宏展科技北京帮您整理应力筛选温度变化温度循环规范标准列表

应力筛选规范：

MIL-202C-106、107        电子及电器部件试验方法标准
MIL-781        可靠性试验方法手册
HB/Z213        机载电子设备环境应力筛选指南
HB6206        机载电子设备环境应力筛选方法
JESD22-A109-A        器密试验方法
TE000-AB-GTP-020        环境应力筛选要求与海军电子设备应用
CFR-Title 47-Chapter I-68.302        美国联邦通讯委员会环境模拟
GJB/Z34        电子产品定量环境应力筛选指南
HB/Z213        组件级环境应力筛选

温度循环：
EC 68-2-14        温度变化
MIL-STD-2164        电子设备环境应力筛选方法=GJB1032-1990
GJB1032-1990        电子设备环境应力筛选方法
DOD-HDBK-344        电子设备环境应力筛选=GJB/Z34-1993
NABMAT-9492        美军海军製造筛选
JIS C5030        热循环试验

零件预烧试验：
MIL-STD-883,Method 1008        预烧
MIL-STD-883,Method 1015        (IC类预烧)
MIL-STD-750,Method 1038        (二极体类预烧)
MIL-STD-750,Method1039        电晶体类预烧)
MIL-STD-883,Method 1010        温度循环
MIL-M-38510        军用微型电路的一般规格
MIL-S-19500        半导体器件要求和特点

系统预烧：
MIL-781        可靠性设计鉴定与生产接收试验
MIL-810        美国军标环境工程考虑和实验室试验

 

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