Onsemi FQD2P40 P-Channel MOSFET:性能与应用解析

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Onsemi FQD2P40 P-Channel MOSFET:性能与应用解析

在电子工程领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)是不可或缺的关键元件,广泛应用于各种电路设计中。今天,我们将深入探讨 Onsemi 公司的 FQD2P40 P - 通道增强型功率 MOSFET,了解其特性、参数及应用场景。

文件下载:FQD2P40-D.pdf

一、产品概述

FQD2P40 采用 Onsemi 专有的平面条纹和 DMOS 技术制造。这种先进的 MOSFET 技术经过特殊设计,旨在降低导通电阻,提供卓越的开关性能和高雪崩能量强度。该器件适用于开关模式电源、音频放大器、直流电机控制和可变开关电源等应用。

二、关键特性

1. 电气参数

  • 电压与电流:具备 -400 V 的漏源电压((V{DSS})),连续漏极电流((I{D}))在 (T{C}=25^{circ}C) 时为 -1.56 A,在 (T{C}=100^{circ}C) 时为 -0.98 A,脉冲漏极电流((I_{DM}))可达 -6.24 A。
  • 导通电阻:在 (V{GS}=-10 V) 时,静态漏源导通电阻 (R{DS(on)}) 最大为 6.5 Ω。
  • 栅极电荷:典型栅极电荷((Q_{g}))为 10 nC,较低的栅极电荷有助于实现快速开关。
  • 电容特性:反向传输电容 (C{rss}) 典型值为 6.5 pF,输入电容 (C{iss}) 为 270 - 350 pF,输出电容 (C_{oss}) 为 45 - 60 pF。

2. 其他特性

  • 雪崩测试:经过 100% 雪崩测试,具备良好的雪崩能量强度,单脉冲雪崩能量 (E{AS}) 为 120 mJ,重复雪崩能量 (E{AR}) 为 3.8 mJ。
  • 符合 RoHS 标准:产品符合 RoHS 指令,环保无污染。

三、绝对最大额定值

绝对最大额定值是保证器件安全运行的重要参数,超过这些值可能会损坏器件。以下是 FQD2P40 的绝对最大额定值: Symbol Parameter Value Unit
(V_{DSS}) 漏源电压 -400 V
(I_{D}) 连续漏极电流 ((T_{C}=25^{circ}C)) -1.56 A
(I_{D}) 连续漏极电流 ((T_{C}=100^{circ}C)) -0.98 A
(I_{DM}) 脉冲漏极电流 -6.24 A
(V_{GSS}) 栅源电压 ± 30 V
(E_{AS}) 单脉冲雪崩能量 120 mJ
(I_{AR}) 雪崩电流 -1.56 A
(E_{AR}) 重复雪崩能量 3.8 mJ
(dv/dt) 峰值二极管恢复 (dv/dt) -4.5 V/ns
(P_{D}) 功率耗散 ((T_{A}=25^{circ}C)) 2.5 W
(P_{D}) 功率耗散 ((T_{C}=25^{circ}C)),25°C 以上降额 38 W
降额系数 0.3 W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存储温度范围 -55 至 +150 °C
(T_{L}) 焊接时最大引脚温度(距外壳 1/8”,5 秒) 300 °C

四、热特性

热特性对于 MOSFET 的性能和可靠性至关重要。FQD2P40 的热阻参数如下:

  • 结到外壳热阻 (R_{theta JC}):最大为 3.29 °C/W。
  • 结到环境热阻 (R_{theta JA}):在 2 - oz 铜最小焊盘时最大为 110 °C/W,在 1 in² 2 - oz 铜焊盘时最大为 50 °C/W。

五、电气特性

1. 关断特性

  • 漏源击穿电压 (B_{V DSS}):在 (V{GS}=0 V),(I{D}=-250 mu A) 时为 -400 V。
  • 零栅压漏极电流 (I_{DSS}):在 (V{DS}=-400 V),(V{GS}=0 V) 时为 -1 μA;在 (V{DS}=-320 V),(T{C}=125^{circ}C) 时为 -10 μA。
  • 栅体泄漏电流 (I{GSSF}) 和 (I{GSSR}):正向和反向栅体泄漏电流在 (V{GS}=pm 30 V),(V{DS}=0 V) 时分别为 -100 nA 和 100 nA。

