LTC2262-12:12位150Msps超低功耗1.8V ADC的深度解析

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LTC2262-12:12位150Msps超低功耗1.8V ADC的深度解析

在电子工程师的日常工作中,一款性能卓越的模数转换器(ADC)是实现高质量信号处理的关键。今天,我们就来深入探讨Linear Technology的LTC2262-12这款12位、150Msps的超低功耗1.8V ADC,看看它有哪些独特之处以及如何在实际应用中发挥作用。

文件下载:LTC2262-12.pdf

一、产品概述

LTC2262-12是一款专为数字化高频、宽动态范围信号而设计的采样12位A/D转换器。它具有70.5dB的信噪比(SNR)和88dB的无杂散动态范围(SFDR),超低抖动仅为0.17psRMS,这使得它在欠采样中频(IF)频率时能展现出出色的噪声性能。同时,它的直流规格也十分出色,包括典型的±0.3LSB积分非线性(INL)、±0.1LSB微分非线性(DNL),并且在整个温度范围内无丢失码,过渡噪声低至0.3LSBRMS。

二、产品特性

高性能指标

  • 出色的动态性能:70.5dB的SNR和88dB的SFDR,确保了在高频信号处理时能够准确地还原信号,减少噪声和杂散信号的干扰。
  • 超低功耗:仅146mW的功耗,对于需要长时间运行或对功耗敏感的应用来说,是一个非常理想的选择。
  • 宽输入范围:可选择1Vp-p至2Vp-p的输入范围,能够适应不同的信号源,增加了产品的灵活性。
  • 高带宽:800MHz的全功率带宽采样保持(S/H)电路,使得它能够处理高频信号,满足现代通信等领域对高速信号处理的需求。

灵活的输出模式

  • 多种输出类型:提供CMOS、DDR CMOS或DDR LVDS输出,可根据不同的应用场景和系统要求进行选择。例如,DDR CMOS输出可以减少输出线的数量,简化电路板布线;DDR LVDS输出则可以降低系统中的数字噪声。
  • 可选功能:具有可选的数据输出随机化器和时钟占空比稳定器,进一步提高了信号处理的稳定性和可靠性。

低功耗模式

  • 关机和休眠模式:支持关机和休眠模式,在不需要工作时可以降低功耗,延长设备的使用寿命。

易于配置

  • 串行SPI端口:通过串行SPI端口进行配置,方便工程师对ADC的各种参数进行设置和调整。

引脚兼容

  • 14位和12位版本:具有引脚兼容的14位和12位版本,方便在不同精度要求的应用中进行升级或替换。

三、应用领域

通信领域

  • 蜂窝基站:在蜂窝基站中,需要对高频信号进行准确的数字化处理,LTC2262-12的高性能指标和低功耗特性使其能够满足基站对信号处理的要求。
  • 软件定义无线电(SDR):SDR系统需要灵活的信号处理能力,LTC2262-12的多种输出模式和可配置性能够适应SDR系统的需求。

医疗领域

  • 便携式医疗成像:对于便携式医疗成像设备,低功耗和高性能是关键。LTC2262-12的超低功耗和出色的动态性能能够满足医疗成像设备对信号处理的要求。

数据采集领域

  • 多通道数据采集:在多通道数据采集系统中,需要同时处理多个信号,LTC2262-12的高采样率和宽输入范围能够满足多通道数据采集的需求。

无损检测领域

  • 无损检测:无损检测需要对微弱信号进行准确的检测和分析,LTC2262-12的低噪声和高分辨率能够满足无损检测的要求。

四、电气特性

绝对最大额定值

  • 电源电压:VDD和OVDD的范围为 -0.3V至2V。
  • 模拟输入电压:AIN+、AIN–、PAR/SER、SENSE的范围为 -0.3V至(VDD + 0.2V)。
  • 数字输入电压:ENC+、ENC–、CS、SDI、SCK的范围为 -0.3V至3.9V。
  • SDO输出电压:范围为 -0.3V至3.9V。
  • 数字输出电压:范围为 -0.3V至(OVDD + 0.3V)。
  • 工作温度范围:LTC2262C为0°C至70°C,LTC2262I为 -40°C至85°C。

转换器特性

  • 分辨率:12位,无丢失码。
  • 积分线性误差:典型值为±0.3LSB。
  • 微分线性误差:典型值为±0.1LSB。
  • 偏移误差:典型值为±1.5mV。
  • 增益误差:内部参考时为±0.4%FS,外部参考时为±1.5%FS。
  • 偏移漂移:±20µV/°C。
  • 满量程漂移:内部参考时为±30ppm/°C,外部参考时为±10ppm/°C。
  • 过渡噪声:外部参考时为0.3LSBRMS。

