深入解析 CSD86311W1723 双 N 沟道 NexFET™ 功率 MOSFET

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深入解析 CSD86311W1723 双 N 沟道 NexFET™ 功率 MOSFET

在电子设计领域,功率 MOSFET 是至关重要的元件,它对电路的性能和效率有着深远影响。今天,我们就来详细剖析 Texas Instruments 推出的 CSD86311W1723 双 N 沟道 NexFET™ 功率 MOSFET,探讨它的特性、应用和设计要点。

文件下载:csd86311w1723.pdf

一、产品概述

CSD86311W1723 采用 1.7mm×2.3mm 的晶圆级封装,具备极小的封装尺寸,适合对空间要求苛刻的应用场景。其核心特点包括双 N 沟道 MOSFET 设计、共源配置、超低的栅极电荷((Q{g}) 和 (Q{gd})),并且符合无铅、RoHS 以及无卤标准。

关键参数

参数 详情
漏源电压 ((V_{DS})) 25V
总栅极电荷 ((Q_{g}),4.5V 时) 3.1nC
栅漏电荷 ((Q_{gd})) 0.33nC
漏源导通电阻 ((R_{DS(on)})) (V{GS}=2.5V) 时为 37mΩ;(V{GS}=4.5V) 时为 31mΩ;(V_{GS}=8V) 时为 29mΩ
阈值电压 ((V_{GS(th)})) 1V

二、订购信息

该器件的订购型号为 CSD86311W1723,采用 7 英寸卷轴包装,每卷数量为 3000 个,包装形式为带式和卷轴式。

三、绝对最大额定值

在使用 CSD86311W1723 时,必须严格遵循其绝对最大额定值,以确保器件的安全和可靠性。 参数 额定值 单位
漏源电压 ((V_{DS})) 25 V
栅源电压 ((V_{GS})) +10 / -8 V
连续漏极电流 ((I_{D})) 4.5 A
脉冲漏极电流 - -
连续栅极钳位电流 ((I_{G})) 6 A
脉冲栅极钳位电流 ((I_{G})) 6 A
功率耗散 ((P_{D})) 1.5 W
工作结温和存储温度范围 ((T{J}, T{STG})) –55 to 150 °C

需要注意的是,连续漏极电流可能会受到最大源电流的限制,并且基于最小铜焊盘尺寸。这里大家思考一下,如果实际应用中的电流需求接近或超过这些额定值,会对器件产生什么影响呢?

四、电气特性

静态特性

  • 漏源击穿电压 ((BV_{DSS})):(V{GS}=0V),(I{D}=250μA) 时为 25V。
  • 漏源泄漏电流 ((I_{DSS})):(V{GS}=0V),(V{DS}=20V) 时,最大值为 1μA。
  • 栅源泄漏电流 ((I_{GSS})):(V{DS}= 0V),(V{GS}= +10/-8V) 时,最大值为 ±100nA。
  • 栅源阈值电压 ((V_{GS(th)})):(V{DS}= V{S}),(I_{D}=250μA) 时,范围在 0.85 - 1.4V 之间。
  • 漏源导通电阻 ((R_{DS(on)})):不同 (V_{GS}) 下有不同的值,具体如前面所述。
  • 漏漏导通电阻 ((R_{DD(on)})):同样随 (V{GS}) 和 (I{D}) 变化。
  • 跨导 ((g_{fs})):(V{DS}= 10V),(I{D}= 2A) 时,典型值为 6.4S。

动态特性

包含输入电容 ((C{Iss}))、输出电容 ((C{oss}))、反向传输电容 ((C{rss}))、串联栅极电阻 ((R{G}))、各种栅极电荷(如 (Q{g})、(Q{gd})、(Q{gs}) 等)以及开关时间(如导通延迟时间 (t{d(on)})、上升时间 (t{r})、关断延迟时间 (t{d(off)}) 和下降时间 (t_{f}))等参数。

二极管特性

  • 二极管正向电压 ((V_{SD})):(I{S}= 2A),(V{GS}= 0V) 时,典型值为 0.78V,最大值为 1V。
  • 反向恢复电荷 ((Q_{rr})):特定条件下为 4.2nC。
  • 反向恢复时间 ((t_{a})):为 13.4ns。

这些电气特性为工程师在设计电路时提供了精确的参考,大家在实际设计中要根据具体需求合理利用这些参数,你觉得哪个参数对设计的影响最大呢?

五、热特性

热特性对于功率 MOSFET 至关重要,它关系到器件的稳定性和寿命。在不同的安装条件下,CSD86311W1723 的热阻有所不同:

  • 最小铜面积安装时,结到环境的热阻 ((R_{θJA})) 最大为 165°C/W。
  • 1 平方英寸 2oz 铜面积安装时,结到环境的热阻 ((R_{θJA})) 最大为 68°C/W。

在设计散热方案时,要充分考虑这些热阻参数,以确保器件在合适的温度范围内工作。那么,如何根据热阻和功率耗散来计算器件的温度呢?

六、典型 MOSFET 特性

文档中给出了一系列典型特性曲线,包括瞬态热阻抗、饱和特性、转移特性、栅极电荷、电容、阈值电压与温度关系、导通电阻与栅源电压关系、导通电阻与温度关系、典型二极管正向电压、最大安全工作区以及最大漏极电流与温度关系等。这些曲线直观地展示了器件在不同条件下的特性,有助于工程师更深入地了解器件的性能。在实际应用中,我们可以根据这些曲线来优化电路设计,提高系统的性能和可靠性。

七、机械数据

封装尺寸

详细说明了器件的封装尺寸以及引脚位置,采用 DSBGA (YZG) 封装,引脚数为 12。各引脚有明确的功能定义,如 A1 为栅极 1,B1、B2、B3、B4 为源极等。了解这些封装信息对于 PCB 布局设计非常重要,大家在布线时要注意引脚的排列和间距,避免出现短路等问题。

引脚排列

位置 名称
- Drain 1
- Drain 2
A1 Gate 1
C1 -
B1, B2, B3, B4 Source

推荐焊盘图案

给出了推荐的焊盘尺寸和布局,有助于确保良好的焊接效果和电气连接。

带式和卷轴信息

包括卷轴直径、宽度、载带尺寸等,这些信息对于自动化贴片生产有重要意义。

八、应用领域

CSD86311W1723 适用于多种应用场景,主要包括:

  • 电池管理:其低导通电阻和栅极电荷特性可以降低功耗,提高电池的使用效率和续航时间。
  • 电池保护:能够快速响应过流、过压等异常情况,保护电池安全。
  • DC - DC 转换器:有助于提高转换效率,减少能量损耗。

在这些应用中,我们要根据具体的电路要求,合理选择器件的工作参数和外围电路,以达到最佳的性能。

九、注意事项

  • 该器件内置的 ESD 保护有限,在存储和处理过程中,应将引脚短路或放置在导电泡沫中,以防止 MOS 栅极受到静电损坏。
  • TI 提供的信息是基于第三方提供的数据,虽然在努力保证信息的准确性,但可能存在一定的不确定性。在使用时,工程师需要自行进行充分的验证和测试。

总之,CSD86311W1723 是一款性能优异的双 N 沟道功率 MOSFET,在小尺寸、低功耗和高性能方面表现出色。电子工程师在设计相关电路时,可以充分利用其特性和参数,优化设计方案,提高产品的竞争力。大家在实际使用过程中遇到过哪些问题呢?欢迎一起交流探讨。

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