闪德半导体推出RDT200高温老化测试设备

随着 SSD 与存储产品性能不断提升，高温老化测试在研发与生产中的重要性日益凸显。为了确保产品在极端环境下的可靠性和稳定性，闪德推出了 RDT200 高温老化测试设备。 RDT200 高温老化测试设备采用可拆卸箱体设计，不仅操作便捷，而且可高效完成老化测试，成为研发验证与量产品质保障环节的关键工具。

双柜体高温SSD RDT老化测试设备RDT200

设备定位：为消费级与企业级存储产品提供可靠性保障的关键测试设备，核心价值在于提升产品可靠性、降低生产风险、加速产品上市。

设备特点

设备箱体可拆卸，方便进入各类测试场所;此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高温RDT老化测试，左右独立柜体，配置360W独立开关电源，12V转5V测试板卡，单柜可测300PCS，整机可测600PCS产品,提升设备使用率，测试数量支持定制。

技术规格

1、根据不同的要求配置本体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、进排风系统、恒温系统、时间控制系统、测试负载等，通过此测试程序可检查出不良品或不良件。

2、加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器;

3、循环系统：耐高温低噪音电机，多叶式离心风轮，运行低噪音，让您安心工作;

4、控制系统：采用进口高级温度控制仪表，可设定多种参数，数字式显示，读数极为方便;

5、安全保护：设有漏电、短路、超温、电机过热、过电流保护;

6、采用双柜体方式，提升设备使用率，外观美观大方，提升公司形象。

应用场景

此设备可用于SSD研发实验室、生产前品质验证及生产线抽检环节，完成SSD老化和性能测试，筛选出不良品。

设备详细参数