该DDC3256是一款 24 位、256 通道、电流输入模数 (A/D) 转换器。它结合了通过电流积分进行的电流到电压转换和 A/D 转换。
多达 256 个单独的低电平电流输出设备(例如光电二极管)可以直接连接到其输入并并行(同时)数字化。
*附件:ddc3256.pdf
对于 256 个输入中的每一个,该器件都有一个低噪声和低功耗积分器,旨在捕获来自传感器的所有电荷。积分时间可在 50 μs 至 1.6 ms 之间调节,允许以出色的精度连续测量 fA 至 μA 量级的电流。积分器的输出由片内低功耗ADC数字化,转换后的数字代码通过单个LVDS对传输,旨在最大限度地减少高通道数环境中的噪声耦合。
该DDC3256采用1.85V单电源供电。该器件的工作额定温度范围为 0°C 至 70°C,采用 13.2 × 17.2 mm 2 336 焊球 0.8 mm 间距 BGA 封装。片内基准电压缓冲器和旁路电容器(在BGA上)有助于最大限度地减少外部元件要求,并进一步减少电路板空间。
特性
- 单芯片解决方案,可直接同时测量 256 个低电平电流
- 可调节的满量程充电范围高达 320 pC
- 输入电流:1 μA(最大值)
- 可调速度,积分时间低至 50 μs(每通道 20 KSPS)
- 分辨率:24 位
- 低功耗:1.2 mW/通道
- 积分非线性度:读数的 ±0.025% ±满量程范围的 1 ppm(所有通道均处于活动状态)
- 低噪声:320 pC FSR 时为 0.26 fCrms,传感器电容为 20 pF
- 无电荷损失
- 片上温度传感器
- 串行LVDS输出接口
- 1.85V 单电源
- 封装内旁路电容和基准电压缓冲器,可减少PCB面积和设计复杂性
参数

方框图

DDC3256 是德州仪器(Texas Instruments)推出的 高集成度 256 通道电流输入模数转换器(ADC) ,专为多通道低电平电流同步采集场景设计,通过集成电流积分与 ADC 转换功能,实现对光电二极管、X 射线探测器等器件输出电流的高精度数字化,适用于 CT 扫描仪、X 射线检测、光纤功率监测等对通道密度与采集精度要求严苛的领域。以下从核心特性、性能参数、功能架构、应用设计及订购信息等方面展开总结。
一、核心特性与产品定位
1. 基础参数与架构
- 通道与转换架构 :
- 通道数量:256 路并行电流输入(IN [255:0]),支持同时采集 256 个低电平电流信号,无需外部多路复用器,减少信号延迟与失真。
- 转换原理:采用电流积分 + 内置 ADC架构,每通道独立低噪声积分器捕获传感器电荷,积分输出直接由片内 ADC 数字化,避免外部信号调理电路引入的误差。
- 分辨率与速率:24 位分辨率,积分时间可配置(50μs-1.6ms),对应每通道采样率 20KSPS(50μs 积分)至 625SPS(1.6ms 积分),适配从高速动态信号到低速高精度信号的采集需求。
- 输入与电荷范围 :
- 输入电流:最大 1μA,支持飞安(fA)级至微安(μA)级电流测量,兼容光电二极管、电流输出传感器等低电流器件。
- 满量程电荷(FSR):可调至 320pC,配合 20pF 传感器电容时噪声仅 0.26fC_rms,保障微弱电荷信号的高精度转换。
- 供电与封装 :
- 供电:单 1.85V 电源(AVDD_1V85),每通道功耗仅 1.2mW,总功耗低至 307.2mW(256 通道全激活),适配低功耗系统。
- 封装:336 引脚 NFBGA(17.2mm×13.2mm,0.8mm 引脚间距),内置旁路电容(5 个 1μF)与基准缓冲器,减少外部元器件数量,节省 PCB 面积;工作温度范围 0°C 至 70°C,满足工业与医疗设备常温工况需求。
- 接口与同步 :
- 数据接口:串行 LVDS 接口(DOUTP/DOUTM),单对差分线传输 256 通道数字码,降低多通道布线复杂度与噪声耦合,适配高通道密度系统的信号传输需求。
- 控制接口:SPI 接口(SEN/SCLK/SDATA/SDOUT),用于配置积分时间、满量程范围等参数,支持灵活调整采集模式。
2. 典型应用场景
- 医疗影像 :CT 扫描仪数据采集系统,256 通道同步采集探测器阵列输出电流,高分辨率与低噪声保障断层图像清晰度。
- 射线检测 :X 射线检测系统,适配多像素 X 射线探测器,实时捕获射线强度对应的电流信号,实现高精度剂量测量与成像。
- 光学监测 :光纤功率监测、光电二极管阵列应用,256 通道并行采集光功率对应的电流信号,支持大规模光学阵列的同步监测。
- 工业仪器 :多通道电流 / 电压测量仪器,无需外部调理电路即可直接接入多个电流输出传感器,简化多参数监测系统设计。
二、关键性能指标
1. 核心电气性能(典型值,0°C 至 70°C,AVDD=1.85V)
| 性能参数 | 测试条件 | 典型值 / 范围 | 单位 |
|---|
| 动态与精度性能 | | | |
| 分辨率 | 无失码设计 | 24 Bits | |
| 积分非线性(INL) | 全通道激活,任意通道读数 | ±0.025% 读数 ±1ppm 满量程 | |
| 噪声水平 | 320pC 满量程,20pF 传感器电容 | 0.26 fC_rms | |