模拟输入特性

  • 模拟输入范围:1.7V < VDD < 1.9V时,为1至2Vp-p。
  • 模拟输入共模电压:差分模拟输入时,为VCM - 100mV至VCM + 100mV。
  • 外部电压参考:施加到SENSE引脚时,范围为0.625V至1.300V。
  • 模拟输入共模电流:每引脚185µA。
  • 模拟输入泄漏电流:AIN+、AIN–在0 < AIN+、AIN– < VDD且无编码时,为 -1至1µA。
  • PAR/SER输入泄漏电流:0 < PAR/SER < VDD时,为 -3至3µA。
  • SENSE输入泄漏电流:0.625V < SENSE < 1.3V时,为 -6至6µA。
  • 采样保持采集延迟时间:0ns。
  • 采样保持采集延迟抖动:0.17psRMS。
  • 模拟输入共模抑制比:80dB。
  • 全功率带宽:800MHz。

动态精度特性

  • 信噪比(SNR):在5MHz、30MHz、70MHz和140MHz输入时,分别为70.5dB、70.4dB、70.3dB和70.1dB。
  • 无杂散动态范围(SFDR):在5MHz、30MHz、70MHz和140MHz输入时,2nd或3rd谐波分别为88dB、88dB、82dB和81dB,4th谐波或更高分别为90dB、90dB、90dB和90dB。
  • 信号与噪声加失真比(S/(N+D)):在5MHz、30MHz、70MHz和140MHz输入时,分别为70.4dB、70.3dB、70dB和69.8dB。

内部参考特性

  • VCM输出电压:IOUT = 0时,为0.5 • VDD - 25mV至0.5 • VDD + 25mV。
  • VCM输出温度漂移:±25ppm/°C。
  • VCM输出电阻: -600µA < IOUT < 1mA时,为4Ω。
  • VREF输出电压:IOUT = 0时,为1.225V至1.275V。
  • VREF输出温度漂移:±25ppm/°C。
  • VREF输出电阻: -400µA < IOUT < 1mA时,为7Ω。
  • VREF线调节:1.7V < VDD < 1.9V时,为0.6mV/V。

数字输入和输出特性

  • 编码输入(ENC+、ENC–):差分编码模式下,差分输入电压为0.2V至1.6V,共模输入电压内部设置或外部设置,输入电压范围为0.2V至3.6V,输入电阻为10kΩ,输入电容为3.5pF;单端编码模式下,高电平输入电压为1.2V,低电平输入电压为0.6V,输入电压范围为0至3.6V,输入电阻为30kΩ,输入电容为3.5pF。
  • 数字输入(CS、SDI、SCK):高电平输入电压为1.3V,低电平输入电压为0.6V,输入电流为 -10至10µA,输入电容为3pF。
  • SDO输出:逻辑低输出电阻为200Ω,逻辑高输出泄漏电流为 -10至10µA,输出电容为4pF。
  • 数字数据输出(CMOS模式):OVDD = 1.8V时,高电平输出电压为1.750V至1.790V,低电平输出电压为0.010V至0.050V;OVDD = 1.5V时,高电平输出电压为1.488V,低电平输出电压为0.010V;OVDD = 1.2V时,高电平输出电压为1.185V,低电平输出电压为0.010V。
  • 数字数据输出(LVDS模式):差分输出电压为247mV至454mV,共模输出电压为1.125V至1.375V,片上终端电阻为100Ω。

功率要求

  • CMOS输出模式:VDD为1.7V至1.9V,OVDD为1.1V至1.9V,模拟电源电流DC输入时为80.9mA,正弦波输入时为82.7mA,数字电源电流正弦波输入且OVDD = 1.2V时为5.1mA,功耗DC输入时为146mW,正弦波输入且OVDD = 1.2V时为155mW。
  • LVDS输出模式:VDD为1.7V至1.9V,OVDD为1.7V至1.9V,模拟电源电流正弦波输入时为86.3mA至99.2mA,数字电源电流正弦输入且1.75mA模式时为18.8mA至21mA,3.5mA模式时为36.7mA至40mA,功耗正弦输入且1.75mA模式时为189mW至217mW,3.5mA模式时为221mW至251mW。
  • 睡眠模式功率:0.5mW。
  • 休眠模式功率:9mW。
  • 差分编码模式启用时的功率增加:10mW。

