该ADC34RF55是一款单核 14 位、3GSPS、四通道模数转换器 (ADC),支持输入频率高达 3 GHz 的射频采样。该设计最大限度地提高了信噪比(SNR),并提供了-156 dBFS/Hz的噪声频谱密度。使用额外的内部ADC和片上信号平均,噪声密度提高到-158 dBFS/Hz。
每个ADC通道都可以使用支持相位相干跳频的48位NCO连接到双频数字下变频器(DDC)。使用GPIO引脚进行NCO频率控制,可以在不到1 μs的时间内实现跳频。
*附件:adc34rf55.pdf
这些器件支持具有子类 1 确定性延迟的 JESD204B 串行数据接口,数据速率高达 13Gbps。每个ADC通道只有2个serdes通道。因此,在旁路模式下,支持的最大输出数据速率为1.5GSPS。在片上使用更快的ADC采样率时,需要抽取。
高能效ADC架构功耗为1.2W/ch,并提供具有较低采样率的功率缩放。
特性
- 14位、四通道3GSPS ADC
- 最大输出速率:1.5-GSPS
- 噪声频谱密度:
- -156 dBFS/Hz,无平均值
- -158 dBFS/Hz,2 倍平均
- 单核(非交错)ADC架构
- 孔径抖动:50 fs
- 低近距离残余相位噪声:
- 频谱性能(f IN = 0.9 GHz,-4 dBFS):
- 2 倍内部平均
- 信噪比:62.3 dBFS
- SFDR HD2,3:63 dBc
- SFDR 最差杂散:85 dBFS
- 频谱性能(f IN = 1.8 GHz,-4 dBFS):
- 2 倍内部平均
- 信噪比:63 dBFS
- SFDR HD2,3:68 dBc
- SFDR 最差杂散:86 dBFS
- 输入满量程:1.1、1.35 Vpp (2、3.5 dBm)
- 代码错误率 (CER):10 -15
- 全功率输入带宽 (-3 dB):2.75 GHz
- JESD204B串行数据接口
- 最大通道速率:13 Gbps
- 支持子类 1 确定性延迟
- 数字下变频器
- 每个ADC通道最多两个DDC
- 复输出:4 倍至 128 倍抽取
- 48 位 NCO 相位相干跳频
- 快速跳频:< 1 μs
- 功耗:1.2 W/通道
- 电源:1.8 V、1.2 V
参数

方框图

一、产品概述
ADC34RF55 是德州仪器(TI)推出的四通道 14 位 3GSPS 射频采样模数转换器(ADC) ,专为高带宽、高动态范围的射频信号采集场景设计,如相控阵雷达、软件定义无线电(SDR)、频谱分析仪、高速数字化仪及电子战系统。器件采用非交错单核心 ADC 架构,集成数字下变频器(DDC)、48 位数控振荡器(NCO)与 JESD204B 高速串行接口,支持低噪声、低相位噪声的信号转换,同时具备灵活的功耗控制与多通道扩展能力,采用 64 引脚 VQFN 封装(RTD,9mm×9mm),工作温度范围 - 40~85°C,是射频信号链中的核心采样器件。
二、核心特性
(一)高采样速率与动态性能
- 采样与输出能力
- 最高采样速率 3GSPS,单通道最大输出速率 1.5GSPS,支持 4 通道同步采样,适配宽频段射频信号直接采样(覆盖 L 波段、S 波段);
- 14 位分辨率,噪声谱密度(NSD)低至 - 156dBFS/Hz(无平均)、-158dBFS/Hz(2 倍平均),有效位数(ENOB)典型值 9.7~10.0 位,确保弱信号检测精度;
- 全功率输入带宽 2.75GHz(-3dB),支持射频信号直接采样,无需额外下变频电路,简化系统架构。
- 低失真与相位噪声
- 高线性度:输入频率 0.9GHz 时,无杂散动态范围(SFDR)典型值 85dBFS,二次谐波(HD2)、三次谐波(HD3)抑制比分别达 63dBc、68dBc;
- 低抖动:孔径抖动仅 50fs,近载波残留相位噪声 - 127dBc/Hz(1kHz 偏移),避免时钟噪声对采样精度的影响;