2. 导通特性

  • 栅极阈值电压 (V_{GS(th)}):在 (V{DS}=V{GS}),(I_{D}=-250 mu A) 时为 -3.0 至 -5.0 V。
  • 静态漏源导通电阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS}=-10 V),(I{D}=-0.78 A) 时为 5.0 - 6.5 Ω。
  • 正向跨导 (g_{fs}):在 (V{DS}=-50 V),(I{D}=-0.78 A) 时为 1.26 S。

3. 动态特性

  • 输入电容 (C_{iss}):在 (V{DS}=-25 V),(V{GS}=0 V),(f = 1.0 MHz) 时为 270 - 350 pF。
  • 输出电容 (C_{oss}):为 45 - 60 pF。
  • 反向传输电容 (C_{rss}):为 6.5 - 8.5 pF。

4. 开关特性

  • 导通延迟时间 (t_{d(on)}):在 (V{DD}=-200 V),(I{D}=-2.0 A),(R_{G}=25 Omega) 时为 9 - 30 ns。
  • 导通上升时间 (t_{r}):为 33 - 75 ns。
  • 关断延迟时间 (t_{d(off)}):为 22 - 55 ns。
  • 关断下降时间 (t_{f}):为 25 - 60 ns。
  • 总栅极电荷 (Q_{g}):在 (V{DS}=-320 V),(I{D}=-2.0 A),(V_{GS}=-10 V) 时为 10 - 13 nC。
  • 栅源电荷 (Q_{gs}):为 2.1 nC。
  • 栅漏电荷 (Q_{gd}):为 5.5 nC。

5. 漏源二极管特性

  • 最大连续漏源二极管正向电流 (I_{S}):为 -1.56 A。
  • 最大脉冲漏源二极管正向电流 (I_{SM}):为 -6.24 A。
  • 漏源二极管正向电压 (V_{SD}):在 (V{GS}=0 V),(I{S}=-1.56 A) 时为 -5.0 V。
  • 反向恢复时间 (t_{rr}):在 (V{GS}=0 V),(I{S}=-2.0 A),(dI_{F} / dt = 100 A/ mu s) 时为 250 ns。
  • 反向恢复电荷 (Q_{rr}):为 0.85 μC。

六、典型特性曲线

文档中给出了多个典型特性曲线,这些曲线直观地展示了 FQD2P40 在不同条件下的性能表现,例如:

  • 导通区域特性曲线:展示了不同栅源电压下,漏极电流与漏源电压的关系。
  • 传输特性曲线:体现了漏极电流与栅源电压的关系。
  • 导通电阻变化曲线:显示了导通电阻随漏极电流和栅源电压的变化情况。

这些曲线对于工程师在设计电路时评估器件性能非常有帮助。大家在实际应用中,不妨仔细研究这些曲线,以充分发挥器件的性能。

七、封装与订购信息

FQD2P40 采用 DPAK3 封装,有 Pb - Free 版本。订购信息如下: Device Package Shipping
FQD2P40TM DPAK3 (Pb - Free) 2,500 / Tape & Reel

八、应用建议

在使用 FQD2P40 进行电路设计时,需要注意以下几点:

  • 散热设计:根据热特性参数,合理设计散热方案,确保器件在安全的温度范围内工作。
  • 驱动电路设计:考虑栅极电荷和开关特性,设计合适的驱动电路,以实现快速、高效的开关操作。
  • 保护电路设计:为了防止器件受到过压、过流和雪崩等损坏,应设计相应的保护电路。

总之,Onsemi 的 FQD2P40 P - 通道 MOSFET 是一款性能优异的功率器件,适用于多种应用场景。工程师在设计过程中,应充分了解其特性和参数,合理应用,以实现电路的最佳性能。大家在使用过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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