DAC539E4W是10位智能数模转换器(DAC),具有四通道可编程比较器输入和四通道通用输出。查找表将比较器输入映射到 GPO。该DAC539E4W还支持可编程延迟,以允许输入转换稳定。这些设备提供用于存储配置的 NVM。这种智能 DAC 无需使用 LUT 和 NVM 的处理器(无处理器作)即可运行。
该器件具有自动检测的SPI和I2C接口以及内部基准电压源。该智能DAC的功能集与小巧的封装和低功耗相结合,是故障管理应用的绝佳选择。
*附件:dac539e4w.pdf
特性
- 四通道比较器输入
- 10位独立比较器阈值
- 1 LSB DNL
- 收益为 1 ×、1.5 ×、2 ×、3 ×和 4 ×
- 四通道通用输出 (GPO)
- 基于查找表 (LUT) 的比较器到 GPO 映射
- 自动检测 SPI 和 I2C 接口
- MODE 引脚,用于在编程和独立模式之间进行选择
- 用户可编程非易失性存储器 (NVM)
- 参考:内部、外部、VDD
- 工作范围广
- 电源:1.8V 至 5.5V
- 温度:–40°C 至 +125°C
- 小包装:
- 16 引脚 DSBGA:1.76mm × 1.76mm,标称值
参数

方框图

DAC539E4W 是德州仪器(Texas Instruments)推出的 10 位智能数模转换器(DAC),主打多通道比较器、查找表(LUT)驱动的独立故障管理功能,支持自动检测 I²C/SPI 接口,适配低功耗、小尺寸需求的工业与消费电子场景。其核心优势在于无需处理器即可实现故障监测与输出控制,结合高集成度与宽环境适应性,成为无线电动工具、扫地机器人、空气净化器等设备的理想选择。以下从核心特性、性能参数、功能模块、应用设计及使用信息等方面展开总结。
一、核心特性与产品定位
1. 基础参数与架构
- 分辨率与通道配置 :10 位分辨率,4 路独立阈值 DAC 与 4 路比较器输入(AIN0-AIN3),4 路通用输出(GPO0-GPO3),支持比较器输出到 GPO 的 LUT 映射,实现自定义故障响应逻辑。
- 低功耗与宽电压 :工作电压 1.8V-5.5V,静态电流典型值 170μA(睡眠模式低至 28μA),掉电模式功耗仅 190mW;内部集成低压差稳压器(LDO),CAP 引脚需外接 1.5μF 旁路电容保障稳定性。
- 高集成度 :内置 1.21V 高精度电压基准(温度漂移最大 50ppm/°C)、1.2288MHz 内部振荡器(时钟可输出)、非易失性存储器(NVM),支持配置参数掉电保存,减少外部元器件数量。
2. 环境适应性与可靠性
- 工作温度 :-40°C 至 125°C(结温最高 150°C),满足工业级宽温需求,适配恶劣环境下的故障监测。
- ESD 防护 :人体放电模型(HBM)±2000V,带电器件模型(CDM)±500V,符合 JEDEC 抗静电标准,降低装配与使用过程中的损坏风险。
- 封装规格 :16 引脚 DSBGA(YBH 封装),尺寸仅 1.76mm×1.76mm,最大高度 0.4mm,底部无引脚(球栅阵列),适配高密度 PCB 布局,尤其适合空间受限的消费电子设备。
二、关键性能指标
1. 阈值 DAC 静态性能(典型值,TA=25°C,VDD=5.5V,增益 = 1×)
| 性能参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|
| 积分非线性(INL) | 全量程,代码 8d-1016d | -1.25 | - | 1.25 | LSB |
| 微分非线性(DNL) | 全量程,无失码 | -1 | - | 1 | LSB |
| 总未调整误差(TUE) | -40°C 至 125°C,相对于满量程(FSR) | -0.5 | - | 0.5 | %FSR |
| 偏移误差温度系数 | AINx 与 OUTx 短接,代码 8d | - | ±0.0003 | - | %FSR/°C |
| 增益误差温度系数 | 代码 8d-1016d | - | ±0.0008 | - | %FSR/°C |
| 输出阻抗(ZO) | 内部基准,增益 = 1.5×/2× | 400 | 500 | 600 | kΩ |
2. 比较器与动态性能
- 比较器偏移误差 :±6mV(TA=25°C,外部基准),10 年漂移典型值 4mV,保障长期监测精度。
- 响应时间 :10μs(10%-90% 输出跳变,25pF 负载,推挽模式),快速捕捉故障信号。
- 输入范围 :高阻模式下为 VREF/3,有限阻抗模式下为全量程(0-VREF× 增益),适配不同电压监测场景。
三、核心功能模块
1. 阈值 DAC 与比较器
