BMF240R12E2G3 碳化硅功率模块在储能PCS、固态变压器SST及高频UPS中的深度应用与工程指南

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BMF240R12E2G3 碳化硅功率模块在储能PCS、固态变压器SST及高频UPS中的深度应用与工程指南

储能

倾佳电子(Changer Tech)是一家专注于功率半导体和新能源汽车连接器的分销商。主要服务于中国工业电源、电力电子设备和新能源汽车产业链。倾佳电子聚焦于新能源、交通电动化和数字化转型三大方向,并提供包括IGBT、SiC MOSFET、GaN等功率半导体器件以及新能源汽车连接器。

倾佳电子杨茜致力于推动国产SiC碳化硅模块在电力电子应用中全面取代进口IGBT模块,助力电力电子行业自主可控和产业升级!

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1. 执行摘要

随着全球能源结构的转型,电力电子设备正向着高频化、高功率密度和高可靠性的方向飞速发展。在这一背景下,基于碳化硅(SiC)宽禁带半导体材料的功率器件已成为下一代电能变换系统的核心引擎。本报告旨在为电力电子系统工程师、研发人员及技术决策者提供一份关于基本半导体(BASIC Semiconductor)BMF240R12E2G3碳化硅MOSFET模块的详尽应用指南。该模块采用 Pcore™2 E2B 封装,额定电压1200V,额定电流240A,集成了高性能 SiC MOSFET 与 SiC肖特基势垒二极管(SBD),专为储能变流器(PCS)、固态变压器(SST)及高频不间断电源(UPS)等高端工业应用设计。

倾佳电子基于详尽的技术资料与实测数据,深入剖析了 BMF240R12E2G3 的器件物理特性、封装工艺优势及电气性能。特别是在与国际竞品的对比分析中,该模块在开关损耗、体二极管反向恢复特性及长期可靠性方面展现出显著优势。报告不仅涵盖了电路拓扑设计与热管理策略,还提供了详尽的 PCB 焊接与压接装配工艺指南,旨在帮助工程团队在实际应用中充分释放该器件的潜能,实现系统级的性能突破 。

2. 器件架构与核心技术解析

储能

2.1 第三代碳化硅芯片技术与 Pcore™2 E2B 封装

BMF240R12E2G3 采用了基本半导体最新的第三代 SiC MOSFET 芯片技术,该技术在降低比导通电阻(Specific On-Resistance)的同时,优化了栅极氧化层的可靠性 。模块采用半桥(Half-Bridge)拓扑结构,封装形式为 Pcore™2 E2B。这种封装不仅符合工业标准的 Easy2B 尺寸规格,便于现有系统的升级换代,更引入了多项针对高频高压应用的优化设计。

从电气参数来看,该模块在 TH=80∘C 的散热器温度下可提供 240A 的连续漏极电流,且在 Tvj=25∘C 时的典型导通电阻(RDS(on))仅为 5.5 mΩ 。这一极低的导通阻抗直接决定了在大电流应用下的传导损耗水平,是实现高效率变换的关键基础。此外,模块的漏源击穿电压(VDSS)标称值为 1200V,但在实际测试中表现出更高的耐压裕量,确保了在电网波动或雷击浪涌下的系统安全性 。

2.2 内置 SiC SBD 技术:解决双极性退化难题

BMF240R12E2G3 最具差异化且至关重要的技术特征在于其内部并联了 SiC 肖特基势垒二极管(SBD)。在传统的 SiC MOSFET 应用中,虽然 MOSFET 本身具有体二极管(Body Diode),但该体二极管是双极性器件。长期的反向续流操作(即体二极管导通)会激发 SiC 晶体中的基面位错(Basal Plane Dislocations),导致层错(Stacking Faults)的扩展。这种现象被称为“双极性退化”(Bipolar Degradation),其宏观表现为 MOSFET 的导通电阻 RDS(on) 随时间推移而显著增加,严重影响系统的长期可靠性与效率 。

表 1: 内置 SiC SBD 与普通 MOSFET 体二极管的性能对比 

 

