功能与可靠性
- 波形生成与控制
- 支持正弦、余弦、三角波、锯齿波预定义波形,频率可通过步长(1
32LSB)与周期(4μs5.12ms / 步)编程调整; - 数字摆率控制:线性 / 对数摆率可选,线性摆率最小 4μs / 步,对数摆率按 3.125% 比例递增 / 递减,适配激光功率渐变等场景。
- 故障防护与存储
- 集成 NVM(擦写寿命 20000 次 @-40~85°C),支持寄存器配置参数永久存储,上电自动加载,避免重复配置;
- 故障检测:NVM 循环冗余校验(CRC)、过温保护(无自动热关断,需外部监控结温)、比较器窗口告警,FAULT 引脚可配置告警触发源;
- 防护功能:PROTECT 引脚触发时,输出可按预设逻辑(高阻 / 预设代码 / 摆率切换)切换,避免系统故障时器件损坏。
- 灵活接口与控制
- 自动接口检测:上电后自动识别 I²C(支持标准模式 100kbps / 快速模式 400kbps / 快速 + 模式 1Mbps)或 SPI(最高 50MHz),无需硬件配置;
- GPIO 多功能:可配置为 LDAC(加载 DAC 数据)、RESET(器件复位)、STATUS(状态输出)等 8 种功能,支持无通信接口时手动控制。
(四)高精度信号处理
- ADC 采集 :通道 1 可配置为 10 位 ADC,输入范围 0~VDD/3,采样率最高 2008SPS(4 次平均),INL 最大 ±2LSB,适配传感器信号采集;
- 比较器模式 :通道 1 支持可编程滞回(通过 MARGIN-HIGH/LOW 寄存器设置)、窗口比较器与锁存比较器,响应时间典型 10μs(推挽输出,25pF 负载);
- 噪声性能 :电压输出噪声(0.1~10Hz)典型 50μVpp(VDD=5.5V),电流输出噪声密度(1kHz)典型 159nA/√Hz,确保低噪声信号驱动。
三、器件信息与电气规格
(一)型号差异与封装
| 型号 | 分辨率 | 封装类型 | 引脚数 | 关键差异 |
|---|
| AFE432A3W | 8 位 | 16 引脚 DSBGA(YBH) | 16 | 电流输出增益误差最大 16.6% FSR,电压输出 INL±1LSB |
| AFE532A3W | 10 位 | 16 引脚 DSBGA(YBH) | 16 | 电流输出增益误差最大 16.6% FSR,电压输出 INL±1.25LSB,支持更高精度信号生成 |
(二)热学特性(16 引脚 DSBGA)
| 热参数 | 值 | 单位 |
|---|
| 结到环境热阻(RθJA) | 81.2 | °C/W |
| 结到顶部外壳热阻(RθJC (top)) | 0.3 | °C/W |
| 结到板热阻(RθJB) | 20.3 | °C/W |
| 结到顶部特征参数(ΨJT) | 0.2 | °C/W |
| 结到板特征参数(ΨJB) | 20.3 | °C/W |
(三)核心电气参数(TA=-40~125°C,VDD=3.3V)
| 参数 | AFE532A3W(10 位) | AFE432A3W(8 位) | 测试条件 |
|---|
| 电压输出 INL | ±1.25LSB | ±1LSB | VDD=5.5V,增益 = 1× |
| 电流输出 INL | ±1.25LSB | ±1LSB | IOUT=300mA,二极管负载 |
| 电压输出噪声(0.1~10Hz) | 50μVpp | 50μVpp | midscale,VDD=5.5V |
| 电流输出噪声密度(1kHz) | 159nA/√Hz | 159nA/√Hz | IOUT=100mA,电感负载 |
| ADC INL | ±2LSB | ±2LSB | 输入范围 0~VDD/3,4 次平均 |
| 电源抑制比(AC,50Hz) | -68dB | -68dB | 内部基准,增益 = 4× |
四、功能模块详解
(一)模拟输出模块
- 电压输出 DAC(通道 0/1)
- 参考源选择 :支持内部 1.21V 基准(温度系数 73ppm/°C,初始精度 ±0.36%)或 VDD 作为参考,内部基准需通过 COMMON-CONFIG 寄存器(0x1F)启用,VREFIO 引脚需并联 150nF 滤波电容;
- 增益配置 :通道 0 通过 DAC-0-GAIN-CONFIG 寄存器(0x0F)选择增益,通道 1 通过 DAC-1-GAIN-CMP-CONFIG 寄存器(0x15)选择,增益 = 1× 时参考为 VDD,增益≥1.5× 时强制使用内部基准;
