选型手册:MOT65R380D 系列 N 沟道超级结功率 MOSFET 晶体管

描述

仁懋电子(MOT)推出的 MOT65R380D 是一款面向高压功率转换场景的 N 沟道超级结功率 MOSFET,凭借 650V 耐压、低导通损耗及高鲁棒性,广泛适用于功率因数校正(PFC)、开关模式电源(SMPS)、不间断电源(UPS)等领域。以下从品牌定位、器件特性、电气参数等维度展开详细说明。

一、品牌背景:仁懋电子(MOT)与高压超级结功率半导体布局

仁懋电子(MOT)深耕高压功率半导体器件研发,在超级结 MOSFET 领域具备技术积累,产品以 “高耐压、低损耗、高可靠性” 为核心优势,服务于工业电源、能源转换、电力电子等场景。MOT65R380 系列作为其高压超级结产品线的代表型号,针对 650V 级功率转换场景优化了导通电阻与开关特性,在 PFC 拓扑、高压直流转换等场景中表现突出。

二、MOT65R380D 基本信息

MOT65R380D 为N 沟道超级结功率 MOSFET,核心定位 “650V 级高压高效功率开关器件”,适配 650V 系统的功率控制需求(如 PFC 电路、开关电源等)。其核心特性包括:

  • 电压适配:漏源极耐压(VDS)达 650V,兼容高压供电系统;
  • 电流能力:25℃ 下连续漏极电流(ID)为 11A,脉冲漏极电流(IDpk)达 22A(Tc=25℃)、15A(Tc=100℃),满足负载瞬间启动与持续工作需求;
  • 导通损耗:栅源电压(VGS=10V)下导通电阻(RDS (on))典型值为 0.38Ω,高压场景下平衡损耗与成本;
  • 封装形式:采用 TO-252 贴片封装,每卷 2500 片,适配高密度高压电路板设计;同时提供 TO-251 直插封装(对应型号 MOT65R380C,70 片 / 管),满足传统插装需求。

三、核心特性

MOT65R380D 围绕 “高压高效功率转换” 需求,基于超级结技术打造,具备以下技术优势:

  • 超级结架构:通过优化芯片垂直结构,实现高耐压与低导通电阻的平衡,650V 耐压下 RDS (on) 仅 0.38Ω,显著降低高压转换损耗;
  • 低栅极电荷:优化栅极电荷特性,降低驱动电路功耗,提升开关频率适配性;
  • 100% UIS 测试:全批次通过雪崩耐量(UIS)测试,在感性负载开关、异常过压等场景下可靠性更高;
  • RoHS 合规性:符合 RoHS 标准,适配绿色电子制造要求;
  • 高鲁棒性设计:强化 dv/dt 与 di/dt 耐受能力,适应工业级高压环境的严苛工作条件。

四、关键电气参数(Tc=25℃,除非特殊说明)

1. 绝对最大额定值

  • 漏源极电压(VDS):最大值 650V,超过此值易导致器件击穿;
  • 栅源极电压(VGS):±30V,栅极驱动需控制在该范围以避免氧化层损坏;
  • 连续漏极电流(ID):11A(Tc=25℃),Tc=100℃时降额至 15A
  • 脉冲漏极电流(IDpk):22A(Tc=25℃,脉冲宽度≤10ms);
  • 雪崩能量(EAS):单脉冲最大值 99mJ,应对感性负载关断时的能量冲击;
  • 功耗(PD):31.2W(Tc=25℃),需搭配散热措施保障长期可靠工作;
  • 结温范围(TJ):-55~+150℃,存储温度范围与结温区间一致。

2. 热特性

  • 结壳热阻(θJC):1.8℃/W,反映芯片到外壳的散热效率;
  • 结环境热阻(θJA):45℃/W,需结合 PCB 散热设计优化结温。

五、封装与型号释义

MOT65R380 系列通过后缀区分封装类型,型号释义如下:

  • MOT65R380D:“MOT” 为品牌标识(仁懋电子),“65” 代表 “650V 漏源耐压”,“R380” 代表 “RDS (on) 典型值 0.38Ω”,“D” 为版本标识(TO-252 贴片封装,2500 片 / 卷);
  • MOT65R380C:后缀 “C” 对应 TO-251 直插封装,每管 70 片,适配传统插装式高压电路设计。

六、典型应用场景

MOT65R380D 凭借 650V 耐压与超级结低损耗特性,典型应用包括:

  • 功率因数校正(PFC):在 AC-DC 转换器的 PFC 前端电路中作为主开关管,提升电网功率因数与电源效率;
  • 开关模式电源(SMPS):适配反激、正激等拓扑的高压开关电源,如工业电源、服务器电源;
  • 不间断电源(UPS):在 UPS 系统的功率转换回路中,实现市电与电池供电的高效切换;
  • 高压负载控制:如高压继电器替代、高压电磁阀驱动等场景,利用高耐压特性简化电路设计。

七、信息来源

仁懋电子(MOT)官方产品手册(注:上述参数基于手册标注整理,实际应用需以最新版手册及器件批次测试数据为准。)

 

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