特性参数 普通 SiC MOSFET (仅体二极管) BMF240R12E2G3 (内置 SiC SBD) 技术影响与应用价值
RDS(on) 漂移 运行 1000 小时后增加约42% 运行 1000 小时后变化率< 3% 确保全生命周期内的效率稳定性,消除因老化导致的热失控风险。
正向压降 (VSD) 通常 > 4.0V 典型值1.90V(Tvj=25∘C) 大幅降低死区时间内的续流损耗,特别是在高频硬开关拓扑中。
反向恢复电荷 (Qrr) 较高,存在少子存储效应 极低 (1.6μC),主要为结电容充电 近乎零反向恢复,显著降低互补管的开通损耗 (Eon) 和电磁干扰 (EMI)。

 

如表 1 所示,实测数据表明,在并未集成 SBD 的普通 SiC MOSFET 中,体二极管导通运行 1000 小时后,RDS(on) 的波动高达 42%。而 BMF240R12E2G3 通过并联 SBD,使得反向电流主要流经单极性的 SBD 而非双极性的体二极管,从而抑制了空穴复合引发的层错扩展,将 RDS(on) 的变化率控制在 3% 以内 。这一特性对于要求 10 年甚至 20 年使用寿命的储能 PCS 和 UPS 设备而言,是核心的可靠性保障。

2.3 氮化硅 (Si3N4) AMB 陶瓷基板的材料优势

在高功率密度模块中,绝缘基板不仅承担着电气隔离的作用,更是热量从芯片传导至散热器的关键路径。BMF240R12E2G3 摒弃了传统的氧化铝(Al2O3)DBC 工艺,转而采用高性能的氮化硅(Si3N4)活性金属钎焊(AMB)陶瓷基板 1。

表 2: 陶瓷基板材料性能深度对比 1

 

材料类型 热导率 (W/m⋅K) 抗弯强度 (N/mm2) 断裂韧性 (MPa⋅m1/2) 应用解析
氧化铝 (Al2O3) 24 450 4.2 成本最低,但热导率差,机械强度一般,不适合高功率密度与剧烈热循环场景。
氮化铝 (AlN) 170 350 3.4 热导率最高,但极脆,抗机械冲击和热冲击能力弱,易发生裂纹。
氮化硅 (Si3N4) 90 700 6.0 机械强度极高,允许基板做得更薄(典型 0.32mm vs AlN 的 0.63mm),从而补偿了热导率的差异,同时具备最优的功率循环寿命。

 

虽然氮化铝(AlN)的理论热导率更高,但其脆性限制了其在复杂工况下的可靠性。相比之下,Si3N4 拥有极高的抗弯强度(700 N/mm2)和断裂韧性,这使得模块能够承受更严苛的功率循环(Power Cycling)和温度冲击。实验显示,在经过 1000 次剧烈温度冲击后,Al2O3 和 AlN 基板常出现铜箔分层现象,而 Si3N4 基板仍保持良好的结合强度 1。对于储能 PCS 这类负载波动剧烈、日夜温差大的户外应用,采用 Si3N4 AMB 基板是确保模块长期不发生热疲劳失效的关键。

3. 详尽电气特性与竞品对标分析

为了全面评估 BMF240R12E2G3 的性能,我们将其与国际一线品牌竞品(Competitor W 的 CAB006... 和 Competitor I 的 FF6MR...)进行了深入的动静态参数对比。

3.1 静态特性分析:阈值电压与漏电流

栅极阈值电压(VGS(th))是衡量器件抗干扰能力的重要指标。BMF240R12E2G3 的典型 VGS(th) 为 4.0V(最小值 3.0V),且在高温 150∘C 下仍保持在 3.4V 左右 。相比之下,Competitor W 的产品在高温下的阈值电压降至 2.2V 左右。较高的阈值电压意味着 BMF240R12E2G3 具有更强的米勒效应(Miller Effect)免疫力,能够有效防止在高 dv/dt 切换过程中发生寄生导通(误导通),从而提高了桥臂电路的安全性,简化了栅极驱动电路的设计(可能允许使用较小的负压关断)。

在漏电流(IDSS)方面,得益于先进的钝化工艺,BMF240R12E2G3 在 1200V/25∘C 条件下的漏电流控制在微安级(典型值 6 μA),这对于提高系统的待机效率至关重要 。

