电子说
在当今的电子设计领域,对于高功率、高密度同步降压转换器的需求日益增长。而德州仪器(TI)推出的CSD95373AQ5M NexFET™功率级,无疑是满足这一需求的理想选择。它集成了驱动IC和NexFET技术,在小尺寸封装中实现了高电流、高效率和高速开关能力。下面,我们就来详细了解一下这款产品。
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CSD95373AQ5M具有45A的连续工作电流能力,在25A时系统效率可达92.6%,这在同类产品中表现十分出色。并且,在25A时其超低功耗仅为2.6W,有效降低了能源损耗。它还支持高频操作,最高可达2MHz,能满足高速应用的需求。
采用5×6mm SON封装,实现了高密度布局,同时具备超低电感特性。系统优化的PCB封装尺寸,有助于减少设计时间,简化整体系统设计。而且,它兼容3.3V和5V PWM信号,应用范围广泛。
具备二极管仿真模式(FCCM),可提高轻载效率;拥有模拟温度输出,方便进行温度监测;采用三态PWM输入,增加了使用的灵活性;集成自举开关,优化死区时间,有效防止直通现象。此外,该产品符合RoHS标准,无卤素,环保性能良好。
适用于高频应用和高电流、低占空比应用,能够提供稳定、高效的电源转换。
为各种负载提供精确的电源供应,确保设备的稳定运行。
满足其对电源的高要求,提供稳定、高效的电源支持。
为VCore同步降压转换器提供可靠的解决方案,保障服务器的稳定运行。
在 (T{A}=25^{circ} C) (除非另有说明)的条件下,对输入电压、电源电压等参数都有明确的最大和最小值限制。例如,(V{IN}) 到 (P_{GND}) 的电压范围为 -0.3V 到 25V,超过这些额定值可能会导致设备永久性损坏,所以在设计时必须严格遵守。
存储温度范围为 -55°C 到 150°C,静电放电方面,人体模型(HBM)为 -2000V 到 2000V,带电设备模型(CDM)为 -500V 到 500V。在存储和处理设备时,要注意这些参数,防止设备受到损坏。
推荐的栅极驱动电压 (V{DD}) 为 4.5V 到 5.5V,输入电源电压 (V{IN}) 最大为 16V,输出电压 (V_{OUT}) 最大为 5.5V 等。在实际应用中,应尽量使设备工作在这些推荐条件下,以保证其性能和稳定性。
结到外壳的热阻 (R{theta JC}) 最大为 15°C/W,结到电路板的热阻 (R{theta JB}) 最大为 2°C/W。了解这些热信息对于散热设计至关重要,有助于保证设备在正常温度范围内工作。
涵盖了功率损耗、输入电压静态电流、电源静态电流、开机复位和欠压锁定等多个方面的参数。例如,在 (V{IN}=12V) 、(V{DD}=5V) 、(V{OUT}=1.2V) 、(I{OUT}=25A) 、(ƒ{SW}=500kHz) 、(L{OUT}=0.22µH) 、(T_{J}=25°C) 的条件下,功率损耗典型值为 2.6W。这些电气特性参数为工程师进行电路设计和性能评估提供了重要依据。
需要外部 (V{DD}) 电压为集成的栅极驱动IC供电,该IC能够为MOSFET栅极提供超过4A的峰值电流,实现快速开关。推荐使用1µF 10V X5R或更高规格的陶瓷电容将 (V{DD}) 引脚旁路到 (P_{GND}) 。同时,通过在BOOT和BOOTR引脚之间连接100nF 16V X5R陶瓷电容,为控制FET提供自举电源。还可以使用一个可选的 (R{BOOT }) 电阻来减慢控制FET的导通速度,减少 (V_{SW}) 节点的电压尖峰。
