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在电子设计领域,高速、高效且稳定的MOSFET驱动器至关重要。MAXIM推出的MAX5062/MAX5063/MAX5064系列125V/2A高速半桥MOSFET驱动器,凭借其出色的性能和丰富的特性,在众多应用中展现出强大的优势。下面,我们就来深入了解一下这款驱动器。
文件下载:MAX5063.pdf
MAX5062、MAX5063和MAX5064是为高压应用设计的高频、125V半桥n沟道MOSFET驱动器,能够独立控制高端和低端MOSFET。其典型的35ns输入到输出传播延迟,匹配精度可达3ns(典型值),这种极低且匹配的传播延迟,以及在热增强封装中具备的高源/灌电流能力,使其非常适合用于高功率、高频的电信电源转换器。
该系列驱动器最高支持125V输入电压,VDD输入电压范围为8V至12.6V,提供2A峰值源和灌电流驱动能力,有CMOS(VDD / 2)或TTL逻辑电平输入可供选择,且具备高达15V的逻辑输入,独立于输入电压,输入电容低至2.5pF,可减少负载并提高开关速度。此外,该系列驱动器还支持可编程的先断后通时序(MAX5064),在驱动100nC栅极电荷时,组合开关频率可达1MHz。
2A的峰值源和灌电流驱动能力,可有效驱动高栅极电荷的MOSFET,满足高功率应用的需求。
提供CMOS(VDD / 2)和TTL逻辑电平输入两种选择,且逻辑输入独立于输入电压,并具备滞回特性,可有效防止过渡期间的双脉冲现象,同时还能保护逻辑输入免受高达15V的电压尖峰影响。
通过连接10kΩ至100kΩ的电阻到BBM引脚,可将先断后通时间(tBBM)从16ns编程到95ns,有效避免半桥和同步降压拓扑中出现直通电流,降低功耗和EMI辐射。
提供8引脚SO、热增强型SO和12引脚薄型QFN等封装形式,可根据不同的应用场景和散热要求进行选择。
内部自举二极管连接在VDD和BST之间,典型正向电压降为0.9V,典型开关时间为40ns,为高端MOSFET驱动器提供可靠的电源供应。
在不同负载电容和温度条件下,驱动器的上升时间、下降时间、导通和关断传播延迟时间等开关特性有详细的参数,确保在各种应用场景下的快速响应和稳定性能。同时,还提供了先断后通精度和内部非重叠时间等参数,进一步优化开关性能。
文档中给出了一系列典型工作特性曲线,包括VDD和BST欠压锁定迟滞与温度的关系、电源电流与VDD和频率的关系、输出低电压与温度的关系、上升和下降时间以及传播延迟与温度的关系等。通过这些曲线,我们可以直观地了解驱动器在不同条件下的性能表现,为设计提供重要参考。
高低侧驱动器均具备欠压锁定功能。当VDD低于6.8V时,低端驱动器的UVLOLOW阈值将两个驱动器输出拉低;当BST相对于HS低于6.4V时,高端驱动器的UVLOHIGH阈值将DH拉低。在启动时,需要确保VDD和BST电压超过相应的UVLO阈值,同时要注意自举电容的选择,一般建议选择比MOSFET总栅极电容大20倍左右的电容,且使用低ESR的X7R介质陶瓷电容。
输出级采用低RDS_ON的p沟道和n沟道器件(图腾柱结构),可实现高栅极电荷开关MOSFET的快速导通和关断。典型的峰值源和灌电流为2A,逻辑输入到驱动器输出的传播延迟匹配在8ns以内,内部p和n沟道MOSFET具备1ns的先断后通逻辑,可避免交叉导通,减少直通电流和电源电流,降低VDD上的尖峰。
内部自举二极管与外部连接在BST和HS之间的自举电容配合使用。当DL低端开关导通时,二极管从VDD对电容充电;当高端驱动器导通,HS被拉高时,二极管隔离VDD。为了降低VDD到BST的电压降,也可在VDD和BST之间连接外部肖特基二极管。
在半桥和同步降压拓扑中,为避免直通电流,需要在一个开关导通之前先断开另一个开关。MAX5064通过BBM功能实现可编程的先断后通时间,通过连接不同阻值的电阻到BBM引脚,可在16ns至95ns范围内调整tBBM。同时,需要考虑传播延迟失配(tMATCH_)对总tBBM的影响,可使用相应的公式计算所需的电阻值和tBBM误差。