3.2 动态开关特性与损耗分析

开关损耗是决定高频应用系统效率上限的核心因素。基于双脉冲测试平台(Double Pulse Test),在 VDC=800V,ID=400A 的严苛工况下,对比数据揭示了 BMF240R12E2G3 的显著优势。

表 3: 400A 工况下的开关特性对比分析 

 

参数 BMF240R12E2G3 (BASIC) Competitor W (CAB006...) Competitor I (FF6MR...) 性能分析与影响
开通能量 (Eon) 18.48 mJ 15.55 mJ 15.39 mJ 开通损耗略高,这通常与为了抑制 di/dt 振荡而优化的栅极电阻及内部结构有关。
关断能量 (Eoff) 6.76 mJ 10.87 mJ 8.85 mJ 大幅领先。相比竞品 W,关断损耗降低约37.8%。这对于 ZVS(零电压开通)软开关拓扑尤为重要,因为 ZVS 无法消除关断损耗。
总开关能量 (Etotal) 25.24 mJ 26.42 mJ 24.24 mJ 总体损耗具有竞争力,特别是在关断占主导的应用中表现更佳。
反向恢复能量 (Err) 0.08 mJ 0.20 mJ 0.08 mJ 得益于内置 SBD,反向恢复损耗极低,大幅减小了硬开关过程中的电压尖峰和振荡。

 

分析表明,BMF240R12E2G3 的关断速度极快,Eoff 显著低于竞品。这使得该模块特别适合应用于高频谐振变换器(如 LLC、CLLC)中,在这类拓扑中,开通损耗往往通过软开关技术被消除,而关断损耗则成为主要的开关损耗来源。因此,BMF240R12E2G3 能够支持更高的开关频率,从而减小磁性元件和电容器的体积,提升系统功率密度。

4. 储能变流器 (PCS) 应用指南

储能变流器(PCS)连接电池组与交流电网,需具备双向能量流动能力。随着工商业储能的爆发,100kW-250kW 功率等级的组串式 PCS 成为主流,对效率和体积提出了极致要求。

4.1 推荐拓扑与选型配置

针对工商业 PCS,通常采用三相两电平或三电平拓扑。BMF240R12E2G3 因其 1200V 的耐压,非常适合800V DC 母线的应用场景。

AC/DC 变换级:在 ≥100kW 的系统中,推荐使用 BMF240R12E2G3 构建三相桥臂。为了达到更高的功率等级(如 250kW),可以采用模块并联技术。BMF240R12E2G3 的导通电阻具有正温度系数(25∘C 时 5.5 mΩ,175∘C 时 10.0 mΩ)1,这一特性天然有利于多模块并联时的自动均流,防止个别模块因过热而承担过多电流,从而简化了并联设计 。

驱动方案配套:为了充分发挥 SiC 的高速开关性能并确保安全,推荐搭配基本半导体的BTD5350MCWR隔离驱动芯片。该芯片具备高共模瞬态抗扰度(CMTI)和强大的驱动电流能力,能够快速充放电 MOSFET 的栅极电容 (QG=492nC)。对于辅助电源供电,推荐使用BTP1521P电源控制芯片配合TR-P15DS23-EE13变压器,构建稳定可靠的隔离电源系统 。

4.2 效率与热设计考量

在 PCS 应用中,轻载效率(Light Load Efficiency)与满载效率同样重要。SiC MOSFET 的无膝电压特性使其在轻载下的导通损耗远低于 IGBT。仿真数据显示,使用 SiC MOSFET 的方案可将整机效率提升至 99% 以上,且体积减少 50% 。

在热设计方面,必须利用 Si3N4 基板的低热阻特性 (Rth(j−c)≤0.09K/W) 。设计时应注意:

散热器平面度:由于模块底板为铜材,散热器安装表面的平面度应控制在严苛公差范围内(通常 < 50μm),以避免安装应力导致陶瓷基板破裂。

导热介质:建议使用高性能导热硅脂或相变材料,涂层厚度控制在 50μm 左右,以最小化壳到散热器的热阻 Rth(c−h)(典型值 0.10 K/W)1。

温度监控:模块内置了 NTC 温度传感器(R25=5kΩ,B25/50=3375K)。PCS 控制器应实时读取该 NTC 阻值,通过查表法计算结温,实施过温降额或停机保护策略,确保模块在全天候工况下的热安全。