| 电荷损失 | 积分与转换过程中 | 无 | - |
| 输入与积分特性 | | | |
| 最大输入电流 | 连续输入 | 1 μA | |
| 满量程电荷(FSR) | 可调范围 | 0-320 pC | |
| 积分时间 | 配置范围 | 50 μs-1.6 ms | |
| 每通道采样率 | 对应积分时间 | 625 SPS-20 KSPS | |
| 供电与功耗 | | | |
| 供电电压 | 模拟 / 数字统一供电 | 1.85 V | |
| 每通道功耗 | 全激活状态 | 1.2 mW | |
| 总功耗 | 256 通道全激活 | 307.2 mW | |
| 辅助功能 | | | |
| 温度监测 | 片内温度传感器 | 支持 | - |
| 基准电压 | 内置 1.25V 低噪声基准 + 缓冲器 | 1.25 V | |
三、核心功能架构
1. 模拟前端与积分系统
(1)通道级积分器
- 每通道独立设计 :
- 低噪声积分器:256 个独立积分器,每个积分器优化输入噪声与偏移,支持捕获传感器输出的微弱电荷,积分电容与反馈电阻参数匹配,保障 256 通道一致性。
- 电荷保持:积分过程中无电荷损失,确保积分结果准确反映输入电流的累积量,尤其适配低速长时间积分场景(如 1.6ms 积分时间的高精度测量)。
- 积分时间配置 :
- 通过 SPI 接口配置积分控制寄存器,调整积分周期(50μs-1.6ms),实现采样率与精度的权衡 —— 短积分时间(50μs)适配高速动态信号,长积分时间(1.6ms)提升电荷采集量,降低噪声影响。
(2)片内 ADC 与数据传输
- ADC 与多路复用 :
- 内置 ADC:片内集成低功耗 ADC(ADC [1:0]),配合 256:2 多路复用器(MUX),对 256 通道积分输出依次数字化,24 位分辨率确保积分结果的高精度转换。
- 数据序列化:ADC 输出数字码经 LVDS 序列化模块处理后,通过单对 LVDS 差分线(DOUTP/DOUTM)传输,减少 PCB 布线数量(仅需 2 根线传输 256 通道数据),降低电磁干扰(EMI)。
- 时钟与同步 :
- 时序生成(TG):片内时序发生器提供积分控制(CONVP/CONVM)、主时钟(MCLKP/MCLKM)、数据时钟(DCLKP/DCLKM)等信号,确保积分、ADC 转换、数据传输的同步,无需外部时序控制器。
2. 辅助功能与系统集成
(1)基准与电源管理
- 基准电路 :
- 内置 1.25V 低噪声电压基准,配合基准缓冲器(VREF BUFFER),为积分器与 ADC 提供稳定参考电压,减少外部基准引入的噪声与漂移。
- 片内 LDO:集成低噪声低压差稳压器(LDO),优化电源噪声抑制,保障模拟电路供电稳定性,尤其适配 1.85V 单电源系统。
- 旁路电容 :
- BGA 封装内置 5 个 1μF 旁路电容,直接并接于模拟电源(AVDD_1V85)与地之间,无需外部大容量电容,节省 PCB 面积并提升电源噪声抑制能力。
(2)监测与测试功能
- 温度监测 :片内集成温度传感器,可实时采集器件温度,用于温度漂移补偿或系统热管理,提升宽温环境下的测量精度。
- 测试点(TP) :提供测试点(如 DIG_TP、TP_SEL)与测试电压输入(VTESTC),支持生产测试与系统调试,验证通道功能与性能一致性。
四、应用设计要点
1. 电源与布局设计
- 供电配置 :
- 电源滤波:AVDD_1V85 引脚需外接 0.1μF 陶瓷电容(靠近引脚),配合片内内置电容,进一步抑制电源噪声;电源路径采用宽铜皮(≥0.5mm),降低压降。
- 接地设计:模拟地(AGND)与数字地(QGND)采用 “星形单点连接”,避免地环流;积分器与 ADC 区域铺完整地平面,减少外部噪声耦合。
- 布局原则 :
- 输入路径:电流输入引脚(IN [255:0])与传感器之间采用短路径、低阻抗布线(铜皮宽度≥0.2mm),避免寄生电阻 / 电容影响电流采集;输入路径远离数字信号线(如 SPI、LVDS),减少串扰。
- LVDS 链路:DOUTP/DOUTM 差分对采用等长布线(长度差≤0.5mm),阻抗控制 50Ω,远离电源迹线与高频时钟线,降低 EMI 干扰。
- 散热设计:336 引脚 BGA 底部热焊盘需与 PCB 地平面良好焊接,配合散热过孔,确保 256 通道全激活时的热量有效散出,避免结温过高影响性能。
2. 接口与配置设计
- SPI 控制接口 :
- 引脚连接:SEN(片选)、SCLK(时钟)、SDATA(数据输入)、SDOUT(数据输出)需配置上拉电阻(1kΩ-10kΩ 至 1.85V),确保空闲状态稳定;时钟频率建议不超过 10MHz,避免高频噪声影响模拟电路。
- 核心配置:通过 SPI 写入寄存器配置积分时间(如 50μs 对应 20KSPS 采样率)、满量程电荷(如 320pC),读取通道转换数据与温度传感器值,实现系统动态调整采集参数。
- LVDS 数据接口 :
- 接收端匹配:LVDS 输出(DOUTP/DOUTM)需在 FPGA / 处理器接收端并联 100Ω 差分匹配电阻,减少信号反射;传输距离建议≤10cm(板级),如需长距离传输需增加 LVDS 中继器。