直流电子负载：动态测试瞬态响应性能

在服务器CPU瞬间睿频、新能源汽车电机急加减速、通信基站射频功放间歇发射等真实场景中，电源必须在微秒级时间内完成大电流切换。稳态测试无法暴露反馈环路带宽不足、输出电容ESR过大等隐患，只有借助源仪电子（TET）直流电子负载的高速动态测试功能，才能完整还原上述瞬态工况，并用数据量化电源的瞬态响应性能，已成为研发、认证、产线"一票否决"的关键项目。

直流电子负载

一、为什么必须用"动态测试"还原瞬态工况

1. 真实场景=阶跃+斜率+占空比：CPU从C-state到100%负载只需20µs，电流斜率高达50A/µs；若仍用传统"CC稳态"拉载，电源在实验室"蒙混过关"，到现场却电压崩塌。

2. 稳态指标掩盖隐患：负载调整率、纹波、效率曲线均在静态或慢变化下测得，无法暴露环路补偿过度、输入电容不足等瞬态缺陷。

3. 标准强制要求：Intel CRPS、USB PD 3.1、OBC LV123均规定10%↔90%负载阶跃，且需测试1kHz~25kHz频点下的过冲/欠冲与恢复时间。

二、源仪电子负载动态测试的原理与模式

源仪电子的直流电子负载在A值与B值之间高速切换，模拟电流/功率"方波"：

• Continuous：周期循环，频率0.1Hz~20kHz、占空比1~99%，可扫描电源带宽

• Pulse：外触发单次脉冲，宽度10µs~3600s，捕捉冷启动或保护点

• Toggle：每触发翻转一次，方便与示波器单次捕获联动

• 斜率控制：电流上升/下降斜率0.001A/µs~5A/µs，覆盖车规20A/µs极限

• LIST序列：可到1000步，轻松完成IEC、GB、ISO等标准曲线

三、瞬态响应性能检测5大指标

1. 过冲/欠冲（Overshoot/Undershoot）

2. 恢复时间（Settling Time）

3. 上升/下降斜率（dI/dt）

4. 延迟时间（Delay Time）

5. 频域worst-case：通过10Hz~20kHz扫频，定位增益峰值点

四、实操技巧与注意事项

1. 线材与接地：使用4线制Kelvin sensing，≤20cm双绞，避免2mV/cm感抗跌落

2. 示波器设置：带宽≥100MHz，交流耦合，10×探头接地环<1cm，避免"假过冲"

3. 温度与气流：加风速1m/s，防止MOSFET结温升高导致电流降额，影响dI/dt精度

4. 保护限值：提前设OVP、OCP、OPP，避免电源崩溃烧毁负载；脉冲功率≥3×额定瞬时能量需开启电子负载"峰值功率"许可

5. 校准周期：动态频率20kHz机型，每12个月校准一次电流斜率与时间基准，保证±2%精度

直流电子负载把"实验室稳态"推向"真实瞬态"：通过20kHz高速方波、5A/µs斜率、1000步LIST序列，完整还原CPU爆载、电机急停、通信突发的极端工况，并用过冲、恢复时间、频域worst-case等量化指标，为研发调试、认证准入、产线筛选提供"一票否决"的数据支撑。随着48V AI电源、800V电驱、SiC/GaN快充对瞬态性能要求越来越苛刻，源仪电子负载动态测试功能已从"可选项"变为"必选项"，助力工程师提前发现隐患、缩短开发周期、降低现场失效风险。