电子说
在电子设计领域,串行EEPROM是不可或缺的存储元件,广泛应用于各种低功耗、非易失性存储场景。Microchip Technology Inc.的93XX66A/B/C系列4Kbit低电压串行EEPROM,凭借其丰富的特性和多样的封装形式,成为众多工程师的理想选择。今天,我们就来深入剖析这款产品,为大家在硬件设计中提供参考。
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Microchip的93XX66A/B/C系列是4Kbit低电压串行电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)。不同型号在工作电压范围、字长、温度范围等方面有所差异,可根据具体应用需求进行选择。
| 产品型号 | VCC范围 | ORG引脚 | 字长 | 温度范围 | 封装形式 |
|---|---|---|---|---|---|
| 93AA66A | 1.8 - 5.5V | 无 | 8位 | 工业级(I) | P, SN, ST, MS, OT, MC, MN |
| 93AA66B | 1.8 - 5.5V | 无 | 16位 | 工业级(I) | P, SN, ST, MS, OT, MC, MN |
| 93LC66A | 2.5 - 5.5V | 无 | 8位 | 工业级(I)、汽车级(E) | P, SN, ST, MS, OT, MC, MN |
| 93LC66B | 2.5 - 5.5V | 无 | 16位 | 工业级(I)、汽车级(E) | P, SN, ST, MS, OT, MC, MN |
| 93C66A | 4.5 - 5.5V | 无 | 8位 | 工业级(I)、汽车级(E) | P, SN, ST, MS, OT, MC, MN |
| 93C66B | 4.5 - 5.5V | 无 | 16位 | 工业级(I)、汽车级(E) | P, SN, ST, MS, OT, MC, MN |
| 93AA66C | 1.8 - 5.5V | 有 | 8或16位可选 | 工业级(I) | P, SN, ST, MS, MC, MN |
| 93LC66C | 2.5 - 5.5V | 有 | 8或16位可选 | 工业级(I)、汽车级(E) | P, SN, ST, MS, MC, MN |
| 93C66C | 4.5 - 5.5V | 有 | 8或16位可选 | 工业级(I)、汽车级(E) | P, SN, ST, MS, MC, MN |
对于需要灵活选择字长的应用,可选用带有ORG引脚的93XX66C系列;若对工作电压要求较低,93AA66系列是不错的选择;而对工作电压要求较高的应用,则可考虑93C66系列。
| 在使用过程中,必须严格遵守绝对最大额定值,否则可能会对设备造成永久性损坏。 | 参数 | 额定值 |
|---|---|---|
| VCC | 7.0V | |
| 所有输入和输出相对于VSS | -0.6V至VCC + 1.0V | |
| 存储温度 | -65°C至+150°C | |
| 通电时环境温度 | -40°C至+125°C | |
| 所有引脚的ESD保护 | ≥ 4 kV |
| DC特性参数在不同的工作电压和温度范围内有所不同,具体如下表所示: | 参数编号 | 符号 | 参数 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | 条件 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| D1 | VIH1、VIH2 | 高电平输入电压 | 2.0V(VCC ≥ 2.7V)、0.7VCC(VCC < 2.7V) | - | VCC + 1V | V | - | |
| D2 | VIL1、VIL2 | 低电平输入电压 | -0.3V | - | 0.8V(VCC ≥ 2.7V)、0.2VCC(VCC < 2.7V) | V | - | |
| D3 | VOL1、VOL2 | 低电平输出电压 | - | - | 0.4V(IOL = 2.1 mA,VCC = 4.5V)、0.2V(IOL = 100 μA,VCC = 2.5V) | V | - | |
| D4 | VOH1、VOH2 | 高电平输出电压 | 2.4V(IOH = -400 μA,VCC = 4.5V)、VCC - 0.2V(IOH = -100 μA,VCC = 2.5V) | - | - | V | - | |
| D5 | ILI | 输入泄漏电流 | - | - | ±1 μA | μA | VIN = VSS或VCC | |