- 阈值配置 :每路 DAC 支持独立增益(1×、1.5×、2×、3×、4×)与参考选择(VDD、内部 1.21V、外部 MODE 引脚),通过 DAC-x-DATA 寄存器设置阈值电压,计算公式如下:
- 以 VDD 为参考:VTHLD**=210DA C _DATA ×VDD**
- 以内部基准为参考:
- 比较器模式 :支持无滞回、可编程滞回(通过 DAC-x-MARGIN-HIGH/LOW 配置)、锁存模式,输出可配置为推挽 / 开漏(CMP-x-OD-EN)、是否反相(CMP-x-INV-EN),满足不同负载与逻辑电平需求。
2. 查找表(LUT)与故障管理
- LUT 映射 :16 组 LUT 配置(LUT-0-DATA 至 LUT-15-DATA),将 4 路比较器输出(2⁴=16 种组合)映射为 4 路 GPO 输出,支持自定义故障响应(如告警、停机、切换模式),配置参数可存储于 NVM,掉电不丢失。
- 可编程延迟 :通过 LOOP-WAIT 寄存器设置比较器输出到 GPO 的延迟(范围 0.078μs-41ms),公式为DELAYTI ME = 25.6 ×1062LOOP** REFRESH**+1,避免输入信号跳变导致的误触发。
3. 数字接口与 NVM
- 自动接口检测 :4 路 GPO 引脚复用为通信接口,上电后自动识别 I²C 或 SPI 协议,无需硬件配置:
- I²C 模式:支持标准模式(100kHz)、快速模式(400kHz)、快速模式 +(1MHz),A0 引脚可配置 4 种地址(AGND/VDD/SDA/SCL)。
- SPI 模式:3 线(默认)/4 线(SDO 使能),最高时钟 50MHz(写操作)、2.5MHz(读操作),支持菊花链级联多器件。
- NVM 与配置安全 :NVM 支持 20000 次擦写(85°C)、50 年数据 retention,配置写入时自动生成 16 位 CRC(CRC-16-CCITT)校验,检测数据损坏;寄存器锁定功能(DEV-LOCK)防止误写,需通过解锁码(0101b)解除锁定。
四、电源与功耗
1. 电源需求
| 电源类型 | 电压范围(MIN-NOM-MAX) | 典型电流(TA=25°C,VDD=3.3V) | 单位 |
|---|
| VDD(主电源) | 1.8-3.3-5.5V | 170(正常模式)/28(睡眠模式) | μA |
| IOV(数字接口) | 1.71-3.3-5.5V | 6 | μA |
| VREF(基准) | 1.21V(固定,内部) | 10 | μA |
2. 功耗分布
- 正常模式 :总功耗约 0.56mW(VDD=3.3V,4 路 DAC 使能),开启比较器与 LUT 后增至 1.53mW。
- 睡眠模式 :内部基准关闭,外部基准 5.5V 时功耗 28μA,适合设备待机时的低功耗监测。
五、应用设计要点
1. 电源与基准设计
- 供电架构 :VDD 推荐使用线性稳压器(如 TPS7A02)或低噪声 DC/DC(如 TPS62803),避免开关噪声耦合至模拟信号;CAP 引脚需靠近器件放置 1.5μF X7R 陶瓷电容,保障 LDO 输出稳定。
- 基准选择 :优先使用内部 1.21V 基准(需设置 EN-INT-REF=1),若需更高精度可外接 1.8V-VDD 范围的外部基准(MODE 引脚),注意外部基准需在 VDD 稳定后上电,避免损坏器件。
2. PCB 布局
- 信号分区 :将模拟信号(AIN0-AIN3、OUT0-OUT3)与数字信号(GPO、通信引脚)分开布线,模拟地(AGND)与数字地单点连接,减少串扰;VDD 引脚旁放置 0.1μF 去耦电容,CAP 引脚电容需直接连接 AGND。
- 封装焊接 :DSBGA 封装需采用激光钢网(厚度 0.075mm),焊盘直径 0.2mm,焊接后需检查焊点完整性,避免虚焊导致的基准漂移或通信故障。
3. 初始化与配置
- 模式切换 :通过 MODE 引脚选择工作模式:
- 编程模式(MODE 拉低):配置 NVM 参数、LUT 映射、比较器阈值,支持 I²C/SPI 接口自动检测。
- 独立模式(MODE 拉高):无需处理器,根据 NVM 配置自动运行,比较器监测 AIN 输入,LUT 驱动 GPO 输出故障响应。
- 关键寄存器配置 :
- 比较器使能:设置 DAC-x-VOUT-CMP-CONFIG 寄存器的 CMP-x-EN=1,配置输出模式(推挽 / 开漏)与输入阻抗(高阻 / 有限阻抗)。
- LUT 配置:通过 SRAM 写入 LUT-x-DATA 寄存器(共 16 组),定义比较器输入组合对应的 GPO 输出状态(如 0b0011 表示两路故障告警)。
- NVM 保存:配置完成后,设置 COMMON-TRIGGER 寄存器的 NVM-PROG=1,将参数写入 NVM,掉电后自动加载。