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2025-12-18
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描述
EZ - PD™ CCG7SCF:单端口 USB Type - C 电源解决方案深度剖析
在当今电子设备快速发展的时代,USB Type - C 接口凭借其强大的功能和广泛的应用,成为了电子设备充电和数据传输的主流选择。EZ - PD™ CCG7SCF 作为一款高度集成的单端口 USB Type - C 电源解决方案,在消费充电和扩展坞应用领域展现出了卓越的性能。下面,我们就来深入了解一下这款产品。
文件下载:Infineon Technologies EZ-PD™ CCG7SCF USB Type-C®电源传输(PD).pdf
一、产品概述
EZ - PD™ CCG7SCF 是一款高度集成的单端口 USB Type - C 电源传输(PD)解决方案,集成了降压 - 升压控制器和两个开关 FET,主要面向消费充电和扩展坞应用。它不仅符合最新的 USB Type - C 和 PD 规范,还通过高度集成的设计减少了物料清单(BOM),为单端口消费充电和扩展坞需求提供了优化的解决方案。同时,该产品在 VBUS 上具备硬件控制的保护功能,支持广泛的输入电压范围(4 V 至 24 V,耐压 40 V)和可编程的开关频率(150 kHz 至 600 kHz)。
二、核心特性
(一)USB PD 特性
单端口支持 :支持一个 USB PD 端口,满足单端口设备的充电需求。
最新标准兼容 :支持最新的 USB PD 3.1 标准,包括可编程电源(PPS)模式,能够提供更灵活的电源输出。
扩展数据消息 :支持扩展数据消息,增强了数据传输的能力。
(二)Type - C 特性
可配置电阻 :具有可配置的电阻 (R{p}) 和 (R {d}),方便根据不同的应用场景进行调整。
VBUS 提供者 NFET 栅极驱动器 :集成了 VBUS 提供者 NFET 的栅极驱动器,简化了电路设计。
VCONN 电源供应 :集成了 100 - mW VCONN 电源供应和控制功能,满足 USB Type - C 规范中对 VCONN 的要求。
(三)降压 - 升压控制器特性
宽频率范围 :开关频率范围为 150 至 600 kHz,可根据实际需求进行编程。
宽输入输出范围 :输入电压范围为 4.5 至 24 V,耐压 40 V;输出电压范围为 3.3 至 21.5 V。
PPS 高精度调节 :在 PPS 模式下,电压调节步长为 20 - mV,电流调节步长为 50 - mA,提供了高精度的电源输出。
多种工作模式 :支持可选的脉冲跳过模式(PSM)和强制连续电流/传导模式(FCCM),以及软启动功能,提高了电源转换效率和稳定性。
低 EMI 设计 :可编程的扩频频率调制功能,有效降低了电磁干扰(EMI)。
集成 FET :集成了两个降压开关 FET,进一步简化了电路设计。
(四)系统级保护特性
电压电流保护 :具备片上 VBUS 过压保护(OVP)、过流保护(OCP)、欠压保护(UVP)以及 VBUS 至 CC 短路保护功能,确保设备在异常情况下的安全运行。
温度保护 :通过集成的 ADC 电路和内部温度传感器支持过温保护,同时支持使用外部热敏电阻进行连接器和电路板温度测量。
(五)32 位 MCU 子系统特性
高性能 CPU :采用 48 - MHz Arm® Cortex® - M0 CPU,优化了低功耗运行,具备广泛的时钟门控功能。
大容量存储 :拥有 128 - KB 闪存、16 - KB SRAM 和 32 - KB ROM,为用户应用提供了充足的存储空间。
(六)外设和 GPIO 特性
丰富的 GPIO :多达 13 个 GPIO,包括两个过压 GPIO,可满足各种外部设备的连接需求。
ADC 和 PWM :2 个 8 位 ADC 和 8 个 16 位定时器/计数器/PWM(TCPWM),提供了灵活的模拟和数字信号处理能力。
(七)通信接口特性
具备 3 个 SCB(I²C/SPI/UART/LIN)通信接口,方便与其他设备进行数据通信。
(八)时钟和振荡器特性
集成了振荡器,无需外部时钟,简化了电路设计。
(九)电源供应特性
宽输入输出范围 :输入电压范围为 4 至 24 V,耐压 40 V;输出电压范围为 3.3 至 21.5 V。
集成 LDO :集成了能够提供 5 V @ 75 mA 的 LDO,为其他电路提供稳定的电源。
(十)封装特性
采用 39 引脚 LGA(6 mm × 7 mm)封装,具有 - 40°C 至 + 105°C 的扩展工业温度范围,适用于各种恶劣的工作环境。
三、功能模块详解
(一)MCU 子系统
1. CPU
