GaN功率开关、组件及对EMI产生造成怎样的影响

由于这些新电源开关的快速开关速度与相关更高效率，因此我们希望看到他们能适用于开关模式电源和射频（RF）功率放大器。他们可广泛取代现有的金属氧化物半导体场效晶体管（MOSFET），且具有较低的“On”电阻、更小的寄生电容、更小的尺寸与更快的速度。我已注意到采用这些装置的新产品，其他应用包括电信直流对直流（DC-DC）、无线电源（Wireless  Power）、激光雷达（LiDAR）和D型音频（Class D  Audio）。很显然，任何半导体组件在几皮秒内切换，很可能会产生大量的电磁干扰（EMI）。

为了评估这些GaN组件，Sandler安排我来测试一些评估板。一块我选择测试的是Efficient  Power Conversion的半桥（Half-bridge ）1MHz  DC-DC降压转换器EPC9101（图1），请参考这块测试板上的其他信息，以及一些其他的参考部分。

图1 该演示板用于显示GaN的EMI。该GaN组件被圈定，我会在L1左侧测量切换的波形。

该演示板利用8至19伏特（V）电流，并将其转换为1.2伏20安培（A）（图2），我让它运行在与10奥姆、2瓦（W）负载、10伏特电压状态。

图2 半桥DC-DC转换器的电路图，波形在L1的左端返回处被测试

我试图用一个罗德史瓦兹（R&S）RT-ZS20 1.5  GHz的单端探头捕获边缘速率（图3），并探测L1的切换结束，不过现有测试设备的带宽限制，以至于无法忠实捕捉。我能撷取到最好的（图4）是一个1.5纳秒上升时间（其中，以EMI的角度来看，是相当快的开始！）  为准确地记录典型的300~500皮秒边缘速度将需要30 GHz带宽，或更高的示波器。

图3 采用R&S RTE1104示波器和RT-ZS20 1.5 GHz的单端探头测量前缘

图4 捕获的上升时间显示为217MHz，其显示最快边缘速度为1.5纳秒

但事实上，是在带宽限制下测量

EMI的发生

虽然没能捕捉到实际的上升时间，我在217MHz频率做了评估提醒铃声。正如你稍后将看到的，当我们开始在频域寻找时，该谐振在带宽中产生EMI，并导致一个峰值。无论是信号接脚和接地回路连接到R＆S  RT-ZS20探头，路径都非常短，所以提醒铃声并不是由探针造成，而是电路的寄生共振。

接下来，我量测在电源输入电缆传导的EMI，且透过负载电阻显示EMI传导特征（图5）。

图5 用Fischer F-33-1电流探头进行高频电流的测试

图6显示，整个9k~30MHz的传导发射频段有非常高的1MHz谐波，且都发生在大约9MHz的间隔谐波上，且有些我还不确定其原生处。这些谐波在负载电阻电路上特别高，我怀疑若没有良好质量的线性滤波器，这EMI的数值可能会使传导辐射符合性的测试失败。

图6

用Fischer F-33-1电流探头测量的电源输入缆线中的高频电流（紫线），以及10奥姆负载电阻（蓝线）。黄线是环境噪声位准，在约9  MHz的谐波顶部发生1 MHz的开关尖峰突出。从我的经验来看，蓝色线的位准令人担忧，且可能造成传导辐射测试的失败。

然后将带宽从9KHz拓展到1GHz以便观察谐波可以到多远，然而才约600兆赫就开始渐行渐远。请参看图7。

图7

用Fischer  F-33-1电流探头测量的电源输入缆线中的传导辐射（紫线），以及10奥姆负载电阻（蓝线），黄线是环境噪声测量。辐射所有的出现都在600MHz，须注意共鸣约在220MHz。

最后，我用R&S RS H 400-1  H场（H-field）探针（图8）来量测GaN组件附近的近场和通过负载电阻器的高频电流（图9）。

图8

使用R＆S RS h400-1 H场探针测量接近GaN开关装置近场辐射

图9

H场探针测试结果。黄线是环境噪声位准，紫线是GaN组件附近的测量，蓝线则是在10奥姆的负载电阻，辐射终于在约800MHz处逐渐减少。

注意（除了所有宽带噪声位准，峰值出现在约220  MHz）振铃频率（标示1），以及在460MHz（标示2）的谐振。从过往的经验，我喜欢把谐波位准降到40dBuV显示行（Display  Line），也就是上面几张屏幕截图中的绿线。两个共振都相当接近，并因而导致“红旗”。

GaN组件价值显著

GaN功率开关的价值很明显，效率也比MOSFET来得好。虽然GaN技术已问世，但我只看到少部分数据谈论这些皮秒开关装置如何影响产品EMI的发生。