电子说
在电子设计领域,尤其是涉及太空等辐射环境的应用中,一款可靠的辐射加固eFuse至关重要。今天我们就来深入探讨德州仪器(TI)的TPS7H2211-SP和TPS7H2211-SEP这两款辐射加固eFuse,看看它们有哪些独特之处。
文件下载:tps7h2211-sep.pdf
这两款eFuse具有出色的辐射耐受性。总电离剂量(TID)特性可达100krad(Si),且具备100krad(Si)的辐射硬度保证。同时,对单粒子效应(SEE)进行了全面表征,在单粒子闩锁(SEL)、单粒子烧毁(SEB)和单粒子栅极破裂(SEGR)方面,对线性能量转移(LET) = 75 MeV - cm² / mg具有免疫能力;单粒子功能中断(SEFI)和单粒子瞬态(SET)特性也达到了LET = 75 MeV - cm² / mg。这种强大的辐射耐受性使得它们在太空等辐射环境中能够稳定工作。
在卫星的电气电源系统(EPS)中,TPS7H2211-SP和TPS7H2211-SEP可用于冷备用电源(冗余)、电源排序、命令和数据处理以及通信有效载荷等方面。其辐射耐受性和保护功能能够确保卫星在太空辐射环境下稳定运行。
在需要辐射加固和耐受的电源系统中,这两款eFuse可作为关键组件,为整个电源树提供可靠的保护和控制。
TPS7H2211有多种器件选项可供选择,包括不同的辐射等级、封装和订购编号。例如,TPS7H2211-SP有QMLV - RHA、QMLP - RHA、QMLV等不同等级,封装有16 - pin HKR CFP、32 - pin DAP HTSSOP等;TPS7H2211 - SEP则适用于太空增强塑料封装,为不同应用场景提供了更多选择。
文档还提供了裸片的相关信息,包括键合焊盘的金属化成分、厚度、尺寸等,为芯片级设计提供了详细的数据支持。
不同封装的热特性有所不同,例如TPS7H2211 - SP HKR(CFP)16引脚的结到环境热阻为23°C/W,而TPS7H2211 - SEP DAP(HTSSOP)32引脚的结到环境热阻为23.5°C/W。在设计时,需要根据实际应用考虑热性能。
文档详细列出了各种电气特性,包括电源和电流、软启动、使能输入、过压保护、电流限制和热关断等方面的参数。例如,内部VIN欠压锁定(UVLO)上升阈值为3.2V至3.8V,软启动充电电流为65µA至83µA等。
在不同输入电压下,给出了开关的导通时间、关断时间、输出电压下降时间、过压保护断言时间和去断言时间等参数。例如,在VIN = 12V时,导通时间典型值为220µs,关断时间典型值为41µs。
TPS7H2211是一款单通道3.5 - A eFuse,具有可编程的导通转换速率(软启动)和过压保护功能,同时具备反向电流保护能力,适用于功率分配应用。
通过功能框图可以清晰地看到eFuse的内部结构,包括线性调节器、电流检测、过流保护、控制逻辑、驱动器等部分,有助于理解其工作原理。
根据EN引脚的输入电压,eFuse有两种功能模式:当V EN < V ILEN时,开关关闭,VOUT为开路;当V EN > V IHEN时,开关导通,VOUT ≈ VIN。
TPS7H2211具有可配置的特性,如过压保护、软启动和使能功能,同时具备反向电流保护能力,适用于多种应用场景。
TPS7H2211设计用于4.5V至14V的宽输入电压范围,电源电压必须稳定,并使用适当的本地旁路电容以确保电气性能。在太空应用中,通常需要使用多个输入旁路电容,总电容比商业应用大。
为了获得最佳性能,布局时应尽量缩短所有走线长度,将输入和输出电容靠近器件放置,以减少寄生走线电感的影响。使用宽走线用于VIN、VOUT和GND,以降低寄生电气效应。特别注意缩短CSS电容在VOUT和SS之间的连接长度,以减少杂散电感。同时,使用热过孔连接散热垫,确保器件在故障条件下保持在允许的温度范围内。
提供了相关的文档,如总电离剂量(TID)辐射报告、单粒子效应(SEE)辐射报告、评估模块用户指南等,为工程师的设计和测试提供了全面的参考。
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该集成电路容易受到静电放电(ESD)的损坏,因此在处理和安装时需要采取适当的预防措施。
TPS7H2211 - SP和TPS7H2211 - SEP是两款性能出色的辐射加固eFuse,具有强大的辐射耐受性、丰富的保护功能和可配置特性,适用于卫星等辐射环境下的多种应用。在设计时,工程师需要根据具体应用需求,合理选择器件选项、配置引脚参数,并注意布局和电源供应等方面的问题。通过充分利用其特性和文档支持,能够设计出稳定可靠的电源系统。你在使用类似eFuse的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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