春和景明,全球集成电路领域的顶级盛会——2026国际集成电路展览会暨研讨会(IIC),将于3月31日 - 4月1日在上海浦东丽思卡尔顿酒店盛大启幕。作为国内先进工艺Signoff EDA领域的领军企业,行芯科技荣幸受邀参与此次盛会,将于3月31日发表题为《Signoff全栈解决方案,赋能3DIC Chiplet一次流片成功》的主题演讲,分享在后摩尔时代助力Chiplet技术落地的签核一站式解决方案与实践成果,诚邀各位业内同仁拨冗莅临,共探3DIC Chiplet Signoff的创新解法。
IIC 2026 大会核心亮点
由ASPENCORE主办,是全球集成电路领域的年度标杆盛会,以“技术赋能产业,生态创造价值”为核心定位;
涵盖12大主题峰会、技术论坛矩阵等四大板块,覆盖IC 设计、EDA工具、先进封装、半导体材料等全产业链环节,聚焦AI芯片、先进封装、Chiplet异构集成等前沿方向;
汇聚全球顶尖企业与专家,同步设置专业展区与产业对接环节,是技术革新、产品商业化落地的超级产业链接平台。
主题演讲
题目:《Signoff全栈解决方案,赋能3DIC Chiplet一次流片成功》
论坛:Chiplet与先进封装技术研讨会
日期:2026年3月31日(周一)1600
地点:上海浦东丽思卡尔顿酒店(陆家嘴世纪大道8号上海国金中心)
演讲核心内容:后摩尔时代,3DIC作为 Chiplet异构集成架构的核心实现路径,已成为高端芯片技术演进的核心方向,却也带来芯片集成、制造、协同设计的多重行业难题,更让芯片签核环节面临流程复杂化、多物理耦合技术突破难等全新挑战。本次演讲中,行芯针对3DIC Signoff 领域的系列新挑战,重磅解读自研的 Glory-Golden标准签核平台整体解决方案。该方案构建了覆盖RC寄生参数提取、电源可靠性签核、热功耗分析、时序分析等签核全环节的完备产品矩阵,可全面适配多工艺、多类型芯片设计需求,凭借核心技术实力与全流程解决方案能力,全力保障3DIC Chiplet 架构芯片一次流片成功。
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