电子说
在电子设计领域,功率级芯片的性能对整个系统的效率和稳定性起着关键作用。今天,我们来详细探讨一下德州仪器(TI)的CSD95372AQ5M同步降压NexFET™功率级芯片。
文件下载:csd95372aq5m.pdf
CSD95372AQ5M是为高功率、高密度同步降压转换器设计的高度优化产品。它集成了驱动IC和NexFET技术,能在小尺寸(5 x 6 mm)封装中实现高电流、高效率和高速开关能力。同时,芯片还集成了温度传感功能,简化了系统设计并提高了准确性,其PCB占位也经过优化,有助于减少设计时间和简化整体系统设计。
适用于高频应用和高电流、低占空比应用,能有效提高转换效率和功率密度。
为负载提供稳定的电源,确保设备正常运行。
满足内存和图形卡对电源的高要求,保证其性能稳定。
为V - Core同步降压转换器提供高效的电源解决方案。
| 芯片共有13个引脚,各引脚功能如下: | PIN NAME | NO. | DESCRIPTION |
|---|---|---|---|
| NC | 1, 2, 4 | 无连接,必须浮空 | |
| ENABLE | 3 | 启用设备操作,高电平开启,低电平关闭 | |
| VDD | 5 | 为栅极驱动器和内部电路提供电源电压 | |
| VSW | 6 | 连接HS MOSFET源极和LS MOSFET漏极的相节点,连接到输出电感器 | |
| VIN | 7 | 输入电压引脚,需靠近此引脚连接输入电容器 | |
| BOOT_R | 8 | HS栅极驱动器的返回路径,内部连接到VSW | |
| BOOT | 9 | 自举电容器连接引脚,需连接至少0.1 µF 16 V X7R陶瓷电容器 | |
| FCCM | 10 | 启用二极管仿真功能,低电平启用,高电平为强制连续导通模式 | |
| TAO/ FAULT | 11 | 温度放大器输出,与芯片温度成正比,过热时拉至3.3 V | |
| PWM | 12 | 来自外部控制器的脉宽调制三态输入 | |
| PGND | 13 | 电源地 |
| 在 (T_{A}=25^{circ} C) (除非另有说明)条件下,各参数的最大额定值如下: | 参数 | MIN | MAX | UNIT |
|---|---|---|---|---|
| VIN to PGND | –0.3 | 25 | V | |
| VSW to PGND | –0.3 | 25 | V | |
| VSW to PGND (<10 ns) | –7 | 27 | V | |
| VDD to PGND | –0.3 | 7 | V | |
| ENABLE, PWM, FCCM, TAO to PGND | –0.3 | VDD + 0.3 | V | |
| BOOT to BOOT_R | –0.3 | VDD + 0.3 | V | |
| PD, Power Dissipation | 12 | W | ||
| TJ, Operating Temperature Range | –55 | 150 | °C | |
| Tstg, Storage Temperature Range | –55 | 150 | °C |
人体模型(HBM)为±2000 V,带电设备模型(CDM)为±500 V。
| 在 (T_{A}=25^{circ}) (除非另有说明)条件下,推荐工作条件如下: | 参数 | MIN | MAX | UNIT | |
|---|---|---|---|---|---|
| VDD | 栅极驱动电压 | 4.5 | 5.5 | V | |
| VIN | 输入电源电压 | 16 | V | ||
| VOUT | 输出电压 | 5.5 | V | ||
| IOUT | 连续输出电流 | 60 | A | ||
| IOUT - PK | 峰值输出电流 | 90 | A | ||
| fSW | 开关频率 | 2000 | kHz | ||
| On Time Duty Cycle | 85 | % | |||
| Minimum PWM On Time | 20 | ns | |||
| Operating Temperature | –40 | 125 | °C |
| 在 (T_{A}=25^{circ} C) (除非另有说明)条件下,热阻参数如下: | 热指标 | MIN | TYP | MAX | UNIT |
|---|---|---|---|---|---|
| RθJC | 结到外壳热阻(封装顶部) | 15 | °C/W | ||
| RθJB | 结到电路板热阻 | 2 | °C/W |
包含功率损耗、静态电流、启动延迟等多项电气参数,具体可参考文档中的详细表格。
提供了功率损耗与输出电流、温度、频率等参数的关系曲线,有助于工程师预测芯片在实际应用中的性能。
外部 (V{DD}) 电压为集成栅极驱动IC供电,提供MOSFET所需的栅极驱动功率。推荐使用1 µF 10 V X5R或更高的陶瓷电容器旁路 (V{DD}) 引脚到 (P_{GND}) 。自举电路通过连接100 nF 16 V X5R陶瓷电容器在BOOT和BOOT_R引脚之间为控制FET提供栅极驱动电源。
监测 (V{DD}) 电源,当 (V{DD}) 低于UVLO阈值时,栅极驱动器禁用,内部MOSFET栅极被拉低;当 (V_{DD}) 高于电源复位阈值时,栅极驱动器激活。
TTL兼容,逻辑电平阈值在 (V{POR}) 到 (V{DD}) 的所有 (V_{DD}) 工作条件下都能保持稳定。浮空时,内部100 kΩ弱下拉电阻会将其拉至逻辑低电平。
使用ENABLE信号时,需与外部PWM控制器的ENABLE和软启动功能协调。禁用CSD95372AQ5M时,建议同时禁用PWM控制器,重新启用时通过软启动程序控制输入浪涌电流。
具有三态功能,浮空超过三态保持时间时,控制FET和同步FET栅极被强制拉低。
控制功率级设备在连续电流传导模式或二极管仿真模式下运行。
正常运行时为模拟温度输出,过热时拉至3.3 V,内置OR功能,方便多相应用中的温度监测和故障报告。
当芯片温度达到热关断温度时,自动关闭HS和LS MOSFET,并将TAO拉至3.3 V。温度下降到阈值以下时,恢复正常运行。
内置高性能栅极驱动IC,调整死区时间以减少开关损耗和开关节点振铃。
该功率级芯片针对使用5 V栅极驱动的同步降压应用进行了高度优化,集成的高性能栅极驱动IC有助于减少寄生效应,实现功率MOSFET的快速开关。
TI提供了测量的功率损耗性能曲线,方便工程师估算芯片的功率损耗。功率损耗由输入转换损耗和栅极驱动损耗组成,计算公式为: [Power Loss =left(V{IN} × I{IN}right)+left(V{D D} × I{D D}right)-left(V{S W _A V G} × I{OUT }right)]
SOA曲线给出了操作系统内的温度边界,帮助工程师确定安全工作区域。
归一化曲线可指导工程师根据应用需求调整功率损耗和SOA边界。
通过算术方法估算产品损耗和SOA边界,具体步骤可参考文档中的设计示例。
提供了推荐的PCB布局示例,可作为实际设计的参考。
文档中给出了详细的应用原理图,展示了芯片与其他组件的连接方式,为工程师的设计提供了参考。
NexFET是德州仪器的商标。
该设备内置的ESD保护有限,存储或处理时应将引脚短路或放置在导电泡沫中,以防止MOS栅极受到静电损坏。
提供了相关术语、首字母缩写词和定义的解释。
给出了芯片的机械尺寸和公差要求。
提供了推荐的PCB焊盘图案尺寸。
给出了推荐的钢网开口尺寸和厚度。
总之,CSD95372AQ5M是一款性能出色的同步降压功率级芯片,在高功率、高密度同步降压转换器应用中具有很大的优势。工程师在设计过程中,应充分了解芯片的特性和参数,合理布局PCB,以确保系统的性能和稳定性。大家在使用这款芯片的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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