对 (V{DD}) 电源进行监测,当 (V{DD}) 小于欠压锁定阈值时,栅极驱动器禁用,内部MOSFET栅极被主动拉低;当 (V{DD}) 大于开机复位阈值时,栅极驱动器才会激活。在 (V{DD}) 电压上升和下降的特定区域,控制FET和同步FET栅极会被主动保持低电平,这一区域被称为栅极驱动锁存区。因此,在使用时必须确保在施加PWM信号之前,功率级设备已上电并启用。
ENABLE引脚与TTL兼容,逻辑电平阈值在 (V{POR}) 到 (V{DD}) 的所有 (V{DD}) 工作条件下都能维持。如果该引脚悬空,内部100kΩ的弱下拉电阻会将其拉到逻辑低电平阈值以下。当逻辑电平为低时,控制FET和同步FET栅极被主动拉低,此时 (V{DD}) 引脚通常消耗小于5µA的电流。
如果使用ENABLE信号,必须确保与系统中外部PWM控制器的ENABLE和软启动功能进行适当协调。否则,可能会导致降压转换器输出电压异常,甚至产生过大的输入浪涌电流,对设备造成损坏。建议在禁用CSD95373AQ5M时同时禁用PWM控制器,并在重新启用时通过软启动程序来控制和最小化输入浪涌电流,降低对所有降压转换器组件的电流和电压应力。此外,当ENABLE信号切换时,驱动器在响应PWM事件之前有3µs的内部延迟时间,在设计控制器IC和功率级的上电时序时需要考虑这一点。
输入PWM引脚具有三态功能,如果PWM引脚悬空时间超过三态保持时间 ((t{3 HT}) ) ,控制FET和同步FET栅极将被强制拉低。三态模式可以通过将PWM输入驱动到 (V{3 ~T}) 电压或使PWM输入呈高阻态,由内部电流源将PWM驱动到 (V{3 ~T}) 来实现。PWM输入在驱动到 (V{3 ~T}) 电压时可以提供 (IPWMH) 电流并吸收 (I{PWML}) 电流,但在处于 (V{3 ~T}) 电压时不消耗电流。在典型操作中,PWM信号应以最大500Ω的吸收/源阻抗驱动到逻辑低电平和高电平。
输入FCCM引脚可以使功率级设备在连续电流传导模式或二极管仿真模式下工作。当FCCM高于其高阈值时,设备在连续传导模式下运行;当FCCM低于其低阈值时,内部零交叉检测电路启用,在检测到零交叉事件的第三个连续PWM脉冲时进入二极管仿真模式。如果在二极管仿真模式启用后将FCCM拉高,连续传导模式将在下次PWM事件后开始。
在典型操作中,输出TAO引脚可以高精度测量功率级引线框的温度,由于同步FET的源结直接位于功率级的引线框上,因此该输出可作为同步FET结温的准确测量值。应使用1nF X7R陶瓷电容将TAO引脚旁路到 (P_{GND}) ,以确保准确的温度测量。该功率级设备具有内置的过温保护功能,当检测到过温事件时,会将TAO拉高到3.3V,并自动关闭HS和LS MOSFET。当温度降至过温阈值滞后带以下时,驱动器再次响应PWM命令,TAO引脚恢复正常运行。此外,TAO引脚还具有内置的OR功能,在多相应用中,只需使用一条TAO/FAULT总线连接所有器件的TAO引脚,系统就能监测到最热组件的温度,大大简化了温度感测和故障报告设计。
CSD95373AQ5M专为使用5V栅极驱动的NexFET设备的同步降压应用进行了高度优化,其控制FET和同步FET硅经过参数调整,可实现最低功耗和最高系统效率。集成的高性能栅极驱动IC有助于减少寄生效应,实现功率MOSFET的极快开关。提供的系统级性能曲线,如功率损耗、安全工作区和归一化曲线,可帮助工程师预测产品在实际应用中的性能。
为简化工程师的设计过程,TI提供了测量得到的功率损耗性能曲线。该曲线以负载电流为函数绘制CSD95373AQ5M的功率损耗,测量时按照最终应用的配置和运行方式进行。测得的功率损耗包括输入转换损耗和栅极驱动损耗,可通过公式 (Power Loss =left(V{IN} × I{IN}right)+left(V{D D} × I{D D}right)-left(V{S W _A V G} × I{OUT }right)) 计算。曲线是在 (T_{J}=125^{circ} C) 的最大推荐结温下,在等温测试条件下测量得到的。
