电子说
在电力电子设计领域,栅极驱动器的性能对于整个系统的效率、稳定性和可靠性起着至关重要的作用。今天我们要深入探讨的UCC21220和UCC21220A,是德州仪器(TI)推出的两款具有卓越性能的4A、6A双通道基本和功能隔离式栅极驱动器,它们在高噪声环境下表现出色,适用于多种电源和电机驱动拓扑。
文件下载:ucc21220a.pdf
UCC21220和UCC21220A具有通用的驱动能力,可以配置为双低侧、双高侧或半桥驱动器。这种灵活性使得它们能够适应各种不同的应用场景,满足多样化的设计需求。
支持基本和功能隔离,共模瞬态抗扰度(CMTI)大于125V/ns,这意味着它们能够在高噪声环境下稳定工作,有效避免信号干扰,确保系统的可靠性。
具有快速的开关参数,典型传播延迟为33ns,最大脉冲宽度失真为5ns,最大VDD上电延迟为10µs。这些特性使得它们能够实现快速的开关动作,减少开关损耗,提高系统效率。
输出驱动电源最高可达25V,提供5V和8V VDD欠压锁定(UVLO)选项。同时,能够提供高达4A的峰值源电流和6A的峰值灌电流,满足不同功率器件的驱动需求。
工作结温范围为 -40°C至150°C,适用于各种恶劣的工业环境。并且计划获得多项安全相关认证,如DIN EN IEC 60747 - 17(VDE 0884 - 17)的4242VPK隔离、UL 1577的3000 VRMS隔离1分钟以及GB4943.1 - 2022的CQC认证,为系统的安全性提供保障。
UCC21220和UCC21220A的出色性能使其在多个领域得到广泛应用,包括但不限于:
UCC21220和UCC21220A在VDD和VCCI电源电路块中都具有内部欠压锁定(UVLO)保护功能。当VDD偏置电压低于启动阈值或启动后低于关闭阈值时,VDD UVLO功能会将受影响的输出拉低,无论输入引脚(INA和INB)的状态如何。同样,输入侧的UVLO保护确保只有当VCCI电压超过启动阈值时,设备才会激活;当VCCI电压低于关闭阈值时,信号传输将停止。这种保护机制有助于防止设备在低电压条件下误操作,提高系统的稳定性。
输入引脚(INA、INB和DIS)基于TTL和CMOS兼容的输入阈值逻辑,与VDD电源电压完全隔离。输入引脚易于由逻辑电平控制信号驱动,具有典型的高阈值2V和低阈值1V,并且阈值随温度变化很小,具有1V的宽滞后,提供良好的抗噪性和稳定的操作。输出阶段能够提供4A的峰值源电流和6A的峰值灌电流,输出电压在VDD和VSS之间摆动,实现轨到轨操作。
输出级采用独特的上拉结构,在功率开关导通过渡的米勒平台区域,能够提供最高的峰值源电流,实现快速导通。上拉结构由一个P沟道MOSFET和一个额外的上拉N沟道MOSFET并联组成,N沟道MOSFET在输出从低到高状态转换的瞬间短暂导通,提供峰值源电流的提升,有效降低了上拉阶段的有效电阻。下拉结构由一个N沟道MOSFET组成,确保输出能够快速拉低。
设置DIS引脚为高电平(或浮空)会同时关闭两个输出,将DIS引脚接地则允许设备正常工作。DIS引脚响应迅速,在传播延迟和其他开关参数方面表现出色。当VCCI保持在UVLO阈值以上时,DIS引脚才起作用。为了获得更好的抗噪性,建议在不使用DIS引脚时将其接地,并在连接到微控制器时,在DIS引脚附近使用一个约1nF的低ESR/ESL电容进行旁路。
以UCC21220或UCC21220A驱动650 - V MOSFET的高低侧配置为例,设计要求包括:
建议使用一个小的输入RIN - CIN滤波器来滤除由非理想布局或长PCB走线引入的振铃。RIN的取值范围为0Ω至100Ω,CIN的取值范围为10pF至100pF。在示例中,选择RIN = 51Ω和CIN = 33pF,拐角频率约为100MHz。在选择这些组件时,需要注意良好的抗噪性和传播延迟之间的权衡。
自举电容在低侧晶体管导通时通过外部自举二极管由VDD充电。为了最小化反向恢复损耗和相关的接地噪声反弹,建议选择高压、快速恢复二极管或具有低正向电压降和低结电容的SiC肖特基二极管。在示例中,由于直流母线电压为400V,选择了600 - V的超快二极管MURA160T3G。同时,使用一个自举电阻RBOOT来减少D BOOT中的浪涌电流,并限制每个开关周期内VDDA - VSSA电压的上升斜率,建议值为1Ω至20Ω,示例中选择了2.2Ω的限流电阻。