时序特性

  • 采样频率:1MHz至150MHz。
  • ENC低时间:占空比稳定器关闭时为3.17ns至500ns,开启时为2.0ns至500ns。
  • ENC高时间:占空比稳定器关闭时为3.17ns至500ns,开启时为2.0ns至500ns。
  • 采样保持采集延迟时间:0ns。
  • 数字数据输出(CMOS模式):ENC到数据延迟为1.1ns至3.1ns,ENC到CLKOUT延迟为1ns至2.6ns,DATA到CLKOUT偏斜为0至0.6ns,流水线延迟全速率模式为5.0个周期,双数据速率模式为5.5个周期。
  • 数字数据输出(LVDS模式):ENC到数据延迟为1.1ns至3.2ns,ENC到CLKOUT延迟为1ns至2.7ns,DATA到CLKOUT偏斜为0至0.6ns,流水线延迟为5.5个周期。
  • SPI端口时序:SCK周期写模式为250ns,读回模式为40ns,CS到SCK建立时间为5ns,SCK到CS建立时间为5ns,SDI建立时间为5ns,SDI保持时间为5ns,SCK下降沿到SDO有效读回模式为125ns。

五、引脚配置

LTC2262-12有三种数字输出模式,分别为全速率CMOS输出模式、双数据速率CMOS输出模式和双数据速率LVDS输出模式。不同模式下的引脚配置有所不同,但都具有各自的特点和优势。例如,在全速率CMOS输出模式下,D0至D11为数字输出,CLKOUT+和CLKOUT–为数据输出时钟;在双数据速率CMOS输出模式下,D0_1至D10_11为双数据速率数字输出;在双数据速率LVDS输出模式下,D0_1–/D0_1+至D10_11–/D10_11+为双数据速率数字输出,OF–/OF+为溢出数字输出。

六、应用信息

转换器操作

LTC2262-12由单1.8V电源供电,模拟输入应采用差分驱动,编码输入可以差分或单端驱动以降低功耗。数字输出可以是CMOS、双数据速率CMOS或双数据速率LVDS。通过串行SPI端口对模式控制寄存器进行编程,可以选择许多附加功能。

模拟输入

模拟输入是一个差分CMOS采样保持电路,输入应围绕由VCM输出引脚设置的共模电压进行差分驱动,对于2V输入范围,输入应在VCM - 0.5V至VCM + 0.5V之间摆动,并且输入之间应有180°的相位差。

输入驱动电路

  • 输入滤波:在模拟输入处应设置RC低通滤波器,以隔离驱动电路与A/D采样保持开关,并限制驱动电路的宽带噪声。
  • 变压器耦合电路:在较高输入频率下,使用传输线巴伦变压器可以获得更好的平衡,从而降低A/D失真。
  • 放大器电路:在非常高的频率下,RF增益块通常比差分放大器具有更低的失真。如果增益块是单端的,则应使用变压器电路将信号转换为差分信号后再驱动A/D。

参考

LTC2262-12具有内部1.25V电压参考。通过将SENSE引脚连接到VDD或地,可以选择不同的输入范围。也可以通过向SENSE引脚施加0.625V至1.30V的电压来调整输入范围。

编码输入

编码输入的信号质量会强烈影响A/D的噪声性能,应将其视为模拟信号,避免在电路板上与数字走线相邻。编码输入有差分编码模式和单端编码模式两种操作模式,应根据不同的输入信号类型选择合适的模式。

时钟占空比稳定器

为了获得良好的性能,编码信号的占空比应为50%(±5%)。如果启用可选的时钟占空比稳定器电路,编码占空比可以在30%至70%之间变化,稳定器将保持内部占空比为50%。

数字输出

  • 数字输出模式:LTC2262-12可以在全速率CMOS、双数据速率CMOS和双数据速率LVDS三种数字输出模式下工作。
  • 溢出位:溢出输出位(OF)在模拟输入超出范围或低于范围时输出逻辑高电平,与数据位具有相同的流水线延迟。
  • 输出时钟相移:可以通过串行编程模式控制寄存器A2对CLKOUT+/CLKOUT–信号进行相移,以允许在锁存数据时具有足够的建立和保持时间。
  • 数字输出随机化:通过对数字输出进行随机化,可以减少A/D数字输出的干扰。
  • 交替位极性:交替位极性模式可以减少电路板上的数字反馈,降低数字噪声。
  • 数字输出测试模式:可以通过串行编程模式控制寄存器A4启用数字输出测试模式,用于对A/D数字接口进行在线测试。
  • 输出禁用:可以通过串行编程模式控制寄存器A3禁用数字输出。

睡眠和休眠模式

LTC2262-12可以进入睡眠或休眠模式以节省功率。睡眠模式下整个A/D转换器断电,功耗为0.5mW;休眠模式下A/D核心断电,内部参考电路保持活动,唤醒速度比睡眠模式快。

设备编程模式

LTC2262-12的操作模式可以通过并行接口或简单的串行接口进行编程。串行接口具有更多的灵活性,可以编程所有可用模式;并行接口则相对有限,只能编程一些常用模式。

七、典型应用

文档中给出了LTC2262评估板的原理图,展示了该ADC在实际应用中的电路连接方式。通过合理的电路设计和布局,可以充分发挥LTC2262-12的性能优势。

八、总结

LTC22

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