为估算半导体器件的结温,会对封装表面温度进行测量,但如果测量操作有误,可能无法得到准确结果。本应用笔记将说明温度测量过程中的注意事项。此外,本应用笔记的内容不依赖于半导体器件的种类,具有普遍适用性。
使用热电偶进行的热测量
热电偶是测量半导体封装表面温度的方法之一,但操作不当可能会得到与实际情况不符的结果,因此需要格外注意。除热电偶外,表面温度测量还可采用热成像法;不过,由于最终产品通常被外壳包裹,大部分情况下无法直接观察到测量对象,因此罗姆公司采用了基于热电偶的接触式测量方法。
使用热电偶测量时的注意点
热电偶的种类
热电偶的尺寸
热电偶的尖端处理
热电偶的安装位置
热电偶的固定方法
热电偶导线的布线方法
测量环境必须复现最终产品的使用条件
热电偶温度测量的特征与注意事项
特征
测量的是封装表面的温度。
由于热电偶属于接触型测温元件,其安装方式的差异极易导致测量误差。
无法直接测量结温。
注意事项
热电偶类型多样,若未根据半导体器件的测温需求选择适配类型,易导致测量温度偏低。推荐使用K型规格1热电偶。
热电偶线径过粗时,会导致测量温度偏低。推荐使用AWG 36~40规格的导线。
热电偶的尖端处理以焊接为最佳。若采用绞合线处理,测量温度会偏低。
热电偶的安装位置应设在封装表面的中心。若从中心位置偏移,将无法准确测量温度。
固定方法推荐使用最小剂量的环氧树脂胶粘剂。若使用聚酰亚胺胶带,热电偶可能会从器件表面脱离,导致测得的温度偏低。
热电偶导线的布线方式需沿着封装本体布设至PCB板。采用这种布线方式,能够起到减轻因导线散热导致热电偶粘合部的温度下降效果。
测量环境必须与最终产品的实际使用环境保持一致。
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