- 支持模拟带外抖动(Dither)功能,可优化低幅度信号的谐波失真,进一步提升动态范围。
(二)集成化数字信号处理
- 数字下变频器(DDC)
- 每通道最多支持 2 个 DDC,复杂抽取比 4
128 倍可调,实抽取比 4128 倍可调,覆盖宽至 520MHz、窄至 9.375MHz 的瞬时带宽(IBW); - 抽取滤波特性:复杂抽取模式下通带带宽约 80%(-1dB),阻带抑制≥85dB,实抽取模式下通带带宽约 40%,可有效滤除镜像频率与噪声。
- 48 位数控振荡器(NCO)
- 支持相位连续与无限相位相干两种模式,相位相干模式下可通过 SYSREF 信号同步多器件频率,实现无相位跳变的快速跳频(<1μs);
- 频率分辨率高,支持 ±Fs/2 的频率调节范围,SFDR≥100dBc,每 NCO 可预存 4 个频率,通过 GPIO 或 SPI 快速切换,适配动态频率 hopping 场景。
(三)高速接口与同步能力
- JESD204B 串行接口
- 支持 JESD204B 子类 1(确定性延迟),最高通道速率 13Gbps,每 ADC 通道对应 2 路 SERDES 输出,8 路 lanes 可灵活分配,适配不同 FPGA / 处理器的接口能力;
- 支持多帧时钟(LMFS)配置,如 8-8-2-1、4-8-4-1 等模式,适配不同分辨率与抽取比的输出需求,帧组装支持 16 位 / 20 位输出(20 位模式用于高抽取比场景,避免量化噪声损失)。
- 系统同步
- 支持 SYSREF 外部同步输入,可 AC/DC 耦合,通过内部延迟监测电路确保 SYSREF 与采样时钟的相位对齐(±50ps 窗口),避免多器件同步偏差;
- 内置测试图案生成器(如 PRBS、斜坡、交替图案),支持链路调试与抖动测试,无需外部信号源即可验证 JESD204B 接口完整性。
(四)可靠性与功耗控制
- 热管理与校准
- 内置前台校准(Foreground Calibration):通过额外校准 ADC 核心,补偿温度漂移对线性度的影响,校准时间约 23ms×3GSPS/Fs(每 ADC 对),支持 SPI 或 GPIO 触发,确保宽温范围内性能稳定;
- 热阻特性:结到环境热阻(RθJA)20.1°C/W,结到板热阻(RθJB)5.2°C/W,底部散热焊盘需与 PCB 铜皮紧密连接,确保高功率下的散热效率。
- 多功耗模式
- 功耗范围 1.2W / 通道(3GSPS),支持功率缩放(采样速率降低时功耗同步下降),睡眠模式功耗仅 190mW,适配电池供电的便携式设备;
- 可关闭未使用的 SERDES lane 或 DDC 模块,进一步优化功耗,如禁用 2 路 lanes 时功耗降低约 15%。
三、器件信息与电气规格
(一)基本参数与封装
| 参数 | 规格 |
|---|
| 通道数量 | 4 个独立差分输入通道 |
| 分辨率 | 14 位 |
| 最高采样速率 | 3GSPS |
| 输出接口 | JESD204B(8 路 SERDES,最高 13Gbps/lane) |
| 输入带宽(-3dB) | 2.75GHz |
| 电源电压 | AVDD18(1.751.85V)、AVDD12/CLKVDD/DVDD(1.1751.225V) |
| 封装类型 | 64 引脚 VQFN(RTD,9mm×9mm,0.9mm 最大高度) |
| 工作温度 | –40~85°C |
| ESD 防护 | 人体放电模型(HBM)±1000V,带电器件模型(CDM)±500V |
(二)关键电气特性(TA=25°C,VDD=1.8V/1.2V,Fs=3GSPS)
| 参数 | 测试条件 | 典型值 | 单位 |
|---|
| 噪声谱密度(NSD) | fIN=0.9GHz,AIN=-20dBFS,2 倍平均 | –157.3 | dBFS/Hz |
| 信噪比(SNR) | fIN=0.9GHz,无平均 | 60.9 | dBFS |
