电子说
在电子设计领域,功率 MOSFET 是至关重要的元件,它广泛应用于各种电源管理和功率转换电路中。今天我们要深入探讨的是 onsemi 公司的 NVTFS6H850NL N 沟道功率 MOSFET,它具有诸多出色的特性,能满足众多紧凑设计的需求。
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NVTFS6H850NL 采用了 3.3 x 3.3 mm 的小尺寸封装,这对于需要紧凑设计的应用场景来说至关重要。在如今追求小型化、集成化的电子设备中,这种小尺寸封装能够有效节省 PCB 空间,为设计带来更多的灵活性。
| 参数 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|
| 漏源电压 (V_{DSS}) | 80 | V |
| 栅源电压 (V_{GS}) | - | - |
| 连续漏极电流 (I{D})((T{C}=25^{circ}C)) | - | A |
| 功率耗散 (P{D})((T{C}=25^{circ}C)) | - | W |
| 连续漏极电流 (I{D})((T{A}=100^{circ}C)) | - | A |
| 功率耗散 (P{D})((T{A}=100^{circ}C)) | 1.9 | W |
| 脉冲漏极电流 (I_{DM}) | - | A |
| 结温 (T{J}) 和存储温度 (T{stg}) | -55 至 175 | °C |
| 源极电流(体二极管) (I_{S}) | 61 | A |
需要注意的是,超过最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。
| 参数 | 符号 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 结到壳的稳态热阻 (R_{JC}) | (R_{JC}) | 2.0 | °C/W |
| 结到环境的稳态热阻 (R_{JA}) | (R_{JA}) | 39 | °C/W |
热阻参数对于散热设计至关重要,它反映了器件散热的难易程度。在实际应用中,需要根据热阻参数合理设计散热方案,确保器件在安全的温度范围内工作。
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 输入电容 (C_{iss}) | (C_{iss}) | (V{GS}=0 V),(f = 1.0 MHz),(V{DS}=40 V) | 1450 | pF |
| 反向传输电容 (C_{rss}) | (C_{rss}) | - | 10 | pF |
| 输出电容 (C_{oss}) | (C_{oss}) | - | 182 | pF |
| 总栅电荷 (Q{G(TOT)})((V{GS}=10 V)) | (Q_{G(TOT)}) | (V{GS}=10 V),(V{DS}=40 V),(I_{D}=10 A) | 26 | nC |
| 总栅电荷 (Q{G(TOT)})((V{GS}=4.5 V)) | (Q_{G(TOT)}) | (V{GS}=4.5 V),(V{DS}=40 V),(I_{D}=10 A) | 13 | nC |
| 栅源电荷 (Q_{GS}) | (Q_{GS}) | - | 4.0 | nC |
| 栅漏电荷 (Q_{GD}) | (Q_{GD}) | - | 4.2 | nC |
这些电荷和电容参数对于 MOSFET 的开关速度和驱动电路的设计有重要影响。
在 (V{GS}=4.5 V),(V{DS}=64 V),(I{D}=10 A),(R{G}=2.5 Omega) 的条件下:
开关特性决定了 MOSFET 在开关过程中的速度和效率,对于高频开关应用尤为重要。
| 参数 | 测试条件 | (T_{J}=25^{circ}C) | (T_{J}=125^{circ}C) | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 正向二极管电压 (V_{SD}) | (V{Gs}=0V),(I{s}=10A) | 0.8 - 1.2 | 0.7 | V |
| 反向恢复时间 (t_{RR}) | (V{Gs}=0 V),(dI/dt = 100 A/s),(I{s}=10A) | - | 37 | ns |
| 电荷时间 (t_{a}) | - | - | 22 | ns |
| 放电时间 (t_{b}) | - | - | 15 | ns |
| 反向恢复电荷 (Q_{RR}) | - | - | 40 | nC |
漏源二极管特性对于 MOSFET 在反向导通时的性能有重要影响。
从导通区域特性曲线(Figure 1)可以看出,不同栅源电压下,漏极电流随漏源电压的变化情况。随着栅源电压的增加,漏极电流也相应增加,这符合 MOSFET 的工作原理。
传输特性曲线(Figure 2)展示了在不同结温下,漏极电流随栅源电压的变化。结温的变化会影响 MOSFET 的导通特性,工程师在设计时需要考虑结温对性能的影响。
导通电阻与栅源电压和漏极电流的关系曲线(Figure 3 和 Figure 4)表明,导通电阻随栅源电压的增加而减小,随漏极电流的增加而略有增加。这对于选择合适的栅源电压和设计负载电流具有重要指导意义。
导通电阻随温度的变化曲线(Figure 5)显示,导通电阻随温度的升高而增大。在高温环境下,需要考虑导通电阻增大对电路性能的影响。
漏源泄漏电流与电压的关系曲线(Figure 6)表明,在不同结温下,漏源泄漏电流随漏源电压的变化情况。较低的漏源泄漏电流有助于提高电路的稳定性。
电容变化特性曲线(Figure 7)展示了输入电容 (C{iss})、反向传输电容 (C{rss}) 和输出电容 (C_{oss}) 随漏源电压的变化。电容的变化会影响 MOSFET 的开关速度和驱动电路的设计。
栅源电压与总栅电荷的关系曲线(Figure 8)有助于工程师了解栅极驱动所需的电荷量,从而设计合适的驱动电路。
电阻性开关时间与栅极电阻的关系曲线(Figure 9)显示,开关时间随栅极电阻的增加而增加。在设计驱动电路时,需要合理选择栅极电阻,以平衡开关速度和驱动功耗。
二极管正向电压与电流的关系曲线(Figure 10)展示了在不同结温下,二极管正向电压随电流的变化情况。这对于了解 MOSFET 内部二极管的性能非常重要。
最大额定正向偏置安全工作区曲线(Figure 11)定义了 MOSFET 在不同漏源电压和漏极电流下的安全工作范围。工程师在设计电路时,必须确保 MOSFET 的工作点在安全工作区内。
最大漏极电流与雪崩时间的关系曲线(Figure 12)显示了 MOSFET 在雪崩状态下的最大漏极电流随时间的变化。这对于评估 MOSFET 在异常情况下的可靠性非常重要。
热特性曲线(Figure 13)展示了不同占空比下的热阻随脉冲时间的变化情况。这对于散热设计和热管理具有重要指导意义。
NVTFS6H850NL 有两种封装可供选择:
文档中详细给出了 WDFN8 3.3x3.3, 0.65P 和 WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P(Full - Cut 8FL WF)两种封装的机械尺寸和外形图,包括各个尺寸的公差范围。这些信息对于 PCB 设计和器件安装非常重要,工程师需要根据这些尺寸进行合理的布局和布线。
onsemi 的 NVTFS6H850NL N 沟道功率 MOSFET 具有紧凑设计、低损耗、高可靠性等诸多优点,适用于各种电源管理和功率转换应用。在实际设计中,工程师需要根据具体的应用需求,合理选择器件的参数和封装,同时要充分考虑热管理、驱动电路设计等方面的问题。例如,如何根据导通电阻和热阻参数设计散热方案?如何根据开关特性和电荷电容参数设计合适的驱动电路?这些都是需要我们深入思考和研究的问题。希望通过本文的介绍,能帮助电子工程师更好地了解和应用 NVTFS6H850NL 这款 MOSFET。
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