MAX5062/MAX5064A为CMOS(VDD / 2)逻辑输入驱动器,MAX5063/MAX5064B为TTL兼容逻辑输入驱动器。逻辑输入信号独立于VDD,且具备抗电压尖峰能力,TTL和CMOS逻辑输入分别有400mV和1.6V的滞回电压,可避免过渡期间的双脉冲现象。逻辑输入为高阻抗引脚,不能浮空,内部通过1MΩ电阻将同相输入下拉到GND,反相输入上拉到VDD。MAX5064每个驱动器有两个逻辑输入,可提供更灵活的MOSFET控制方式。
由于采用单触发电平转换器架构,该系列驱动器在输出端会产生最小脉冲宽度(tDMIN)。在低占空比时,DH的最小高脉冲宽度(tDMIN-DH-H)应低于DL的最小低脉冲宽度(tDMIN-DL-L);在高占空比时,DH的最小低脉冲宽度(tDMIN-DH-L)应高于DL的最小低脉冲宽度(tDMIN-DL-L),以避免重叠和直通电流。若未提供外部BBM延迟,可能会出现约40ns的重叠,建议在INH路径中添加外部延迟,确保INH处的最小低脉冲宽度始终大于tPW-MIN。
在设计中,要特别注意MAX5062/MAX5063/MAX5064的旁路和接地。当两个驱动器同向驱动大外部电容负载时,峰值电源和输出电流可能超过4A,电源压降和接地偏移会影响驱动器的延迟和过渡时间,还可能干扰共享同一交流接地返回路径的其他电路。因此,应尽可能在靠近器件的位置并联一个或多个0.1µF陶瓷电容,将VDD旁路到GND(MAX5062/MAX5063)或PGND(MAX5064),使用接地平面以最小化接地返回电阻和串联电感,并将外部MOSFET尽可能靠近驱动器放置,以减少电路板电感和交流路径电阻。对于MAX5064,要将低功率逻辑接地(AGND)与高功率驱动器返回(PGND)分开。
驱动器的功率耗散主要来自内部自举二极管、nMOS和pMOS FET的功率损耗。对于电容性负载,总功率耗散可通过公式计算,使用内部自举二极管和外部肖特基二极管时的功率耗散有所不同。在不同封装形式下,要确保总功率耗散不超过最大允许值,例如12引脚TQFN封装在TA = +70°C环境下的最大允许功率耗散为1.951W。
由于驱动器需要源出和灌入大电流以在开关MOSFET的栅极产生非常快的上升和下降沿,高di/dt可能会导致不可接受的振铃。因此,在PCB布局时,要确保VDD和BST电压不超过13.2V,在VDD到GND(MAX5062/MAX5063)或PGND(MAX5064)以及BST到HS之间靠近器件放置一个或多个低ESL 0.1µF去耦陶瓷电容,电容值至少为被驱动栅极电容的20倍。要注意最小化驱动器与MOSFET栅极之间形成的交流电流回路的物理距离和阻抗,将TQFN(MAX5064)或SO(MAX5062C/D和MAX5063C/D)封装的外露焊盘焊接到大面积铜平面以实现额定功率耗散,在VDD的去耦电容返回附近将AGND和PGND单点连接。
文档中给出了多种典型应用电路,包括MAX5062半桥转换、MAX5064同步降压转换器、双开关正激转换器和MAX5064半桥转换器等。这些电路展示了该系列驱动器在不同拓扑结构中的应用,为工程师提供了实际的设计参考。
综上所述,MAX5062/MAX5063/MAX5064系列125V/2A高速半桥MOSFET驱动器凭借其丰富的特性、出色的性能和多样化的应用电路,是电信半桥电源、双开关正激转换器、全桥转换器、有源钳位正激转换器、电源模块和电机控制等应用的理想选择。在实际应用中,工程师可以根据具体需求选择合适的型号和封装,并严格遵循布局和设计指南,以充分发挥该系列驱动器的性能优势。你在使用这类驱动器时遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区交流分享。
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