Cortex® - M0 是一款 32 位 MCU,专为低功耗运行而优化,采用了广泛的时钟门控技术。它主要使用 16 位指令,执行 Thumb - 2 指令集的子集,并包含一个硬件乘法器,能够在一个周期内提供 32 位结果。此外,它还配备了中断控制器(NVIC 块)和唤醒中断控制器(WIC),可从深度睡眠模式中唤醒处理器。
2. 闪存 ROM 和 SRAM
设备拥有 128 - KB 闪存和 32 - KB ROM 用于非易失性存储。ROM 存储了用于认证和设备驱动程序的库,如 (I^{2}C)、SPI 等,从而为用户应用节省了闪存空间。16 - KB RAM 在软件控制下用于存储系统变量和参数的临时状态,同时还提供了一个包含启动和配置例程的监控 ROM。
(二)USB PD 子系统
该子系统为 Type - C USB 端口提供接口,主要包括以下几个部分:
USBPD 物理层 :包含 USBPD 物理层块和支持电路,由发射器和接收器组成,可根据 PD 3.1 标准在 CC 通道上传输 BMC 编码数据。所有通信均为半双工,物理层实现了冲突避免机制,以减少通道上的通信错误。
VCONN 开关和 100mW VCONN 源 :集成了 VCONN 开关和过流保护电路,能够为电子标记电缆组件(EMCA)、VCONN 供电设备(VPD)和 VCONN 供电附件(VPA)提供 100 mW 的 VCONN 电源。
VBUS 欠压和过压保护(UVP 和 OVP) :使用内部电阻分压器监控 VBUS 欠压和过压故障,故障阈值和响应时间可由用户配置。在发生 UVP 或 OVP 时,可配置为在一定数量的用户可配置重试后关闭 Type - C 端口。
VBUS 过流和短路保护(OCP 和 SCP) :使用内部电流感测放大器监控 VBUS 过流和短路故障,OCP 和 SCP 故障阈值和响应时间同样可配置。在发生 OCP 或 SCP 时,可配置为在一定数量的用户可配置重试后关闭 Type - C 端口。
VBUS 输出高侧电流感测放大器(HS CSA) :通过与 VBUS 路径串联的外部电阻(5 mΩ)支持 VBUS 电流测量和控制,用于测量平均输出电流,并在 PPS 电流折返模式下精确控制输出电流。
VBUS 放电控制 :支持高电压(21.5 V)VBUS 放电电路,在检测到设备断开连接、故障或硬复位时,可在 USB 电源传输规范规定的时间内将输出 VBUS 端子放电至 vSafe5V 和/或 vSafe0V。
VBUS 提供者 NFET 栅极驱动器 :集成了高压栅极驱动器,用于驱动 VBUS 提供者路径上的外部高端 NFET。具有可选的缓慢开启功能,可减少输出端的高电流尖峰。
传统充电检测和支持 :实现了对 USB BC.1.2、传统苹果充电、高通快速充电 2.0/3.0/4.0/5.0 和三星 AFC 协议的电池充电器仿真和检测功能。
VBUS 至 CC 短路保护 :CC 引脚集成了防止意外短路到高电压 VBUS 和 VBAT 的保护功能,能够承受高达 24 V 的外部电压而不损坏。在检测到 CC 引脚过压时,可配置为完全关闭 Type - C 端口。
(三)降压 - 升压子系统
该子系统可配置为降压 - 升压模式、仅降压模式或仅升压模式,主要功能模块包括:
高侧(逐周期)电流感测放大器(CSA) :在升压和降压模式下实现峰值电流控制,通过与降压控制 FET 串联的外部电阻(5 mΩ)进行峰值电流感测。该电流感测放大器具有高带宽和非常宽的共模范围,并实现了斜率补偿,以避免内部电流环的次谐波振荡。
高侧和低侧栅极驱动器(HG/LG) :提供两个 N 通道 MOSFET 栅极驱动器,分别用于驱动高端和低端外部 FET。栅极驱动器的驱动强度、死区时间控制和过零电平均可编程,还包含过零检测器(ZCD),用于实现具有二极管仿真功能的不连续导通模式(DCM)。
脉冲宽度调制器(PWM) :生成用于驱动外部 FET 的控制信号,具有多种可编程选项,如最小/最大脉冲宽度、最小/最大周期、频率和脉冲跳过级别,以优化系统设计。支持脉冲跳过模式(PSM)和强制连续导通模式(FCCM),可在轻载条件下优化效率并减少损耗。
误差放大器(EA) :包含两个误差放大器,用于输出电压和电流调节。误差放大器是跨导型放大器,具有单个补偿引脚(COMP)接地,用于电压和电流环路。通过固件配置和控制集成的可编程误差放大器电路,可实现电源部分所需的 VBUS 电压输出。
(四)降压 - 升压控制器工作区域
根据输入电压(VIN)和输出电压(VBUS)的关系,EZ - PD™ CCG7SCF 设备具有以下几种工作区域:
降压区域(VIN >> VBUS) :当 VIN 电压明显高于所需的 VBUS 电压时,设备工作在降压区域。此时,升压侧 FET 被禁用,降压侧 FET 作为具有同步整流功能的降压转换器进行控制。
升压区域(VIN << VBUS) :当 VIN 电压明显低于所需的 VBUS 电压时,设备工作在升压区域。此时,降压侧 FET 被禁用,升压侧 FET 作为具有同步整流功能的升压转换器进行控制。