外部栅极驱动器电阻RON / ROFF用于限制由寄生电感/电容、高电压/电流开关dv/dt、di/dt和体二极管反向恢复引起的振铃,微调栅极驱动强度,优化开关损耗,并减少电磁干扰(EMI)。通过相关公式可以计算出高侧和低侧的峰值源电流和峰值灌电流,但需要注意的是,估计的峰值电流还会受到PCB布局和负载电容的影响,因此建议尽量减小栅极驱动器环路的长度。
栅极驱动器子系统的总损耗PG包括UCC21220和UCC21220A的功率损耗PGD以及外围电路的功率损耗。PGD是决定器件热安全相关限制的关键因素,可以通过计算静态功率损耗PGDQ和开关操作损耗PGDO来估计。静态功率损耗包括驱动器的静态功耗和在一定开关频率下的自功耗;开关操作损耗与负载电容有关,驱动器在每个开关周期内对负载进行充电和放电。根据不同的情况,PGDO的计算方法有所不同,需要根据源/灌电流是否饱和来选择合适的计算公式。
UCC21220和UCC21220A的结温TJ可以通过公式TJ = TC + ΨJT × PGD来估计,其中TC是通过热电偶或其他仪器测量的器件顶部温度,ΨJT是结到顶部的特征参数。需要注意的是,ΨJT是基于JEDEC标准PCB板开发的,当PCB板布局不同时,该参数可能会发生变化。
当非理想的PCB布局和长封装引脚引入寄生电感时,功率晶体管的栅源驱动电压在高di/dt和dv/dt开关过程中可能会出现振铃。为了防止振铃超过阈值电压导致意外导通甚至直通,通常会在栅极驱动上施加负偏置。常见的实现方法有以下几种:
UCC21220和UCC21220A的推荐输入电源电压(VCCI)为3V至5.5V,输出偏置电源电压(VDDA/VDDB)范围为9.2V至25V。为了确保设备正常工作,不得让VDD或VCCI低于各自的UVLO阈值。在VDD和VSS引脚之间应放置一个本地旁路电容,建议使用低ESR的陶瓷表面贴装电容,包括一个约10 - µF的电容用于器件偏置和一个额外的100 - nF电容用于高频滤波。同样,在VCCI和GND引脚之间也应放置一个旁路电容,由于输入侧逻辑电路的电流消耗较小,该旁路电容的最小推荐值为100nF。
低ESR和低ESL的电容应靠近器件放置在VCCI和GND引脚之间以及VDD和VSS引脚之间,以支持外部功率晶体管导通时的高峰值电流。为了避免开关节点VSSA(HS)引脚出现大的负瞬变,应尽量减小顶部晶体管源极和底部晶体管源极之间的寄生电感。当DIS引脚连接到微控制器时,建议在其附近使用一个≥1 - nF的低ESR/ESL电容进行旁路。
应将对晶体管栅极进行充电和放电的高峰值电流限制在最小的物理区域内,以减小环路电感,降低晶体管栅极端子上的噪声。栅极驱动器应尽可能靠近晶体管放置。同时,要注意包括自举电容、自举二极管、本地VSSB参考旁路电容和低侧晶体管体/反并联二极管的高电流路径,尽量减小该环路在电路板上的长度和面积,以确保可靠运行。
为了确保初级和次级侧之间的隔离性能,应避免在驱动器器件下方放置任何PCB走线或铜箔。建议在PCB上进行切口,以防止可能影响UCC21220和UCC21220A隔离性能的污染。对于半桥或高低侧配置,应尽量增加高低侧PCB走线之间的间隙距离。
如果驱动电压高、负载重或开关频率高,UCC21220和UCC21220A可能会消耗大量功率。合理的PCB布局可以帮助将热量从器件散发到PCB上,最小化结到电路板的热阻抗(θJB)。建议增加连接到VDDA、VDDB、VSSA和VSSB引脚的PCB铜箔面积,优先考虑最大化与VSSA和VSSB的连接。如果系统中有多层板,建议通过多个适当尺寸的过孔将VDDA、VDDB、VSSA和VSSB引脚连接到内部接地或电源平面,并确保不同高压平面的走线或铜箔不重叠。
UCC21220和UCC21220A作为高性能的隔离式栅极驱动器,具有灵活的配置、强大的隔离性能、高速开关特性和完善的保护功能,适用于多种电源和电机驱动应用。在设计过程中,需要根据具体的应用需求,合理选择组件参数,优化电源和布局设计,以充分发挥其性能优势,确保系统的高效、稳定和可靠运行。希望本文能够为电子工程师在使用UCC21220和UCC21220A进行设计时提供有价值的参考。你在实际应用中是否遇到过类似的设计挑战?你是如何解决的呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !