探索DS1135:3合1高速硅延迟线的卓越性能

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探索DS1135:3合1高速硅延迟线的卓越性能

在电子设计领域,延迟线是实现精确时序控制的关键组件。今天,我们来深入了解Maxim Integrated推出的DS1135 3合1高速硅延迟线,看看它如何在众多应用中发挥重要作用。

文件下载:DS1135.pdf

一、DS1135的特性亮点

1. 全硅定时电路

DS1135采用全硅定时电路,这使得它在不同的温度和电压条件下都能保持稳定和精确。这种设计保证了信号处理的可靠性,减少了因环境因素导致的误差。

2. 三个独立缓冲延迟

该器件在单个封装中集成了三个独立的逻辑缓冲延迟,为设计提供了更大的灵活性。每个输出都能独立工作,满足复杂系统中不同的时序需求。

3. 精确的边沿精度

它具备精确的前沿和后沿精度,能够很好地保留输入信号的对称性。这对于需要高精度信号处理的应用来说至关重要,比如通信系统和高速数据传输。

4. 良好的焊接兼容性

DS1135支持气相、红外和波峰焊接,并且提供卷带包装,方便大规模生产和组装。同时,它有商业和工业温度范围可供选择,适应不同的工作环境。

5. 5V工作电压

DS1135通常在5V电压下工作(如果需要3V工作电压,可以参考DS1135L),是DS1013和DS1035的推荐替代产品。

二、引脚分配与描述

DS1135采用8引脚SO(150密耳)封装,引脚分配如下: 引脚 名称 描述
IN1 - IN3 输入信号 用于接收输入信号
OUT1 - OUT3 输出信号 提供延迟后的输出信号
VCC +5V电源 为器件提供电源
GND 接地 作为参考地

三、延迟参数

DS1135有多种延迟值可供选择,不同型号的延迟参数如下表所示: 型号 每个输出的延迟 (ns) 初始公差 (Note 1) 温度和电压范围内的公差 (Note 2)
0°C 至 +70°C
温度和电压范围内的公差 (Note 2)
-40°C 至 +85°C
DS1135Z - 6+ 6/6/6 ±1.0ns ±1.0ns ±1.5ns
DS1135Z - 8+ 8/8/8 ±1.0ns ±1.0ns ±1.5ns
DS1135Z - 10+ 10/10/10 ±1.0ns ±1.0ns ±1.5ns
DS1135Z - 12+ 12/12/12 ±1.0ns ±1.0ns ±1.5ns
DS1135Z - 15+ 15/15/15 ±1.0ns ±1.5ns ±2ns
DS1135Z - 20+ 20/20/20 ±1.0ns ±1.5ns ±2ns
DS1135Z - 25+ 25/25/25 ±1.5ns ±1.5ns ±2ns
DS1135Z - 30+ 30/30/30 ±1.5ns ±1.5ns ±2ns

注:

  1. 标称条件为 +25°C 和 VCC = +5.0V。
  2. 电压范围为 4.75V 至 5.25V。
  3. 延迟精度适用于前沿和后沿。

四、测试设置

为了准确测量DS1135的时序参数,使用了特定的硬件配置。输入波形由软件控制的精密脉冲发生器产生,时间延迟通过连接到输出的时间间隔计数器(20ps分辨率)进行测量。DS1135的输出抽头通过VHF开关控制单元选择并连接到间隔计数器,所有测量都通过计算机通过IEEE 488总线对每个仪器进行全自动控制。

五、电气特性

1. 绝对最大额定值

  • 任何引脚相对于地的电压范围:-1.0V 至 +6.0V
  • 短路输出电流:50mA(持续1秒)
  • 工作温度:-40°C 至 +85°C
  • 存储温度:-55°C 至 +125°C
  • 引脚温度(焊接,10秒):+300°C
  • 焊接温度(回流):+260°C

