数据采集卡在集成电路测试中的关键应用与实践

电子说

1.4w人已加入

描述

引言

当前集成电路产业正向着高密度集成、高速传输、多模混合、极端环境适配四大方向迭代升级:工业级芯片(如PLC主控芯片)集成实时以太网、模数转换、电源管理等多模块,需耐受-20℃~70℃宽温与强电磁干扰;消费级芯片追求GS/s级数据传输与超低功耗平衡;

汽车电子芯片则对可靠性提出“零故障”严苛要求。芯片功能的复杂化、应用场景的多样化,使得传统分立测试设备在高速信号捕获、多模块同步验证、海量数据处理等方面力不从心。

数据采集卡作为测试系统的“信号感知核心”,凭借高采样率、高同步精度、强环境适配性等优势,成为破解测试痛点、保障芯片质量的核心支撑。

数据采集卡在集成电路测试中的核心价值


01

高速精准的信号捕获:以GS/s级采样率、百MHz级带宽,精准捕捉芯片高速数字信号(如100Mbps PROFINET IRT信号)、微弱模拟信号(如电源纹波)及ns级瞬态噪声,为性能分析提供高质量原始数据;

02

多模块同步验证:支持纳秒级多通道同步采集,实现芯片通信接口、ADC/DAC、电源模块等多组件信号的精准对齐,助力定位跨模块干扰与耦合问题;

03

高效数据处理与分析:搭配TB级高速存储与实时流盘技术(速率≥1GS/s),突破海量测试数据的存储瓶颈,结合在线分析算法大幅缩短测试周期;

04

复杂场景模拟适配:可与精密电源、信号调理模块联动,模拟工业电网干扰、极端温度等实际工况,验证芯片在复杂环境下的稳定性与可靠性。

数据采集卡在集成电路测试中的具体应用场景

高速通信接口测试

针对PXIe、PCIe、USB等高速接口,采用1GS/s以上采样率的高速数据采集卡,捕获高速传输信号的时序特征。

通过分析眼图(眼高≥200mV、眼宽≥4ns)、抖动(总抖动≤15ns)、误码率等核心指标,验证接口通信延迟与抗干扰能力,确保设备间数据传输无丢包,符合行业通信标准。

数据采集卡

例如在工业PLC芯片PROFINET IRT接口测试中,采集卡通过帧头触发技术,精准捕获3ms时长的信号数据,为实时通信性能验证提供关键支撑。

模拟/混合信号转换测

在ADC(模数转换)与DAC(数模转换)模块测试中,数据采集卡与精密电流源/电压源协同工作,实现转换精度的全面校验。

对于工业芯片的12位ADC,采集卡以500MS/s采样率捕获4-20mA工业电流环信号的转换结果,计算INL、DNL等参数,保障模拟量误差≤0.5%,满足IEC A级精度要求;针对DAC输出的模拟控制信号,精准测量其输出误差与线性度,确保执行器控制精度达标。

电源管理模块测试

针对芯片内置LDO、DC-DC转换器等电源模块,数据采集卡搭配交流毫伏表、带纹波电源,模拟50Hz工业电网干扰场景

数据采集卡

通过采集电源输出的纹波信号、噪声耦合数据,计算PSRR、运放增益等指标,验证模块抗干扰能力,避免电源纹波导致芯片控制指令偏差,保障芯片7×24小时连续稳定运行。

极端环境适应性测试

在汽车电子、工业控制等领域,数据采集卡可在高低温箱、电磁屏蔽室等环境中,持续采集芯片关键信号。

通过分析温度变化(如-40℃~125℃)、电磁干扰对信号完整性、电源稳定性的影响,验证芯片在极端工况下的性能衰减边界,为芯片环境适应性优化提供数据支撑。

数据采集卡选型指南:核心参数匹配原则

采样率与带宽选型

- 高速信号测试:采样率需≥信号最高频率的5-10倍,推荐1GS/s以上高速采集卡,带宽≥300MHz,确保捕获ns级时序偏差;

- 模拟信号测试(如ADC/DAC转换、电源纹波):采样率≥500MS/s、分辨率≥14bit,平衡精度与速度,避免量化误差影响测试结果。

同步精度选型

- 多模块协同测试(如ADC+电源+通信接口):选择支持PXIe同步协议的采集卡,同步误差≤8ns,确保跨模块信号精准对齐,溯源干扰耦合路径;

- 单模块独立测试(如单一DAC输出):同步精度≤100ns即可满足基础验证需求。


通道数与接口适配

- 复杂芯片测试(如多通道ADC芯片):选择8-16通道采集卡,支持差分输入,适配电流环、电压等多种信号类型;

- 轻量化测试(如单一通信接口验证):2-4通道采集卡即可,优先选择USB/以太网接口,兼顾便携性与易用性。

专项测试案例:消费电子与汽车电子芯片实践

(一)消费电子芯片:手机射频芯片测试


 

- 测试需求:验证射频芯片发射端信号功率、频谱纯度,接收端灵敏度与抗干扰能力;

- 采集卡选型:1GS/s 16bit高速采集卡(带宽≥500MHz)、射频专用探头;

- 应用效果:捕获瞬态功率波动(精度±0.1dBm),分析邻道泄漏比(ACLR),满足消费电子射频标准,测试周期缩短30%。


(二)汽车电子芯片:车载MCU测试

- 测试需求:验证MCU在-40℃~125℃宽温下的CAN总线通信稳定性、ADC采集精度(适配车载传感器信号);

- 采集卡选型:500MS/s 14bit采集卡(宽温版)、CAN总线信号调理模块;

- 应用效果:在高低温循环测试中,持续采集CAN总线信号(传输速率500kbps)与ADC输入信号,验证通信误码率≤10⁻⁶,ADC误差≤1%,满足ISO功能安全标准。

审核编辑 黄宇

打开APP阅读更多精彩内容
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !

×
20
完善资料,
赚取积分