降压 - 升压区域 1(VIN ~> VBUS) :当 VIN 电压略高于所需的 VBUS 电压时,设备工作在降压 - 升压区域 1。此时,升压侧以固定的 20% 占空比(可编程)工作,降压侧占空比进行调制以控制输出电压。
降压 - 升压区域 2(VIN ~< VBUS) :当 VIN 电压略低于所需的 VBUS 电压时,设备工作在降压 - 升压区域 2。此时,降压侧以固定的 80% 占空比(可编程)工作,升压侧(LG2)占空比进行调制以控制输出电压。
开关频率和扩频 :设备提供 150 kHz 至 600 kHz 的可编程开关频率,并支持在所有工作模式下的扩频时钟。扩频功能对于充电应用至关重要,可通过将开关引起的发射分散到较宽的频谱上,而不是固定频率,从而降低任何特定频率下的峰值能量,满足 EMC/EMI 要求。
(五)模拟块
设备具有两个 8 位 SAR ADC,用于芯片内的通用 A - D 转换应用,可通过片上模拟多路复用器从 GPIOs 访问。
(六)集成数字块
串行通信块(SCB) :具有三个 SCB 块,可配置为 (I^{2}C)、SPI、UART 或 LIN。这些块实现了全多主和从 (I^{2}C) 接口,能够进行多主仲裁,符合标准飞利浦 (I^{2}C) 规范 v3.0。
定时器、计数器、脉冲宽度调制器(TCPWM) :支持八个定时器或计数器或脉冲宽度调制器,可用于固件内部定时器或在 GPIOs 上提供基于 PWM 的功能。
(七)I/O 子系统
设备具有 13 个 GPIOs,包括 (I^{2}C) 和 SWD 引脚,也可作为 GPIOs 使用。GPIO 块具有多种输出驱动模式、输入阈值选择、输入和输出禁用的单独控制、保持模式和可选的压摆率,以进行 dV/dt 相关的噪声控制。此外,一对 GPIOs 具有过压容限(OVT)。
(八)系统资源
看门狗定时器 :由内部低速振荡器(ILO)驱动,可在深度睡眠期间运行,若在超时前未得到服务,可生成看门狗复位。
复位 :设备可通过多种源进行复位,包括软件复位。XRES 引脚是用于断言外部硬件复位的专用引脚。
时钟系统 :具有完全集成的时钟,无需外部晶体。时钟系统负责为所有需要时钟的子系统(SCB 和 PD)提供时钟,并在不同时钟源之间进行切换。
IMO 时钟源 :内部主振荡器是设备内部时钟的主要来源,默认频率为 48 MHz ± 2%。
ILO 时钟源 :内部低功耗振荡器是一种非常低功耗、相对不准确的振荡器,主要用于在 USB 挂起(深度睡眠)模式下为外设操作生成时钟。
四、电源子系统
(一)电源架构
EZ - PD™ CCG7SCF 设备的电源子系统由 VIN 电源供电,VIN 电压范围为 4 V 至 24 V。内部 5V LDO 的输出 VDDD 引脚从 VIN 电源获取输入,电流能力高达 75 mA,包括内部和外部负载。VCCD 引脚是核心(1.8 V)调节器的输出,仅用于连接 0.1 - µF 电容器以确保调节器的稳定性,不支持作为外部负载的电源。
(二)VIN 欠压锁定(UVLO)
支持 UVLO 功能,当输入电压低于可靠水平时,设备将关闭,确保设备在正常运行时的可预测行为。
(三)外部 VDDD 电源使用
默认情况下,不支持外部 VDDD 电源,但可通过固件启用。启用外部 VDDD 电源的前提是始终保持 VIN 高于 VDDD。
(四)电源模式
设备具有多种电源模式,包括 RESET、ACTIVE、SLEEP、DEEP SLEEP 和 XRES,不同模式下的功耗和功能有所不同,具体如下表所示:
模式
描述
RESET
电源有效且 XRES 未断言。内部复位源被断言或睡眠控制器正在对系统进行复位操作
ACTIVE
电源有效且 CPU 正在执行指令
SLEEP
电源有效且 CPU 未执行指令。所有不运行的逻辑都被时钟门控以节省电源
DEEP SLEEP
主调节器和大多数硬 IP 关闭。深度睡眠调节器为逻辑供电,但仅提供低频时钟
XRES
电源有效且 XRES 被断言。核心断电
五、引脚列表
该设备采用 39 - LGA 封装,各引脚具有不同的功能和电压范围,具体引脚信息如下表所示:
引脚编号
引脚名称
绝对最小电压(V)
绝对最大电压(V)
描述
1
NC
浮空,请勿连接
2
SW1
- 0.7
35
降压高端栅极驱动器的负电源轨,连接到降压(输入)侧的开关节点(电感器)
3
NC
浮空,请勿连接
4
PVDD
VDDD
低端栅极驱动器的电源,连接到 VDDD,使用 1 uF 和 0.1 uF 旁路电容器
5
LG2
- 0.5
PVDD + 0.5[1]
升压低端栅极驱动器输出,连接到升压(输出)侧控制(低端)FET 栅极
6
VOUT
- 0.3
24
降压 - 升压转换器的输出,连接到升压同步(高端)FET 的漏极
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