- 输出特性 :输出阻抗典型 500kΩ(增益 = 1×),容性负载最大 1μF(CCOMP 引脚并联 470pF 补偿电容),短路电流典型 60mA(VDD=5.5V),具备短路保护。
- 电流输出 DAC(通道 2)
- 输出公式 :IOUT**=2NDA C _DATA ×GAIN**× 0.5241 (N 为分辨率,GAIN 为 IOUT-GAIN 设置),例如 AFE532A3W 输出 200mA 需配置 DAC_DATA=586d(0x24A);
- 负载适配 :支持二极管负载(激光二极管)与电感负载(电机),输出电流稳定度 ±0.5LSB/V(VDD 变化 3.5~4.5V 时),适合高精度电流驱动场景;
- 功耗控制 :输出电压裕量直接影响功耗,裕量 = PVDD-IOUT×R_LOAD,建议最小裕量 770mV 以避免结温过高(无自动热关断,需外部监控)。
(二)ADC 与比较器模块
- ADC 输入(通道 1)
- 配置流程 :需先将通道 1 配置为比较器(CMP-1-EN=1),FB1 引脚接 VDD 上拉,VOUT1/AIN1 为模拟输入,通过 ADC-CONFIG-TRIG 寄存器(0x1D)启用 ADC 并设置采样平均次数(4/8/16/32 次);
- 采集特性 :输入范围 0~VDD/3(内部基准增益 = 1× 时),数据率最高 2008SPS(4 次平均),偏移误差最大 ±5mV,增益误差最大 ±1% FSR,适配低幅度传感器信号采集;
- 数据读取 :触发 ADC 转换后,通过 ADC-DATA 寄存器(0x1E)读取结果,ADC-DRDY bit 置 1 表示数据有效。
- 比较器模式(通道 1)
- 工作模式 :支持无滞回(CMP-1-MODE=00b)、滞回(01b,通过 MARGIN-HIGH/LOW 设置阈值)、窗口比较(10b,检测输入是否在阈值范围内),输出可配置为推挽 / 开漏(CMP-1-OD-EN);
- 响应速度 :典型 10μs(输入阶跃 ±2LSB,推挽输出,25pF 负载),适合快速过压 / 欠压检测;
- 锁存功能 :当 MARGIN-HIGH = 满量程或 MARGIN-LOW = 零量程时,比较器输出锁存,需通过 RESET-CMP-FLAG-1 bit 复位,避免误触发。
(三)数字控制与存储模块
- NVM 与配置存储
- 存储内容 :支持寄存器配置(如增益、输出范围、GPIO 功能)存储至 NVM,上电后自动加载,掉电不丢失,擦写寿命 20000 次(-40~85°C)、1000 次(125°C);
- CRC 校验 :NVM 数据存储时自动生成 16 位 CRC(CRC-16-CCITT),上电时校验,NVM-CRC-FAIL-USER bit 置 1 表示用户数据损坏,需重新编程;
- 故障转储 :触发 FAULT-DUMP 后,自动保存 CMP-STATUS、DAC 数据、ADC 数据至 NVM,用于故障后溯源,通过 SRAM 寄存器读取转储数据。
- 波形生成与摆率控制
- 预定义波形 :支持三角波(频率 = 1/(2×TIME_STEP× 步长数))、锯齿波(频率 = 1/(TIME_STEP× 步长数))、正弦波(24 点 / 周期,频率 = 1/(24×TIME_STEP)),相位可配置 0°/90°/120°/240°;
- 摆率控制 :线性摆率步长 1
32LSB 可选,时间周期 4μs5.12ms / 步;对数摆率按 3.125% 比例变化,适合激光功率渐变、传感器校准等场景; - 同步控制 :多通道可通过 SYNC-CONFIG-x 寄存器配置同步更新,支持 LDAC 引脚或寄存器触发,避免通道间相位差。
- 接口与 GPIO 控制
- 自动接口检测 :上电后根据首个通信协议识别 I²C 或 SPI,I²C 支持 4 个地址(A0 引脚接 AGND/VDD/SDA/SCL),SPI 支持 3 线(默认)/4 线(SDO 通过 GPIO 启用),最高 50MHz 时钟;
- GPIO 多功能 :GPIO/SDO 引脚可配置为 8 种输入功能(如 PROTECT 触发、LDAC 控制、RESET)与 6 种输出功能(如 ADC-DRDY、DAC-BUSY),支持无通信接口时手动控制,例如配置为 PROTECT 输入,触发后输出切换至预设状态。
五、典型应用场景
(一)激光二极管(LD)驱动系统
