onsemi UF3N120007K4S SiC JFET晶体管的特性与应用解析

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描述

onsemi UF3N120007K4S SiC JFET晶体管的特性与应用解析

在电子工程领域,功率半导体器件的性能对电路设计和系统性能有着至关重要的影响。今天,我们来详细探讨一下安森美(onsemi)的UF3N120007K4S碳化硅(SiC)结型场效应晶体管(JFET),看看它在实际应用中能为我们带来哪些优势。

文件下载:onsemi UF3N120007K4S 1200V JFET N沟道晶体管.pdf

产品概述

UF3N120007K4S是一款1200V、7.1mΩ的高性能第三代常开型SiC JFET晶体管。它采用TO247 - 4封装,具有超低的导通电阻(RDS(ON)),这一特性使得它非常适合用于应对固态断路器和继电器应用中具有挑战性的热限制问题。同时,该JFET具备强大的器件技术,能够满足电路保护应用中所需的高能开关要求。

碳化硅

 

封装图

碳化硅

产品特性亮点

低导通电阻与高温性能

该器件具有个位数的导通电阻,最大工作温度可达175°C。这意味着在高温环境下,它依然能够保持良好的性能,减少因温度升高而导致的性能下降问题。对于一些工作环境较为恶劣的应用场景,如工业自动化、新能源汽车等领域,这种高温性能的稳定性显得尤为重要。

高脉冲电流能力与器件鲁棒性

UF3N120007K4S拥有出色的高脉冲电流能力和器件鲁棒性。在面对瞬间的高电流冲击时,它能够稳定工作,不易损坏,为电路提供可靠的保护。这对于一些需要频繁进行开关操作的应用,如感应加热设备,能够有效提高设备的使用寿命和稳定性。

良好的热阻特性

采用银烧结芯片连接技术,使得该器件具有出色的热阻特性。良好的热阻能够更快地将热量散发出去,降低器件的温度,进一步提高其性能和可靠性。在实际设计中,我们可以根据热阻特性来合理设计散热方案,确保器件在安全的温度范围内工作。

环保特性

该器件符合无铅、无卤素和RoHS标准,这不仅符合环保要求,也为产品在全球市场的推广提供了便利。在当今注重环保的大环境下,这种环保特性也成为了产品的一个重要卖点。

典型应用场景

固态/半导体断路器和继电器

由于其超低的导通电阻和高脉冲电流能力,UF3N120007K4S非常适合用于固态/半导体断路器和继电器。在这些应用中,它能够快速、可靠地切断或导通电路,保护设备免受过载和短路的影响。

电池断开和浪涌保护

在电池管理系统中,该器件可以用于电池断开功能,确保在必要时能够及时切断电池与电路的连接,保护电池和设备的安全。同时,它也可以用于浪涌保护,吸收瞬间的高能量冲击,保护电路中的其他元件。

浪涌保护和浪涌电流控制

在一些对电源质量要求较高的应用中,如通信设备、医疗设备等,浪涌保护和浪涌电流控制是非常重要的。UF3N120007K4S可以有效地抑制浪涌电流,保护设备免受浪涌的损害。

感应加热

在感应加热应用中,需要频繁进行开关操作,并且对开关速度和效率有较高的要求。UF3N120007K4S的高脉冲电流能力和快速开关特性,使其成为感应加热应用的理想选择。

产品参数分析

最大额定值

参数 符号 测试条件 单位
漏源电压 VDs   1200 V
栅源电压 VGs DC -30 to +3 V
  AC (Note 1) -30 to +30  
连续漏极电流 (Note 2) ID Tc < 112℃ 120 A
脉冲漏极电流 (Note 3) IDM Tc = 25℃ 550 A
功率耗散 PTOT Tc = 25℃ 789 W
最大结温 TJ.max   175
工作和储存温度 TJ, TSTG   -55 to 175
最大焊接引线温度(距外壳1/8",5秒) TL   250

从这些最大额定值中我们可以看出,该器件具有较高的电压和电流承受能力,能够适应不同的工作环境。但需要注意的是,在实际应用中,应避免超过这些最大额定值,以免损坏器件。

热特性

参数 符号 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
结到外壳的热阻 RBJC     0.15 0.19 °C/W

热阻是衡量器件散热性能的重要指标。较低的热阻意味着器件能够更快地将热量散发出去,从而降低结温,提高器件的可靠性。在设计散热方案时,我们可以根据这个热阻参数来选择合适的散热片和散热方式。

电气特性

电气特性表中列出了器件在不同测试条件下的各项参数,如漏源击穿电压、总漏极泄漏电流、栅源泄漏电流、漏源导通电阻等。这些参数对于我们了解器件的性能和进行电路设计非常重要。例如,漏源导通电阻的大小直接影响到器件的功率损耗和效率,我们可以根据实际应用的需求来选择合适的栅源电压,以获得较低的导通电阻。

典型性能图表分析

文档中提供了一系列典型性能图表,如不同温度下的输出特性、转移特性、导通电阻与温度的关系等。通过这些图表,我们可以直观地了解器件在不同工作条件下的性能变化。例如,从导通电阻与温度的关系图表中,我们可以看到随着温度的升高,导通电阻会逐渐增大。在实际设计中,我们需要考虑这种变化对电路性能的影响,并采取相应的补偿措施。

订购信息

部件编号 标记 封装 运输
UF3N120007K4S UF3N120007K4S TO247 - 4 (无铅、无卤素) 600个/管

在订购该器件时,我们需要注意封装形式和运输规格,确保所订购的产品符合我们的设计要求。

总结

总的来说,onsemi的UF3N120007K4S SiC JFET晶体管具有诸多优异的特性,适用于多种应用场景。在实际设计中,我们需要根据具体的应用需求,综合考虑器件的各项参数和性能,合理选择和使用该器件。同时,我们也可以参考文档中提供的典型性能图表和设计建议,优化电路设计,提高系统的性能和可靠性。你在使用类似的SiC JFET晶体管时,遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。

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