| D6 | ILO | 输出泄漏电流 | - | - | ±1 μA | μA | VOUT = VSS或VCC | |
| D7 | CIN、COUT | 引脚电容(所有输入/输出) | - | - | 7 pF | pF | VIN/VOUT = 0V(注1),TA = 25°C,FCLK = 1 MHz | |
| D8 | ICC write | 写入电流 | - | - | 2 mA(FCLK = 3 MHz,Vcc = 5.5V)、500 μA(FCLK = 2 MHz,Vcc = 2.5V) | mA、μA | - | |
| D9 | ICC read | 读取电流 | - | - | 1 mA(FCLK = 3 MHz,VCC = 5.5V)、500 μA(FCLK = 2 MHz,VCC = 3.0V)、100 μA(FCLK = 2 MHz,VCC = 2.5V) | mA、μA | - | |
| D10 | ICCS | 待机电流 | - | - | 1 μA(工业温度)、5 μA(汽车温度) | μA | CLK = Cs = 0V,ORG = DI = VSS或VCC(注2、注3) | |
| D11 | VPOR | VCC电压检测 | - | 1.5V(93AA66A/B/C、93LC66A/B/C)、3.8V(93C66A/B/C) | - | V | (注1) |
注1:该参数为定期采样,并非100%测试。注2:‘A’或‘B’版本无ORG引脚。注3:必须从DO清除Ready/Busy状态;见3.4节“数据输出(DO)”。
| AC特性参数同样与工作电压和温度有关,具体如下表: | 参数编号 | 符号 | 参数 | 最小值 | 最大值 | 单位 | 条件 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| A1 | FCLK | 时钟频率 | - | 3 MHz(4.5V ≤ VCC < 5.5V,93XX66C仅)、2 MHz(2.5V ≤ VCC < 5.5V)、1 MHz(1.8V ≤ VCC < 2.5V) | MHz | - | |
| A2 | TCKH | 时钟高电平时间 | 200 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V,93XX66C仅)、250 ns(2.5V ≤ VCC < 5.5V)、450 ns(1.8V ≤ VCC < 2.5V) | - | ns | - | |
| A3 | TCKL | 时钟低电平时间 | 100 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V,93XX66C仅)、200 ns(2.5V ≤ VCC < 5.5V)、450 ns(1.8V ≤ VCC < 2.5V) | - | ns | - | |
| A4 | TCSS | 片选建立时间 | 50 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V)、100 ns(2.5V ≤ VCC < 4.5V)、250 ns(1.8V ≤ VCC < 2.5V) | - | ns | - | |
| A5 | TCSH | 片选保持时间 | 0 ns | - | ns | 1.8V ≤ VCC < 5.5V | |
| A6 | TCSL | 片选低电平时间 | 250 ns | - | ns | 1.8V ≤ VCC < 5.5V | |
| A7 | TDIS | 数据输入建立时间 | 50 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V,93XX66C仅)、100 ns(2.5V ≤ VCC < 5.5V)、250 ns(1.8V ≤ VCC < 2.5V) | - | ns | - | |
| A8 | TDIH | 数据输入保持时间 | 50 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V,93XX66C仅)、100 ns(2.5V ≤ VCC < 5.5V)、250 ns(1.8V ≤ VCC < 2.5V) | - | ns | - | |
| A9 | TPD | 数据输出延迟时间 | - | 200 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V,CL = 100 pF)、250 ns(2.5V ≤ VCC < 4.5V,CL = 100 pF)、400 ns(1.8V ≤ VCC < 2.5V,CL = 100 pF) | ns | - | |