| 无杂散动态范围(SFDR) | fIN=1.8GHz,4 倍抽取 | 86 | dBFS |
| 总谐波失真(THD) | fIN=1.8GHz,1 倍平均 | 69 | dBc |
| 输入满量程(FS) | 差分,100Ω 端接 | 1.1/1.35 | Vpp(对应 2/3.5dBm) |
| 代码错误率(CER) | – | 10⁻¹⁵ | – |
四、功能模块详解
(一)模拟输入与采样电路
- 输入接口设计
- 每通道差分输入(INxP/INxM)内置 100Ω 差分端接,支持 AC 耦合(推荐 100pF 电容),输入共模电压(VCM)典型值 350mV,需通过外部 balun 实现单端 - 差分转换(推荐 Marki BAL-0009SMG、Mini-Circuits TCM2-43X + 等 balun,幅度平衡 < 0.7dB,相位平衡 < 5°);
- 支持 2 倍内部平均模式:通过 2 个 ADC 核心并行采样后平均,噪声谱密度改善 2dB,同时输入满量程提升至 1.35Vpp,适配高幅度信号。
- 过范围检测(OVR)
- 支持 GPIO 引脚或 JESD204B 数据流两种过范围指示方式:GPIO 方式响应时间约 6 个时钟周期,JESD 方式替换输出数据的 LSB,实时反馈输入信号是否超出满量程;
- 过范围标志可配置为 “粘性”(需 SPI 清除)或 “自清除”,适配不同系统的故障处理逻辑。
(二)数字下变频器(DDC)与 NCO
- DDC 功能与抽取比
- 每通道最多 2 个 DDC,支持单频段 / 双频段模式:单频段模式最高 4 倍复杂抽取,双频段模式最高 128 倍复杂抽取,输出带宽可灵活配置(如 3GSPS 采样 + 128 倍抽取时,输出带宽 18.75MHz);
- 抽取滤波采用 FIR 结构,通带纹波小(典型值 < 0.1dB),阻带抑制≥85dB,有效滤除抽样噪声与镜像频率,无需外部滤波电路。
- NCO 与频率跳变
- 48 位 NCO 支持相位相干频率跳变,跳变时间 < 1μs(取决于抽取比:4 倍抽取约 350ns,128 倍抽取约 4μs),适配动态频率 agile 场景;
- 频率编程灵活:支持 SPI 直接写入 48 位频率值,或通过 GPIO 快速选择预存的 4 个频率(每 NCO),相位连续性误差 < 0.01°,确保跳频时信号相位无突变。
(三)JESD204B 接口与同步
- 接口配置
- 支持 8 路 SERDES lane,每 lane 最高速率 13Gbps,支持帧组装参数(LMFS)灵活配置,如 8-8-2-1(8 lanes、8 帧 / 多帧、2 字节 / 帧、1 个转换器)、4-8-4-1 等,适配不同 FPGA 的 lane 数量与速率限制;
- 支持链路层测试图案(如 PRBS7/15/23/31、K28.5 码型)与传输层测试图案(斜坡、交替图案),便于链路误码率测试与信号完整性验证。
- 系统同步
- SYSREF 输入支持 DC/AC 耦合,内部 100Ω 端接,通过 SYSREF 窗口监测电路(±50ps 捕获窗口)确保多器件同步,同步误差 < 16ps;
- 支持确定性延迟(子类 1),延迟可通过寄存器配置(如 8 倍抽取时约 506 个 ADC 时钟周期),适配多通道相位对齐场景(如相控阵雷达的多通道波束成形)。
(四)校准与功耗控制
- 前台校准
- 内置温度补偿校准:通过额外校准 ADC 核心,补偿积分非线性(INL)、微分非线性(DNL)与增益误差,校准后 INL±2LSB(14 位),增益误差 ±3% FSR;
- 校准触发方式:SPI 命令触发(单次 / 连续)或 GPIO 触发(低电平触发),校准状态可通过寄存器 0x298 读取(0x0E 表示校准成功),确保校准过程可监控。
- 功耗管理
- 多功耗模式:正常模式(1.2W / 通道 @3GSPS)、睡眠模式(190mW)、部分模块关断(如禁用未使用的 DDC、SERDES lane);
