电子说
在电子工程领域,对于中高功率、高效率电源的需求日益增长,辐射加固高压同步降压控制器的重要性也愈发凸显。今天,我们就来深入了解一下RH3845MK DICE这款产品。
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RH3845MK是一款高压、同步、电流模式控制器,专为中高功率、高效率电源设计。它具有4V至60V的宽输入电压范围(最小启动电压为7.5V),板载稳压器可直接从(V_{IN})提供IC电源,简化了偏置要求。
与LT3845不同的是,RH3845版本不具备Burst Mode®操作。它还拥有一系列实用特性,如可调节的固定工作频率,能同步到外部时钟以适用于对噪声敏感的应用;具备可驱动大型N沟道MOSFET的栅极驱动器;具备精密欠压锁定、低关断电流、短路保护和可编程软启动功能。
当(V{CC}=BOOST = 10V),(SHDN = 2V),(R{SET}=49.9kΩ),(SENSE^- = SENSE^+ = 10V),SGND = PGND,(SW = 0V)时,在(T{A}=25°C),(V{IN}=20V)的条件下,有以下关键参数:
在不同温度范围下,各参数有一定的变化范围。例如,在(T{A}=25°C)时,(V{IN})电源电流典型值为130μA,最大值为200μA;而在–55°C ≤ (T_{A}) ≥ 125°C时,最大值变为800μA。这提醒我们在不同温度环境下使用该芯片时,要充分考虑电源电流的变化对整个系统的影响。
器件经过不同剂量辐射(10Krad、20Krad、50Krad、100Krad和200Krad)后,部分参数会发生变化。如参考电压,随着辐射剂量增加,其范围逐渐变宽,从10Krad时的1.214 - 1.250V,到200Krad时变为1.187 - 1.223V。在辐射环境应用中,我们需要根据实际辐射剂量来评估芯片性能是否满足系统要求。
文档中给出了运行模式和关断模式下的总剂量偏置电路。在运行模式下,各元件协同工作,为芯片提供合适的工作条件;在关断模式下,电路参数调整以实现低功耗。工程师在设计时,需要根据实际应用场景选择合适的工作模式,并合理配置电路元件参数。
老化测试电路的设计有助于筛选出早期失效的芯片,提高产品的可靠性。在运行模式下的老化测试电路中,各个电阻和电容的参数都经过精心设计,以确保芯片在特定条件下进行老化测试。
从典型性能特性图表中可以看出,(V{CC})电源电流、工作开关频率和反馈电压参考值随总剂量(TID)的变化情况。随着总剂量增加,(V{CC})电源电流可能会上升,工作开关频率和反馈电压参考值也会有相应波动。这要求我们在辐射环境下使用该芯片时,密切关注这些参数的变化,确保系统的稳定性。
与标准IC芯片相比,辐射加固裸片(Rad Hard die)需要特殊处理。由于其钝化层是比氮化硅更“软”的二氧化硅,容易受到表面损伤。因此,在处理裸片时要格外小心,避免刮伤。可以使用特氟龙尖端的真空棒来移动裸片,并确保特氟龙尖端干净无杂物。在裸片粘贴过程中,要避免镊子接触裸片顶部。
此外,裸片和封装单元在性能上可能存在差异,这是由于封装和组装对某些器件和/或参数的影响。如果需要了解裸片性能和批次合格情况,建议通过批次抽样测试程序咨询厂家。
RH3845MK DICE作为一款辐射加固高压同步降压控制器,具有宽输入电压范围、多种实用特性和良好的电气性能。但在实际应用中,我们需要充分考虑其绝对最大额定值、电气特性随温度和辐射剂量的变化,以及裸片处理和性能差异等问题。只有这样,才能确保在中高功率、高效率电源设计中,充分发挥该芯片的优势,设计出稳定可靠的电子系统。各位工程师在使用过程中,是否遇到过类似芯片在特殊环境下的性能挑战呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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