| A10 | TCZ | 数据输出禁用时间 | - | 100 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V,注1)、200 ns(1.8V ≤ VCC < 4.5V,注1) | ns | - | |
| A11 | TSV | 状态有效时间 | - | 200 ns(4.5V ≤ VCC < 5.5V,CL = 100 pF)、300 ns(2.5V ≤ VCC < 4.5V,CL = 100 pF)、500 ns(1.8V ≤ VCC < 2.5V,CL = 100 pF) | ns | - | |
| A12 | TWC | 编程周期时间 | - | 6 ms(擦除/写入模式,AA和LC版本) | ms | - | |
| A13 | TWC | - | 2 ms(擦除/写入模式,93C版本) | ms | - | ||
| A14 | TEC | - | 6 ms(ERAL模式,4.5V ≤ VCC ≤ 5.5V) | ms | - | ||
| A15 | TWL | - | 15 ms(WRAL模式,4.5V ≤ VCC ≤ 5.5V) | ms | - | ||
| A16 | - | 耐久性 | 1M | - | 周期 | 25°C,VCC = 5.0V,(注2) |
注1:该参数为定期采样,并非100%测试。注2:此应用未测试,但通过特性保证。对于特定应用中的耐久性估计,请参考Total Endurance™模型,可从Microchip网站(www.microchip.com)获取。
当CS和DI在CLK的上升沿同时为高电平时,设备检测到启动位。在检测到启动条件之前,CS、CLK和DI可以任意组合变化(除启动条件外),不会触发设备操作。一旦CS为高电平,设备将退出待机模式。启动条件之后的指令,只有在时钟输入所需的操作码、地址和数据位后才会执行。
DI和DO引脚可以连接在一起,但在这种配置下,当A0为逻辑高电平时,可能会在读取操作前的“虚拟零”期间发生“总线冲突”。为了限制电流,建议在DI和DO之间连接一个电阻。
当VCC低于典型电压时,所有操作模式将被禁止:‘93AA’和‘93LC’设备为1.5V,‘93C’设备为3.8V。EWEN和EWDS命令可提供额外的数据保护,防止在正常操作期间意外编程。每次写入操作后,建议执行EWDS命令以增强保护。
ERASE指令将指定地址的所有数据位强制设置为逻辑‘1’。在加载最后一个地址位后,CS拉低,对于‘93C’设备,在最后一个地址位之前的CLK上升沿启动写入周期。通过检测DO引脚的状态,可以判断设备的Ready/Busy状态。
ERAL指令将整个存储阵列擦除为逻辑‘1’状态。该操作与擦除操作类似,只是操作码不同。对于‘93C’设备,在最后一个数据位之前的CLK上升沿启动写入周期。执行ERAL操作时,VCC必须≥ 4.5V。
设备上电后默认处于擦除/写入禁用(EWDS)状态,所有编程模式必须先执行擦除/写入启用(EWEN)指令。EWDS指令可用于禁用所有擦除/写入功能,应在所有编程操作后执行。读取指令的执行与EWEN和EWDS指令无关。
READ指令将寻址存储位置的串行数据输出到DO引脚。输出数据前会有一个虚拟零位,输出数据位在CLK的上升沿切换,并在指定的时间延迟(TPD)后稳定。当CS保持高电平时,可实现顺序读取。
WRITE指令后跟随8位(ORG引脚为低电平或A版本设备)或16位(ORG引脚为高电平或B版本设备)的数据,写入指定地址。对于93AA66A/B/C和93LC66A/B/C设备,在最后一个数据位时钟输入到DI后,CS的下降沿启动自定时自动擦除和编程周期;对于93C66A/B/C设备,最后一个数据位的CLK上升沿启动该周期。通过检测DO引脚的状态,可以判断设备的Ready/Busy状态。
WRAL指令将整个存储阵列写入指定的数据。该操作与写入操作类似,对于‘93C’设备,在最后一个数据位的CLK上升沿启动自定时自动擦除和编程周期。执行WRAL操作时,VCC必须≥ 4.5V,且芯片必须处于EWEN状态。
| 引脚名称 | PDIP | SOIC | TSSOP | MSOP | DFN (1) | TDFN (1) | SOT - 23 | 旋转SOIC | 功能 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| CS | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | 5 | 3 |
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