SCANSTA101 低电压 IEEE 1149.1 系统测试访问 (STA) 主设备

KANA 发表于 2018-10-16 11:16:58

数据: SCANSTA101 Low Voltage IEEE 1149.1 System Test Access (STA) Master 数据表

描述

SCANSTA101设计用作IEEE 1149.1边界扫描测试系统的测试主机。它适用于嵌入式IEEE 1149.1应用,也可作为独立边界扫描测试仪的组件。

SCANSTA101是SCANPSC100的增强版本和替代品。 SCANSTA101支持IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)标准和IEEE 1532标准,用于可编程设备的系统内配置。

SCANSTA101可提高测试向量吞吐量并降低系统处理器的软件开销。 SCANSTA101为系统处理器提供了一个简单的基于寄存器的接口。德州仪器(TI)提供可包含在嵌入式系统软件中的C语言源代码。 SCANSTA101及其支持软件的组合包括一个用于边界扫描操作的简单API。

从SCANSTA101到系统处理器的接口是通过读写寄存器来实现的,其中一些寄存器映射到SCANSTA101内存。硬件握手和中断线作为处理器接口的一部分提供。

SCANSTA101作为独立器件提供,采用49引脚NFBGA封装。它也可用作可编程逻辑器件中的IP宏。

特性

  • 与IEEE标准版兼容。 1149.1(JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
  • 德州仪器(TI)的SCAN Ease(SCAN嵌入式应用软件启动器)软件版本2.0支持
  • 使用通用,异步处理器接口;兼容多种处理器和处理器时钟(PCLK)频率
  • 16位数据接口(IP可扩展至32位)
  • 2k x 32位双端口存储器< /li>
  • 支持即时加载(LotF)和预加载的矢量运行模式
  • 板载序列发生器允许多向量操作,例如将数据加载到FPGA所需的操作
  • 板载比较支持测试数据(TDI)验证与预加载的预期数据
  • 32位线性反馈移位寄存器(LFSR)在用于签名压缩的测试数据输入(TDI)端口
  • 状态,移位和BIST宏允许使用预定测试模式选择(TMS)序列
  • 在3.3 V电源电压下工作,具有5 V容差I /O
  • 输出支持掉电TRI-STATE模式。

所有商标均为其各自所有者的财产。

参数 与其它产品相比 其他接口

 
Operating Temperature Range (C)
Package Group
Package Size: mm2:W x L (PKG)
Pin/Package
SCANSTA101 SCANSTA112
-40 to 85     -40 to 85    
NFBGA     NFBGA
TQFP    
49NFBGA: 49 mm2: 7 x 7(NFBGA)     100NFBGA: 100 mm2: 10 x 10(NFBGA)
100TQFP: 256 mm2: 16 x 16(TQFP)    
49NFBGA     100NFBGA
100TQFP    

方框图 (1)

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