- 应用架构 :AFE532A3W 通道 2(IDAC)输出 200mA 电流驱动激光二极管,通道 0(电压输出 DAC)通过反相运放生成 - 3.3~0V 电压,控制激光调制器(EAM);通道 1(ADC)采集光电二极管反馈信号(通过 RSENSE 电阻转换为电压),实现功率闭环控制;
- 关键配置 :启用内部基准(EN-INT-REF=1),IDAC 配置 IOUT-GAIN=000b(300mA 量程),DAC_DATA=586d(200mA);电压输出 DAC 增益 = 1×(VDD=3.3V),反相运放增益 - 1,实现 - 3.3V 输出;ADC 启用 4 次平均,采样率 1406SPS;
- 可靠性设计 :GPIO 配置为 PROTECT 输入,激光过流时触发,IDAC 切换至高阻态;NVM 存储配置参数,上电自动加载,避免重复初始化。
(二)工业传感器信号调理
- 应用架构 :传感器(如压力传感器)输出 0
1V 信号,经通道 1(ADC)采集(输入范围 01.1V,VDD=3.3V),通道 0 输出 0~3.3V 校准电压,补偿传感器漂移;通道 2 输出 100mA 电流为传感器供电,实现 “供电 - 采集 - 校准” 一体化; - 关键配置 :ADC 配置 16 次平均,降低噪声;电压输出 DAC 增益 = 3×(内部基准 1.21V,输出 0~3.63V),通过 MARGIN-HIGH/LOW 设置校准阈值;电流输出 IOUT-GAIN=001b(220mA 量程),DAC_DATA=384d(100mA);
- 低功耗优化 :空闲时通道 2 进入掉电模式(DAC-PDN-2=11b),电流降至 28μA,适配电池供电的便携式设备。
六、设计指南
(一)电源与去耦
- 电源布局 :VDD 与 PVDD 短接,采用低阻抗 PCB 走线(建议≥0.2mm 宽),靠近引脚放置 10μF 钽电容 + 0.1μF 陶瓷电容(X7R 材质),CAP 引脚(内部 LDO)并联 1.5μF 陶瓷电容,抑制电源噪声;
- 接地设计 :AGND(模拟地)与 PGND(功率地)单点连接至 VDD 地,DSBGA 封装热焊盘需连接 AGND,打 4 个 0.3mm 过孔(间距 1mm),增强散热与噪声隔离;
- 电压裕量 :电流输出时确保 PVDD≥IOUT×R_LOAD+770mV,例如驱动 200mA/10Ω 负载,PVDD 需≥200mA×10Ω+0.77V=2.77V,推荐使用 3.3V 供电。
(二)PCB 布局要点
- 信号隔离 :模拟信号(VOUT、AIN1、FB1)与数字信号(SCLK、SDI、SYNC)分开布局,间距≥0.5mm,避免数字噪声耦合;电流输出(IOUT)走线宽≥0.5mm(1oz 铜),减少线路压降;
- 反馈设计 :通道 1(比较器 / ADC)FB1 引脚走线短且直,避免寄生电容影响比较器响应速度;电压输出 DAC 的 FB1 引脚(通道 1)需短接至 VOUT1/AIN1,形成闭环,确保输出精度;
- 防护设计 :IOUT 引脚并联 TVS 管(如 SMBJ5.0CA),防护 ESD;ADC 输入引脚串联 1kΩ 电阻,限制输入电流,避免传感器故障时损坏器件。
(三)初始化配置流程
- 上电后等待 5ms(boot-up 时间,CAP 引脚 1.5μF 电容),通过 I²C/SPI 写入配置:
- 启用内部基准:COMMON-CONFIG 寄存器(0x1F)设置 EN-INT-REF=1;
- 配置通道 2(IDAC):DAC-2-GAIN-CONFIG(0x03)设置 IOUT-GAIN=000b,DAC-2-DATA(0x19)写入目标电流代码;
- 配置通道 0(电压输出):DAC-0-GAIN-CONFIG(0x0F)设置增益 = 1×,DAC-0-DATA(0x1B)写入目标电压代码;
- 配置通道 1(ADC):DAC-1-GAIN-CMP-CONFIG(0x15)设置 CMP-1-EN=1、REF-GAIN-1=001b,ADC-CONFIG-TRIG(0x1D)设置 ADC-EN=1、ADC-AVG=00b(4 次平均);
- 保存配置至 NVM:COMMON-TRIGGER 寄存器(0x20)设置 NVM-PROG=1,等待 200ms(NVM 编程时间);
- 验证配置:读取 GENERAL-STATUS 寄存器(0x22),确认 NVM-BUSY=0、DAC-BUSY=0,配置生效。