5. 固态变压器 (SST) 与高频 UPS 应用指南

5.1 固态变压器 (SST) 中的高频优势

固态变压器利用中高频变换(10kHz - 100kHz)替代工频变压器,实现体积和重量的大幅缩减。SST 的核心是 DC-DC 级,常采用双有源桥(DAB)或谐振转换器(LLC/CLLC)拓扑。

高频硬开关能力:在 DAB 拓扑中,负载范围变化可能导致部分工作区间丢失软开关条件(即进入硬开关模式)。此时,BMF240R12E2G3 内置 SBD 的零反向恢复特性至关重要。它消除了硬开关过程中因二极管反向恢复电流引起的巨大电流尖峰和电压过冲,保护开关管不被击穿,同时大幅降低 EMI 噪声 。

低关断损耗:如前文所述,6.76 mJ 的低关断损耗使得 SST 设计能够推高开关频率,从而显著减小高频变压器的磁芯体积,提升功率密度。

5.2 高频 UPS 的可靠性与电能质量

UPS 系统要求对电网故障做出极速响应,并提供纯净的输出波形。

三电平拓扑应用:现代高频 UPS 常采用 T 型或 ANPC 三电平拓扑来降低输出谐波。BMF240R12E2G3 极其适合应用于此类拓扑的开关管位置。其超低的 RDS(on) 降低了长时运行的导通损耗,减少了冷却系统的能耗,这对于数据中心等对 PUE(电源使用效率)敏感的场景具有极高价值。

抗误导通设计:UPS 逆变级在负载突变时会产生极高的 dv/dt。BMF240R12E2G3 较高的栅极阈值电压(VGS(th)>4.0V)提供了天然的噪声裕量,防止上下桥臂直通。建议在驱动电路设计中,关断电压设置为 -4V 至 -2V,以进一步巩固这一安全防线 。

6. PCB 焊接与装配工艺详尽指南

BMF240R12E2G3 支持Press-Fit(压接)和Soldering(焊接)两种安装工艺 。正确的装配工艺是保证电气连接可靠性和散热性能的前提。

6.1 PCB 设计与布局注意事项

孔位设计:若采用焊接工艺,PCB 焊盘孔径需根据引脚尺寸(详见 Datasheet 图纸)进行设计,通常建议孔径比引脚对角线大 0.2-0.3mm 以确保透锡率。若采用 Press-Fit 工艺,必须严格遵守压接孔的公差要求(通常成品孔径公差需控制在 ±0.05mm 以内),且孔壁需经过特殊的表面处理(如化学锡或喷锡)以保证冷焊连接的可靠性 。

大电流走线:模块端子需承载高达 240A 的电流。PCB 设计中,DC+、DC- 及 AC 输出端应采用多层厚铜叠加或增加汇流排(Busbar)连接。单纯依靠 PCB 铜箔难以承载如此大的电流且会产生过高热量。

驱动回路优化:由于 SiC MOSFET 开关速度极快(di/dt 可达数千 A/μs),栅极驱动回路必须最小化寄生电感。应将驱动芯片尽可能靠近模块的 G-S 辅助端子放置,并使用开尔文连接(Kelvin Connection)方式,即驱动回路的参考地直接连接到模块的辅助源极引脚(S1/S2),避免主功率回路的大电流干扰驱动信号。

6.2 焊接工艺(Soldering)特别注意事项

如果选择波峰焊或手工焊工艺,需注意以下几点:

焊接温度曲线:模块内部已使用高温焊料,但这并不意味着可以无限制加热。焊接过程中,外壳及端子的温度不应超过 260∘C,持续时间建议不超过 10 秒,以防止塑料外壳变形或端子松动。

透锡率:对于功率端子,必须保证 100% 的透锡率,以最小化接触电阻。数据手册指出模块引脚电阻仅为 0.53mΩ 1,任何虚焊都会导致接触电阻倍增,在大电流下产生严重发热,甚至熔化焊锡造成开路。

助焊剂清洗:焊接后必须彻底清洗残留的助焊剂。由于 SiC 系统工作电压高(800V+)且开关频率高,残留助焊剂在潮湿环境下可能导致爬电或电化学迁移,引发绝缘失效。

