探索AFBR - S4N44P164M 4×4 NUV - MT硅光电倍增管阵列的卓越性能

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探索AFBR - S4N44P164M 4×4 NUV - MT硅光电倍增管阵列的卓越性能

在如今的电子工程领域,对于高精度、高灵敏度的光子检测设备的需求日益增长。博通(Broadcom)的AFBR - S4N44P164M 4×4硅光电倍增管(SiPM)阵列,无疑是满足这一需求的杰出代表。今天,我们就来深入探讨这款产品的特点、性能以及应用。

文件下载:Broadcom AFBR-S4N44P164M 4×4 NUV-MT光电倍增管阵列.pdf

产品概述

AFBR - S4N44P164M是一款用于单光子超灵敏精密测量的4×4硅光电倍增管阵列。它基于NUV - MT技术,相较于NUV - HD技术,在提高光电检测效率(PDE)的同时,降低了暗计数率和串扰。SiPM在两个方向上的间距均为4mm,通过拼接多个阵列,能以16mm的间距覆盖更大面积,且几乎无边缘损耗。其采用环氧透明模塑料封装,机械稳定性和坚固性良好,对紫外线波长高度透明,在可见光光谱中具有广泛响应,对蓝光和近紫外区域的光尤为敏感。

产品特性

物理特性

  • 阵列规格:4×4的阵列布局,尺寸为16.00mm×16.00mm,SiPM间距4mm,便于拼接覆盖大面积。
  • 封装材料:环氧透明模塑料封装,对紫外线高度透明,在可见光光谱有广泛响应,尤其对蓝光和近紫外光敏感。

性能特性

  • 高光电检测效率:在420nm波长处,典型光电检测效率(PDE)可达63%,能有效检测单光子。
  • 低暗计数率和串扰:基于NUV - MT技术,降低了暗计数率和光学串扰,提高了检测精度。
  • 良好的一致性:击穿电压和增益的均匀性优异,保证了阵列各单元性能的一致性。
  • 快速响应:充电时间常数为55ns,能快速响应低水平脉冲光源。

应用领域

硅光电倍增管阵列在多个领域都有广泛的应用,AFBR - S4N44P164M也不例外。它特别适合检测低水平脉冲光源,尤其适用于检测常见有机(塑料)和无机闪烁体材料产生的切伦科夫或闪烁光,如LSO、LYSO、BGO、NaI、CsI、BaF、$LaBr_{3}$等。具体应用场景包括:

  • 射线检测:X射线和伽马射线检测,可用于安检、工业探伤等领域。
  • 核医学:正电子发射断层扫描(PET)等医学成像技术,提高成像的分辨率和灵敏度。
  • 物理实验:高能物理实验中,检测切伦科夫或闪烁光,研究粒子的性质和相互作用。
  • 安全与安防:检测微弱光信号,用于夜视、激光雷达等安全与安防设备。

电气参数与设计要点

绝对最大额定值

在使用AFBR - S4N44P164M时,需要注意其绝对最大额定值,超过这些限制可能会损坏器件。以下是一些关键参数: 参数 符号 最小值 最大值 单位
存储温度 TsG -20 +60
工作温度 TA -20 +50
焊接温度 TSOLD 245
引脚焊接时间 tsLD 60
静电放电电压能力(HBM) ESDHBM 2 kV
静电放电电压能力(CDM) ESDCDM 500 V
工作过电压 Vov 16 V

焊接与布局

  • 回流焊接:该阵列可根据推荐的回流焊接曲线进行焊接,焊接前需在125°C下烘烤16小时。
  • 焊盘布局:具有32个信号引脚,每个SiPM芯片的阳极和阴极可单独连接,阴极在模块上无公共连接。

光学与电气性能参数

几何特性

参数 符号 单位
单器件面积 DA 3.84×3.74 $mm^2$
有效面积 AA 3.72×3.62×16 $mm^2$
单元有效面积 EAA 3.72×3.62 $mm^2$
微单元间距 LCELL 40 μm
每个单元的微单元数量 NCELLS 8334

光学和电气特性

在12V过电压和25°C条件下,部分关键性能参数如下: 参数 符号 最小值 典型值 最大值 单位 参考曲线
光谱范围 λ 300 900 nm 图5
峰值灵敏度波长 λPK 420 nm 图5
击穿电压 VBD 32 32.5 33 V 图7
光电检测效率 PDE 58 63 % 图5、图6
每个单元的暗电流 ID 3.3 19 μA 图7
每个单元的暗计数率 DCR 1.7 7.5 Mcps 图8
单位面积暗计数率 DCRmm2 125 650 kcps/$mm^2$
增益 G 6.0 7.3 8.5 ×$10^6$ 图9
光学串扰 PXTALK 23 30 % 图10
后脉冲概率 PAD <1 5 %
充电时间常数 TFALL 55 ns 图11
标称终端电容 CT 580 pF

这些参数为工程师在设计电路和系统时提供了重要的参考依据。在实际应用中,我们需要根据具体需求,合理选择工作条件和参数,以充分发挥AFBR - S4N44P164M的性能优势。

总结

AFBR - S4N44P164M 4×4 NUV - MT硅光电倍增管阵列凭借其高灵敏度、低噪声、良好的一致性等优点,在单光子检测领域具有广阔的应用前景。作为电子工程师,我们在设计相关系统时,需要充分了解其特性和参数,合理选择工作条件,以确保系统的性能和可靠性。大家在实际应用中是否遇到过类似产品的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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