数据手册中的SOA曲线结合了热阻和系统功率损耗,为工程师提供了操作系统内的温度边界指导。它规定了在给定负载电流下所需的温度和气流条件,曲线下的区域即为安全工作区。所有曲线均基于尺寸为 (4^{prime prime}(W) ×3.5^{prime prime}(L) ×0.062^{prime prime}) (T)、6层1oz铜厚度的PCB设计测量得到。
这些曲线为工程师提供了基于特定应用需求调整功率损耗和SOA的指导。它们显示了在给定系统条件下功率损耗和SOA边界的调整情况,主y轴表示功率损耗的归一化变化,次y轴表示为符合SOA曲线所需的系统温度变化。功率损耗的变化是功率损耗曲线的乘数,温度变化则从SOA曲线中减去。
用户可以通过算术方法估算产品的损耗和SOA边界。尽管数据手册中的功率损耗和SOA曲线是在特定测试条件下获得的,但通过以下步骤可以预测产品在任何系统条件下的性能:
在使用该功率级设备时,需要配合几个关键组件,如自举电容、自举电阻、TAO旁路电容、 (V{DD}) 旁路电容、 (V{IN }) 旁路电容等,这些组件的正确使用对于设备的正常运行至关重要。
合理的PCB设计可以同时解决电气和热性能两个关键系统级参数。通过优化PCB布局,可以在这两个方面实现最佳性能。
CSD95373AQ5M能够以大于10kV/µs的电压速率进行开关操作,因此在PCB布局设计和输入电容、电感和输出电容的放置上需要特别注意。输入电容应尽可能靠近 (V{IN }) 和 (P{GND}) 引脚放置,以最小化这些节点的长度。例如,可以使用1 × 3.3nF 0402 50V和6 × 10µF 1206 25V陶瓷电容,并在电路板两侧放置适当数量的过孔互连。自举电容应紧密连接在BOOT和BOOTR引脚之间,输出电感的开关节点应相对靠近功率级的 (V{SW}) 引脚,以减少PCB传导损耗和开关噪声水平。
该设备可以使用GND平面作为主要热路径,因此使用热过孔是将热量从设备传导到系统板的有效方法。为了解决焊料空洞和可制造性问题,可以采用以下三种基本策略:有意隔开过孔,避免在给定区域形成孔簇;使用设计允许的最小钻孔尺寸;在过孔的另一侧涂上阻焊层。热过孔的数量和钻孔尺寸应符合最终用户的PCB设计规则和制造能力。
设备内置的集成温度感测技术可产生与设备引线框温度成正比的模拟信号,该温度几乎与同步FET的结温相同。可以使用公式 (T{J}left[C^{circ}right]=(TAO[mV]-400[mV]) / 8left[mV /^{circ} Cright]) 根据TAO电压计算结温。为了确保最佳性能,应使用1nF X7R陶瓷电容将TAO旁路到 (P{GND}) 。TAO引脚的灌电流能力有限,因此多个功率级通过线或方式连接时,只需报告最高温度(或故障条件,如果存在)。为了确保准确的温度报告,TAO网络应尽可能在接地平面之间的安静内层布线,并且TAO旁路电容下方的层应有 (P{GND}) 敷铜,以确保适当的去耦。此外,TAO网络应尽量与 (V{SW}) 和 (V_{IN }) 屏蔽隔离。
CSD95373AQ5M同步降压NexFET™功率级以其卓越的性能、丰富的功能和优化的设计,为电子工程师在高功率、高密度同步降压转换器的设计中提供了一个强大的解决方案。在实际应用中,我们需要充分了解其各项特性和参数,合理进行电路设计和PCB布局,以发挥其最大优势。同时,我们也可以思考如何进一步优化其应用,例如在不同的负载条件下如何调整参数以实现更高的效率,或者如何更好地利用其温度感测功能来提高系统的稳定性和可靠性。相信随着技术的不断发展,类似的高性能功率级产品将在电子领域发挥越来越重要的作用。
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