该 ADS5287 是一款高性能、低功耗的八进制信道模数转换器 (ADC)。提供9毫米×9毫米QFN封装,支持串行低压差分信号 (LVDS)输出以及多种可编程功能,ADS5287高度可定制性 应用范围广泛,并提供了前所未有的系统集成水平。一 应用说明XAPP774(可于 www.xilinx.com 年获取)描述了如何将TI的ADC串行LVDS输出接口到Xilinx现场可编程门阵列(FPGA)。ADS5287的工业温度范围为–40°C至+85°C。
*附件:ads5287.pdf
特性
- 速度与分辨率等级:
- 功耗:
- 46mW/信道,30MSPS
- 53mW/信道,40MSPS
- 62mW/信道,50MSPS
- 74mW/信道,65MSPS
- 10MHz 中频时61.7dBFS信噪比
- 模拟输入全量程范围:2V
PP - 低频噪声抑制模式
- 单时钟实现6dB过载恢复
- 外部与内部(修剪)参考
- 3.3V模拟电源,1.8V数字电源
- 单端或差动时钟:
- 可编程数字增益:0dB至12dB
- 串行DDR LVDS输出
- 可编程LVDS电流驱动,内部终端
- 用于实现输出捕获的测试模式
- 直偏移二进制或二的补码输出
- 套餐选项:
参数

1. 产品概述
ADS5287是德州仪器(TI)推出的一款高性能、低功耗、8通道模数转换器(ADC)。该器件采用9mm×9mm QFN-64封装,支持串行低压差分信号(LVDS)输出,具有多种可编程功能,适用于医疗成像、无线基站基础设施及测试测量仪器等多种应用场景。
2. 核心特性
- 分辨率与采样率:10位分辨率,最高支持65MSPS采样率。
- 功耗:在不同采样率下功耗分别为46mW/通道(30MSPS)、53mW/通道(40MSPS)、62mW/通道(50MSPS)及74mW/通道(65MSPS)。
- 动态性能:在10MHz中频下信噪比(SNR)达61.7dBFS,支持6dB过载恢复(单时钟周期)。
- 供电:模拟电源3.3V,数字电源1.8V。
- 输入范围:差分模拟输入满量程范围为2VPP。
- 参考电压:支持内部(已修整)或外部参考电压。
- 时钟输入:支持单端或差分时钟,集成时钟占空比校正电路(DCC)。
- 数字增益:可编程增益范围0dB至12dB。
- 输出接口:串行DDR LVDS输出,支持内部终端和可编程LVDS电流驱动。
- 测试模式:支持输出捕获的测试模式。
- 输出格式:支持直接偏移二进制或二进制补码输出。
3. 功能架构
- 模拟输入:8对差分输入(IN1P/IN1N至IN8P/IN8N),每通道均配置10位ADC。
- 时钟管理:内置锁相环(PLL)生成6倍和12倍采样时钟。
- 数字处理:各通道ADC输出经数字增益调整后,由串行化器转换为LVDS格式输出。
- 控制接口:通过串行接口(SCLK、SDATA、CS)配置内部寄存器,实现功率管理、增益控制、测试模式等多种功能。
4. 电气特性
- 参考电压:内部模式下REFT为2.5V,REFB为0.5V,VCM为1.5V。
- 动态性能:在高采样率下(如65MSPS)仍保持高信噪比和无杂散动态范围。
- 电源电流:内部参考模式下,模拟电源电流约139mA,数字电源电流约87mA,总功耗约615mW。
- 过载恢复:支持从6dB过载到1%精度范围内在一个时钟周期内恢复。
5. 封装与引脚
- 封装选项:QFN-64(9mm×9mm)。
- 引脚功能:包括模拟输入、时钟输入、LVDS输出、参考电压及控制信号等。
6. 应用信息
- 时钟输入配置:支持单端或差分时钟模式,推荐使用低抖动差分时钟以优化高频性能。
- 参考电路:支持内部或外部参考模式,外部参考可通过REFT/REFB或VCM引脚实现。
- LVDS输出时序:提供详细的数据建立时间、保持时间及时钟传播延迟等参数,支持DDR和SDR输出模式。
- 串行寄存器:通过寄存器配置实现增益调整、功率管理、测试模式及LVDS驱动强度等多种功能。
7. 典型性能
数据手册提供了大量典型性能曲线,包括频谱性能、动态性能随输入频率、增益、电源电压等参数的变化趋势,供设计参考。