6.3 压接工艺(Press-Fit)操作规范

压接工艺避免了焊料老化问题,可靠性更高,是车规级和高端工业应用的首选。

压接力控制:数据手册规定每个端子的安装力(Mounting force per clamp)范围为40N - 80N。必须使用专用的压接工装,保证压力垂直且均匀施加于所有端子,严禁单边受力,否则可能损坏陶瓷基板。

PCB 支撑:在压接过程中,PCB 底部必须有这就的支撑治具,防止 PCB 弯曲变形导致线路断裂或孔壁铜层剥离。

7. 栅极驱动电路设计深度指南

为了充分释放 BMF240R12E2G3 的性能,栅极驱动电路的设计必须精准匹配其特性。

7.1 驱动电压配置

开通电压 (VGS(on)):推荐值为+18V 至 +20V。由于 SiC MOSFET 的跨导特性,较高的开通电压有助于获得更低的 RDS(on)(5.5 mΩ 是在 18V 下测得)。若电压不足(如仅 15V),导通电阻将显著增加,导致导通损耗剧增。

关断电压 (VGS(off)):推荐值为-4V 至 0V。虽然 0V 关断在理论上可行,但在高频大功率应用中,强烈建议使用-4V负压关断。这提供了足够的安全裕量,防止米勒效应引起的寄生导通,并加快关断速度。

7.2 栅极电阻 (RG) 的选择

模块内部集成的栅极电阻 (RG(int)) 极小,仅为0.37 Ω。这意味着开关速度的主导权完全掌握在外部栅极电阻 (RG(ext)) 手中。

开通电阻 (RG(on)):较小的 RG(on)(如 datasheet 测试用的 2.2 Ω)可实现极快的开通速度,降低 Eon。但过快的速度会增加 di/dt,加剧 EMI 问题及反向恢复电流尖峰。设计时需在损耗与 EMI 之间权衡。

关断电阻 (RG(off)):主要用于控制关断时的电压尖峰 (VDS,peak)。由于 BMF240R12E2G3 关断极快,较小的 RG(off) 可能导致 VDS 过冲超过 1200V 击穿电压。必须根据实际回路的杂散电感调整 RG(off),确保电压尖峰在安全范围内(通常建议留 20% 裕量,即 < 960V)。

7.3 短路保护与去饱和检测

SiC MOSFET 的短路耐受时间(Short Circuit Withstand Time, SCWT)通常短于 IGBT。因此,驱动电路必须具备极速的去饱和(Desaturation)检测及保护功能。建议保护响应时间控制在2-3μs以内。由于 SBD 的存在,导通压降较低,去饱和检测电路的阈值电压设置需更加精细,避免误触发。

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深圳市倾佳电子有限公司(简称“倾佳电子”)是聚焦新能源与电力电子变革的核心推动者:
倾佳电子成立于2018年,总部位于深圳福田区,定位于功率半导体与新能源汽车连接器的专业分销商,业务聚焦三大方向:
新能源:覆盖光伏、储能、充电基础设施;
交通电动化:服务新能源汽车三电系统(电控、电池、电机)及高压平台升级;
数字化转型:支持AI算力电源、数据中心等新型电力电子应用。
公司以“推动国产SiC替代进口、加速能源低碳转型”为使命,响应国家“双碳”政策(碳达峰、碳中和),致力于降低电力电子系统能耗。
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8. 结论

BMF240R12E2G3 凭借其先进的第三代 SiC 芯片技术、创新的内置 SBD 结构以及高可靠性的 Si3N4 AMB 封装,为储能 PCS、固态变压器和高频 UPS 等高端应用提供了理想的功率器件解决方案。其在降低开关损耗、抑制双极性退化以及提升热循环寿命方面的卓越表现,解决了传统硅基器件及早期碳化硅器件的诸多痛点。

通过遵循本指南中关于拓扑选型、热管理、PCB 工艺及驱动设计的建议,工程师可以构建出效率更高、体积更小、寿命更长的电力电子系统,从而在激烈的市场竞争中占据技术高地。基本半导体提供的全套驱动芯片与技术支持生态,进一步降低了应用门槛,加速了高性能碳化硅系统的落地与量产。

审核编辑 黄宇

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