电子说
在电子工程领域,电池测试系统的性能直接关系到各类电池设备的质量和安全性。今天,我们要深入探讨一款专为电池测试解决方案设计的降压/升压 PWM 控制器——ADP1972。
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ADP1972 的输入电压范围为 6 V 至 60 V,这使其能够适应多种不同的电源环境。同时,片内集成了 5 V 低压差调节器,减少了外部元件的使用,简化了电路设计。
它具有可选的降压/升压模式,可以根据不同的应用场景进行灵活配置。在电池充电时作为降压转换器,在循环模式下作为升压转换器,实现电能的回收,提高能源利用率。
在 4.0 V p - p 高幅度 PWM 锯齿波下,ADP1972 具有出色的 PWM 线性度,能够提供更稳定的输出。
可调频率范围为 50 kHz 至 300 kHz,带可调相移的同步输出或输入,可编程最大占空比(最大内部占空比可达 98%),以及可编程软启动功能,这些特性使得工程师可以根据具体应用进行精确的参数调整。
具备峰值打嗝限流保护、输入电压 UVLO 保护和 TSD 保护等多重保护功能,有效提高了系统的可靠性和稳定性,避免因异常情况对器件造成损坏。
ADP1972 有两个电源引脚:VIN 和 VREG。VIN 引脚由 6 V 至 60 V 的外部电源供电,为内部 LDO 调节器提供电源电压,需使用 4.7 µF 或更大的陶瓷电容将其旁路至地。VREG 引脚是内部 LDO 稳压器的输出,产生 5 V(典型值)电压轨,用于偏置控制电路和作为其他引脚的上拉电压,同时使用 1 µF 陶瓷电容将其旁路至地。当输入电压超过 50 V 时,需要额外的输入滤波。
EN 输入可启动或关闭 ADP1972。当 EN 电压小于 1.22 V(典型值)时,器件关断,拉低 DL 和 DH;当 EN 电压大于 1.25 V(典型值)时,器件使能。此外,该器件还可通过 TSD 事件、UVLO 状况或 FAULT 引脚指示的外部故障状况禁用。
VIN 引脚内置 UVLO 功能,当 VIN 上升时,UVLO 限制器件启动,直到 VIN 大于 5.71 V(典型值);当 VIN 下降时,如果 VIN 降至 5.34 V(典型值)以下,UVLO 会禁用器件,防止低电压下的不稳定工作和电路受损,且具有大约 370 mV 的迟滞以确保无毛刺启动。
ADP1972 配有软启动电路,当利用 EN 引脚使能器件时,VREG 电压上升到 5 V。当 VREG 达到 5 V(典型值)的 90%时,5 µA(典型值)内部软启动电流开始给软启动电容充电,引起 SS 引脚电压上升。当 SS 引脚电压小于 0.52 V(典型值)时,开关控制保持禁用状态;当达到 0.52 V(典型值)时,开关使能,控制环路开始调节,使输出电压线性上升,避免启动过冲。
ADP1972 可以配置为异步升压器或异步降压器。将 MODE 引脚拉低 1.05 V(典型值)以下,以升压配置工作,适用于电池充电应用中的电源循环和放电;将 MODE 引脚拉高 1.20 V(典型值)以上,以降压配置工作,适用于电池充电。在器件使能时,MODE 引脚的状态被锁存,切换工作模式需关断或禁用器件后调整。
通过对 MODE 引脚施加不同的电压来选择工作模式。仅当 ADP1972 通过 EN 引脚关断,或因 FAULT 引脚指示的外部故障、TSD 事件、UVLO 状况而禁用时,才能改变 MODE 引脚的状态。
使用公式 (I{PK}(mA)=frac{100 mV}{R{S}}) 来设置电流限值,降压和升压模式下内部限流基准电压不同,还需要外部电阻 (R{CL}) 来使电流适当地偏移,(R{CL}) 值设置为 20 kΩ。建议使用容差为 1%或更佳的电阻,以确保降压和升压两种工作模式下的峰值电流限值相同。
当 (V{SCFG} ≥ 4.53 V) 或 SCFG 引脚悬空时,ADP1972 以 FREQ 设置的频率工作,SYNC 引脚输出设定频率的时钟;当 (V{SCFG} ≤ 0.5 V) 时,SYNC 引脚配置为输入,ADP1972 与外部时钟同步;当 (0.65 V < V{SCPG} < 4.25 V) 时,ADP1972 与外部时钟的相移版本同步。需根据主从器件的不同精心选择 (R{FREQ})。
ADP1972 设计的内部最大占空比为 98%(典型值)。通过在 DMAX 和地之间连接一个电阻,可将最大占空比设置为 0%到 98%之间的任意值,计算公式为 (D{MAX}(%)=frac{21.5 × V{FREQ} × R{DMAX}}{R{FREQ}} - 10.5)。如果设置值大于 98%,则默认使用内部最大值。
ADP1972 具有可编程软启动特性,使用公式 (t{REG}=frac{0.52}{I{SS}} × C{SS}) 计算切换使能前的延迟时间,其中 (I{SS}=5 mu A)(典型值)。若不使用 (C_{SS}) 电容,启动时系统可能产生很大的输出过冲和峰值电感尖峰。
构建含主器件和多个从器件的系统时,要使 SYNC 引脚相关的走线电容最小。对于小型系统,可在主器件 SYNC 信号和从器件 SYNC 输入引脚之间串联电阻;对于大型应用,使用外部缓冲器来降低走线电容。
VIN 和 VREG 的低 ESR 输入电源电容应尽可能靠近相应的引脚,以减小从电路板寄生电感注入器件的噪声。
用于 SCFG、FREQ、DMAX 和 SS 引脚的元件应靠近相应引脚放置,并统一连接到 AGND 层,与 GND 引脚形成开尔文连接。
COMP 引脚到配套器件的走线应尽可能短,避免在开关信号附近布设,可能时应予以屏蔽。SYNC 引脚的走线或元件应远离敏感模拟节点,使用外部上拉时,上拉电阻的电源和 GND 之间最好使用一个本地 0.1 µF 旁路电容。从 DH 和 DL 引脚到外部元件的走线应尽量短,以减小寄生电感和电容,避免影响控制信号。
ADP1972 的接地应直接与电流检测电阻 (R{S}) 的接地相连,通过一个 20 kΩ 电阻将 CL 直接连到 (R{S})。采用开尔文连接,确保 GND 引脚和 (GND_{SENSE}) 引脚之间的电压差不超过 ± 0.3 V。
总的来说,ADP1972 凭借其丰富的特性、灵活的工作模式和多重保护机制,为电池测试解决方案提供了一个可靠且高效的选择。在实际应用中,工程师们需要根据具体需求,合理配置其参数,并遵循 PCB 布局指南,以充分发挥其性能优势。你在使用类似的 PWM 控制器时,遇到过哪些挑战呢?欢迎在评论区分享你的经验。
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