电子说
激光二极管(Laser Diode,LD)是一种基于半导体PN结的发光器件,其通过载流子复合过程中的受激辐射产生激光。
在谐振腔的光学放大作用下,激光二极管可输出单色性好、方向性强的相干光,广泛应用于光通信、医疗设备、工业传感等领域。

典型的激光二极管模块通常由激光二极管(LD)和监测用光电探测器(PD)组成。PD用于实时检测光输出功率,并通过反馈回路实现激光功率的稳定控制。
激光二极管的基本结构主要包括:
LIV测试是指同步测量激光二极管的光功率(L)、电流(I)与电压(V)关系的评估方法。通过该测试,可获取阈值电流、斜率效率等关键参数,为器件性能分析与可靠性判断提供依据。
测试系统一般包括脉冲电流源表(PSMU)与源测量单元(SMU)。如下图所示,PSMU工作于脉冲电流扫描模式,向LD施加从微安至毫安乃至安培量级的逐步递增脉冲电流,并同步采集LD两端电压(Vf)及电流(If),从而绘制正向I-V特性曲线,用于评估导通特性与漏电情况。
同时,PSMU通过触发接口同步控制SMU,实时采集PD端的光电流信号,进而换算出激光输出功率,完成L-I特性测量。

LIV特性测试是激光二极管研发、生产及应用中的关键环节,其作用主要体现在以下三方面:

1. 提取关键性能参数,量化器件优劣
通过LIV曲线(横轴为驱动电流If,纵轴为光功率Po与正向电压Vf)可直接获取以下参数:
2. 判断器件工作稳定性与可靠性
LIV曲线形态可反映器件潜在缺陷:

在研发阶段,通过对比不同材料(如GaAs、InP)、不同腔长、不同镀膜工艺的LIV曲线,可优化设计方案(如降低Ith需调整掺杂,提升Se需改进腔面镀膜)。在生产环节,LIV测试是质量管控的重要手段,可确保产品性能一致性,剔除不合格品。
LIV测试的核心目标之一是评估光功率随驱动电流变化的线性度,并准确捕捉曲线中的局部“突变”,这对测试系统提出了较高要求:
针对上述需求,联讯仪器 S3026P 系列脉冲源测量单元(PSMU),提供了适用的解决方案:
除 PSMU 外,激光二极管测试中也可根据场景选择其他类型源表:

下图展示了用于激光二极管LIV特性测试的PXIe测试系统的典型配置,系统中可外接监测光电二极管,为激光驱动电路提供反馈信号。
下图为S3026P前面板与负载接线示意图,可供用户快速完成系统连接。

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