深入解析 onsemi NVMYS3D5N04C N 沟道 MOSFET

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描述

深入解析 onsemi NVMYS3D5N04C N 沟道 MOSFET

在电子设计领域,MOSFET 作为关键的功率器件,其性能直接影响着整个电路的效率和稳定性。今天,我们就来深入了解 onsemi 推出的 NVMYS3D5N04C 这款 N 沟道 MOSFET,看看它有哪些独特之处。

文件下载:NVMYS3D5N04C-D.PDF

产品概述

NVMYS3D5N04C 是一款专为紧凑设计而打造的功率型单 N 沟道 MOSFET。它具有 40V 的耐压能力,最大漏源导通电阻(RDS(ON))低至 3.3mΩ(在 10V 栅源电压下),最大漏极电流(ID MAX)可达 102A。这些参数使得它在功率转换、电机驱动等领域具有广泛的应用前景。

产品特性

紧凑设计

该 MOSFET 采用了 5x6mm 的小尺寸封装(LFPAK4),非常适合对空间要求较高的应用场景。这种紧凑的设计不仅节省了电路板空间,还能提高整个系统的集成度。

低损耗特性

  • 低 RDS(ON):低导通电阻可以有效降低导通损耗,提高功率转换效率。在实际应用中,这意味着更少的能量被转化为热量,从而减少了散热需求,提高了系统的可靠性。
  • 低 QG 和电容:低栅极电荷(QG)和电容能够减少驱动损耗,降低驱动电路的功耗。这使得 MOSFET 在高频开关应用中表现出色,能够快速响应开关信号,减少开关时间和损耗。

高可靠性

  • AEC - Q101 认证:该器件通过了 AEC - Q101 认证,这意味着它符合汽车级应用的严格要求,具有较高的可靠性和稳定性。
  • Pb - Free 和 RoHS 合规:符合环保标准,满足现代电子产品对环保的要求。

电气特性

最大额定值

参数 符号 单位
漏源电压 VDSS 40 V
栅源电压 VGS ±20 V
连续漏极电流(TC = 25°C) ID 102 A
连续漏极电流(TC = 100°C) ID 72 A
功率耗散(TC = 25°C) PD 68 W
功率耗散(TC = 100°C) PD 34 W
脉冲漏极电流(TA = 25°C,tp = 10s) IDM 554 A
工作结温和存储温度范围 TJ, Tstg -55 至 +175 °C
源极电流(体二极管) IS 65 A
单脉冲漏源雪崩能量(IL(pk) = 7.0A) EAS 215 mJ
焊接用引脚温度(距外壳 1/8″,10s) TL 260 °C

电气参数

  • 关断特性:漏源击穿电压(V(BR)DSS)为 40V,零栅压漏极电流(IDSS)在 TJ = 25°C 时为 10μA,在 TJ = 125°C 时为 100μA。
  • 导通特性:栅极阈值电压(VGS(TH))在 2.5 - 3.5V 之间,阈值温度系数为 -7.8mV/°C。漏源导通电阻(RDS(on))在 VGS = 10V、ID = 50A 时为 2.7 - 3.3mΩ。
  • 电荷、电容和栅极电阻:输入电容(CISS)为 1600pF,输出电容(COSS)为 830pF,反向传输电容(CRSS)为 28pF。总栅极电荷(QG(TOT))为 23nC。
  • 开关特性:开关特性与工作结温无关,具有较好的稳定性。
  • 漏源二极管特性:正向二极管电压(VSD)在 TJ = 25°C、IS = 50A 时为 0.9 - 1.2V,在 TJ = 125°C 时为 0.78V。反向恢复时间(tRR)为 37ns。

典型特性曲线

文档中提供了一系列典型特性曲线,这些曲线直观地展示了 MOSFET 在不同条件下的性能表现。

  • 导通区域特性:展示了漏极电流(ID)与漏源电压(VDS)之间的关系,帮助工程师了解 MOSFET 在导通状态下的工作特性。
  • 传输特性:体现了漏极电流(ID)与栅源电压(VGS)之间的关系,对于确定 MOSFET 的工作点和驱动要求非常重要。
  • 导通电阻与栅源电压的关系:表明了导通电阻(RDS(on))随栅源电压(VGS)的变化情况,有助于优化驱动电路的设计。
  • 导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系:展示了导通电阻在不同漏极电流和栅极电压下的变化,为电路设计提供了更详细的参考。
  • 导通电阻随温度的变化:反映了导通电阻随结温的变化趋势,对于考虑散热设计和温度补偿具有重要意义。
  • 漏源泄漏电流与电压的关系:显示了漏源泄漏电流(IDSS)随漏源电压(VDS)的变化情况,有助于评估 MOSFET 的关断性能。
  • 电容变化特性:展示了输入电容(CISS)、输出电容(COSS)和反向传输电容(CRSS)随漏源电压(VDS)的变化,对于高频应用的设计非常关键。
  • 栅源和漏源电压与总电荷的关系:体现了栅源电压(VGS)、漏源电压(VDS)与总栅极电荷(QG)之间的关系,对于优化驱动电路的设计和开关性能具有重要指导作用。
  • 电阻性开关时间随栅极电阻的变化:展示了开关时间(td(on)、td(off)、tf)随栅极电阻(RG)的变化情况,对于选择合适的栅极电阻和优化开关速度非常重要。
  • 二极管正向电压与电流的关系:显示了二极管正向电压(VSD)随源极电流(IS)的变化情况,有助于评估体二极管的性能。
  • 安全工作区:定义了 MOSFET 在不同电压和电流条件下能够安全工作的区域,为电路设计提供了重要的参考。
  • IPEAK 与雪崩时间的关系:展示了峰值电流(IPEAK)与雪崩时间的关系,对于评估 MOSFET 在雪崩情况下的性能非常重要。
  • 热特性:展示了热阻(RJA)随脉冲时间的变化情况,对于散热设计和热管理具有重要意义。

订购信息

该器件的型号为 NVMYS3D5N04CTWG,标记为 3D5N04C,采用 LFPAK4(Pb - Free)封装,以 3000 个/盘带和卷轴的形式发货。

总结

NVMYS3D5N04C 是一款性能出色的 N 沟道 MOSFET,具有紧凑设计、低损耗、高可靠性等优点。其丰富的电气特性和典型特性曲线为工程师提供了详细的设计参考。在实际应用中,工程师可以根据具体的需求和电路要求,合理选择和使用这款 MOSFET,以实现高效、稳定的功率转换和控制。

大家在使用这款 MOSFET 时,有没有遇到过什么问题或者有什么独特的应用经验呢?欢迎在评论区分享交流。

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