需要注意的是,这只是应力额定值,在这些或本规格操作部分所示条件之外的任何其他条件下,并不意味着器件能正常工作。长时间暴露在绝对最大额定值条件下可能会影响可靠性。

2. 直流电气特性

在 (V{CC}= +5V ± 5%) , (T{A} = -40^{circ}C) 至 +85°C(除非另有说明)的条件下,各项参数如下: 参数 符号 最小值 典型值 最大值 单位 备注
电源电压 VCC 4.75 5.00 5.25 V
有源电流 ICC VCC = 5.25V,周期 = 1µs 时为 35 mA
高电平输入电压 VIH 2.2 +0.5 VCC V
低电平输入电压 VIL -0.5 0.8 V
输入泄漏电流 IL -1.0 +1.0 µA 0V ≤ VI ≤ VCC
高电平输出电流 ICC -1.0 mA VOH = 4V,VCC = 4.75V
低电平输出电流 ICC 12 mA VCC = 4.75V,VOL = 0.5V

3. 交流电气特性

同样在 (V{CC}= +5V ± 5%) , (T{A} = -40^{circ}C) 至 +85°C(除非另有说明)的条件下: 参数 符号 最小值 典型值 最大值 单位 备注
周期 tPERIOD 2(tw1) ns
输入脉冲宽度 twI 100% of Tap Delay ns
输入到输出延迟 tPLH、tPHL 见 Table 1 ns
输出上升或下降时间 toF、tOR 2.0 2.5 ns
上电时间 tpu 100 ms

4. 电容特性

在 (T_{A} = +25^{circ}C)(除非另有说明)的条件下,输入电容 CIN 为 10 pF。

六、测试条件

  • 环境温度:25°C ± 3°C
  • 电源电压(VCC):5.0V ± 0.1V
  • 输入脉冲:高电平 3.0V ± 0.1V,低电平 0.0V ± 0.1V
  • 源阻抗:最大 50Ω
  • 上升和下降时间:最大 3.0ns(在 0.6V 和 2.4V 之间测量)
  • 脉冲宽度:500ns
  • 脉冲周期:1µs
  • 输出负载电容:15pF
  • 输出:每个输出加载一个 74F04 输入门的等效负载 数据在上升和下降沿的 1.5V 电平处测量。需要注意的是,上述条件仅用于测试,并不限制器件在其他数据手册条件下的使用。

七、术语解释

  • 周期(Period):第一个脉冲的前沿与下一个脉冲的前沿之间的时间间隔。
  • tWI(脉冲宽度):脉冲在前沿的 1.5V 点与后沿的 1.5V 点之间的时间间隔,或者后沿的 1.5V 点与前沿的 1.5V 点之间的时间间隔。
  • tRISE(输入上升时间):输入脉冲前沿 20% 点到 80% 点之间的时间间隔。
  • tFALL(输入下降时间):输入脉冲后沿 80% 点到 20% 点之间的时间间隔。
  • tPLH(上升延迟时间):输入脉冲前沿的 1.5V 点与输出脉冲前沿的 1.5V 点之间的时间间隔。
  • tPHL(下降延迟时间):输入脉冲下降沿的 1.5V 点与输出脉冲下降沿的 1.5V 点之间的时间间隔。

八、订购信息

DS1135提供多种延迟时间选择,包括 6ns、8ns、10ns、12ns、15ns、20ns、25ns 和 30ns。封装类型为 Z = SOIC(150 - MIL)。如需最新的封装外形信息和焊盘图案(焊盘尺寸),可访问 www.maximintegrated.com/packages。需要注意的是,封装代码中的 “+”、“#” 或 “-” 仅表示 RoHS 状态。

九、修订历史

修订日期 描述 更改页面
8/12 移除了 DIP 和 uSOP 封装;更新了绝对最大额定值部分;添加了封装信息部分 1,2,4,6

DS1135凭借其卓越的性能和丰富的特性,为电子工程师在设计中提供了可靠的时序控制解决方案。在实际应用中,我们需要根据具体需求选择合适的延迟值和封装类型,同时要注意各项电气特性和测试条件,以确保器件的正常工作。大家在使用DS1135的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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