西门子荣获Elektra Awards 2025年度设计工具与开发软件产品大奖

我们很高兴地宣布，Tessent In-System Test 在 Electronics Weekly 于伦敦举办的知名 Elektra Awards 中，荣获“年度设计工具与开发软件产品”大奖！该软件支持在实际应用场景中部署制造质量测试向量，从而对半导体器件进行持续的测试与监控，确保其在整个运行周期内始终维持最优的性能、可靠性及安全性—这正是驱动人工智能应用的高性能计算 (HPC) 市场与汽车芯片市场的核心需求。

该软件不仅契合我们对可持续发展的关注，更能帮助客户显著延长设备的有效使用寿命，从而同步实现环境效益与经济效益。衷心感谢 Electronics Weekly 与 ElektraAwards 团队，让大家共同见证了推动电子行业发展的优质创新、行业领导力与杰出成就。

Tessent In-System Test 于 2024 年末推出，其研发革新了整个行业—它支持在芯片生命周期内的在系统测试/现场测试中应用高质量确定性测试向量。它已成为在系统测试 (In-System Test) 与硅生命周期管理 (SLM) 领域的行业标准。

会议报名

为了让大家有机会更好地了解这一产品，我们为大家安排一场网络研讨会。主讲人 Lee Harrison(西门子 EDA 产品营销总监)介绍在系统中应用确定性测试向量的优势，以及其在硅生命周期管理战略中的价值。随着半导体行业发展,测试需求从制造阶段延伸到系统阶段。这项技术使制造级测试向量可直接用于系统内测试，从而显著提升测试质量。