- 电源域分离:模拟电源(AVDD18/AVDD12)、时钟电源(CLKVDD)、数字电源(DVDD)独立供电,避免数字开关噪声耦合至模拟域,CLKVDD 需额外使用低噪声 LDO(如 TPS7A8400),进一步降低时钟噪声。
五、典型应用与设计指南
(一)典型应用场景:宽带射频采样接收机
- 应用架构
- 信号路径:射频信号(如 0.5~2.7GHz)→ 带通滤波器(BPF)→ balun(单端转差分)→ ADC34RF55 输入(INxP/INxM)→ 内部 DDC 抽取→ JESD204B 输出→ FPGA(如 Xilinx UltraScale+);
- 时钟与同步:采用 LMK04832 时钟发生器,提供 3GSPS 低抖动采样时钟(<50fs)与 SYSREF 同步信号,确保多 ADC 通道同步;
- 电源方案:5V 输入→ 开关电源(如 LMS3635)→ 低噪声 LDO(AVDD18 用 TPS7A8400,AVDD12/CLKVDD/DVDD 用 TPS7A70),每电源引脚就近并联 0.1μF 陶瓷电容 + 10μF 钽电容,降低电源噪声。
- 关键配置参数
- 采样时钟:3GSPS,差分 1.0Vpp,50% 占空比,时钟源相位噪声 <-140dBc/Hz(1kHz 偏移);
- DDC 配置:2 倍平均、8 倍复杂抽取,输出带宽 187.5MHz,NCO 频率 900MHz(将输入信号下变频至基带);
- JESD204B:LMFS=8-8-2-1,8 路 lane,每 lane 速率 6.25Gbps,确定性延迟约 506 个 ADC 时钟周期。
(二)PCB 设计与布局
- 关键信号布局
- 模拟输入与时钟:采用 100Ω 差分走线,长度匹配误差 < 1mm,远离数字信号(如 JESD204B lane),避免串扰;差分对间距 2~3 倍线宽,减少耦合噪声;
- JESD204B lane:采用 100Ω 紧密耦合差分走线,长度匹配误差 < 5mm,使用阻抗控制板(阻抗偏差 ±10%),每 lane 串联 0.1μF AC 耦合电容(靠近 FPGA 端)。
- 电源与接地
- 电源域隔离:模拟地(AGND)、数字地(DGND)、时钟地(CLKGND)单点连接至散热焊盘,避免地弹噪声;电源平面分割,AVDD18/AVDD12/CLKVDD/DVDD 独立平面,平面间间距≥0.5mm;
- 散热设计:底部散热焊盘(Thermal Pad)需连接≥20mm² 铜皮,打 4 个 0.3mm 过孔至内层地平面,确保 3GSPS 满负荷工作时结温 < 105°C。
(三)初始化与校准流程
- 上电时序
- 先上电 DVDD(1.2V),再上电 AVDD12、CLKVDD(1.2V),最后上电 AVDD18(1.8V),避免电源时序错误导致器件损坏;
- 上电后拉低 RESET 引脚(≥10ns),释放后加载默认寄存器配置,等待 5ms 后开始 SPI 配置。
- 核心配置步骤
- 复位与模式配置 :写入寄存器 0x00 触发软件复位,配置数字页面(0x05=0x02),设置 2 倍平均、8 倍复杂抽取、OVR 指示方式;
- JESD204B 配置 :选择 JESD 页面(0x05=0x04),配置 LMFS 模式(如 0x22=0x08,对应 8-8-2-1)、SERDES lane 使能(0x28=0xFF)、PLL 参数(0x9F=0x11);
- SYSREF 同步 :配置 SYSREF 输入(0x236=0x03),发送 SYSREF 脉冲(≥50ps 宽度),确保多器件同步;
- NCO 配置 :写入 48 位 NCO 频率(如 0x100~0x105),加载 NCO(0x181=0x30),触发频率跳变;
- 校准 :选择校准页面(0x05=0x20),触发前台校准(0x45=0x8A),等待校准完成(寄存器 0x298=0x0E)。