描述
NXP MKE06 系列微控制器:特性、参数与应用指南
引言
在电子设计领域,微控制器是众多项目的核心组件。NXP 的 MKE06 系列微控制器以其丰富的特性和出色的性能,在市场上占据了一席之地。本文将深入剖析 MKE06 系列微控制器的数据手册,为电子工程师们提供全面的技术参考。
文件下载:MKE06Z128VQH4.pdf
一、产品概述
MKE06 系列微控制器支持多种型号,如 MKE06Z64VLD4(R)、MKE06Z128VLD4(R) 等。它具有广泛的应用场景,适用于各种对性能和稳定性有要求的电子设备。
(一)关键特性
- 工作特性
- 电压范围:工作电压范围为 2.7 至 5.5 V,闪存写入电压范围同样为 2.7 至 5.5 V,这使得它在不同的电源环境下都能稳定工作。
- 温度范围:环境温度范围为 -40 至 105°C,能够适应较为恶劣的工作环境。
- 性能表现
- 核心频率:采用 Arm® Cortex - M0+ 核心,最高可达 48 MHz,具备单周期 32 位 x 32 位乘法器和单周期 I/O 访问端口,处理能力强劲。
- 存储与接口
- 闪存与 RAM:最大支持 128 KB 闪存和 16 KB RAM,能够满足大多数应用的数据存储需求。
- 时钟系统
- 振荡器:支持 32.768 kHz 晶体或 4 MHz 至 24 MHz 晶体或陶瓷谐振器,提供低功耗和高增益振荡器选项。
- 内部时钟源:内部 FLL 搭配内部或外部参考,具备 37.5 kHz 预校准内部参考,可实现 48 MHz 系统时钟。
- 低功耗振荡器:内置 1 kHz 低功耗振荡器(LPO)。
- 系统外设
- 电源管理:具备电源管理模块(PMC),支持运行、等待、停止三种电源模式。
- 低电压检测:低电压检测(LVD)可选择复位或中断,具备可选的触发点。
- 看门狗:配备独立时钟源的看门狗(WDOG),增强系统的稳定性。
- CRC 模块:可编程循环冗余校验模块(CRC),用于数据校验。
- 调试接口:支持串行线调试接口(SWD),方便开发调试。
- 位操作:具备别名 SRAM 位带区域(BIT - BAND)和位操作引擎(BME)。
- 安全与完整性
- 每颗芯片拥有 80 位唯一识别(ID)号,保障系统的安全性。
- 人机接口
- GPIO:最多支持 71 个通用输入/输出(GPIO)引脚,方便与外部设备连接。
- 键盘中断:配备两个 32 位键盘中断模块(KBI)和外部中断(IRQ)。
- 模拟模块
- ADC:一个最多 16 通道的 12 位 SAR ADC,可在停止模式下工作,具备可选的硬件触发。
- 模拟比较器:两个模拟比较器,包含 6 位 DAC 和可编程参考输入。
- 定时器
- 包括一个 6 通道 FlexTimer/PWM(FTM)、两个 2 通道 FlexTimer/PWM(FTM)、一个 2 通道周期性中断定时器(PIT)、一个脉冲宽度定时器(PWT)和一个实时时钟(RTC)。
- 通信接口
- 支持两个 SPI 模块、最多三个 UART 模块、两个 I2C 模块和一个 MSCAN 模块,满足多样化的通信需求。
(二)封装选项
提供 80 引脚 LQFP、64 引脚 QFP/LQFP 和 44 引脚 LQFP 三种封装选项,方便不同应用场景的选择。
二、订购信息
(一)确定可订购部件
有效的可订购部件编号可在 nxp.com 上查询,通过搜索设备编号 KE06Z 即可获取相关信息。
(二)部件标识
| 部件编号格式为 Q KE## A FFF R T PP CC N,各字段含义如下: |
字段 |
描述 |
值 |
| Q |
资格状态 |
M:完全合格,通用市场流通;P:预资格 |
| KE## |
Kinetis 系列 |
KE06 |
| A |
关键属性 |
Z:M0+ 核心 |
| FFF |
程序闪存大小 |
128:128 KB |
| R |
硅片版本 |
(空白):主版本;A:主版本后的修订版 |
| T |
温度范围(°C) |
V:–40 至 105 |
| PP |
封装标识符 |
LD:44 LQFP(10 mm x 10 mm);QH:64 QFP(14 mm x 14 mm);LH:64 LQFP(10 mm x 10 mm);LK:80 LQFP(14 mm x 14 mm) |
| CC |
最大 CPU 频率(MHz) |
4:48 MHz |
| N |
封装类型 |
R:卷带包装;(空白):托盘包装 |
例如,MKE06Z128VLK4 就是一个具体的部件编号示例。
三、参数分类
电气参数通过多种方法保证,分为以下几类:
- P:在每个单独设备的生产测试期间保证的参数。
- C:通过对具有统计相关性的样本进行设计表征,跨越工艺变化实现的参数。
- T:在典型条件下,对典型设备的小样本进行设计表征实现的参数(典型列中的所有值都属于此类)。
- D:主要从模拟中得出的参数。
四、评级
(一)热处理评级
| 符号 |
描述 |
最小值 |
最大值 |
单位 |
备注 |
| TSTG |
存储温度 |
-55 |
150 |
°C |
根据 JEDEC 标准 JESD22 - A103 确定 |
| TSDR |
无铅焊接温度 |
- |
260 |
°C |
根据 IPC/JEDEC 标准 J - STD - 020 确定 |
(二)湿度处理评级
湿度敏感度等级(MSL)为 3,根据 IPC/JEDEC 标准 J - STD - 020 确定。
(三)ESD 处理评级
| 符号 |
描述 |
最小值 |
最大值 |
单位 |
备注 |
| VHBM |
人体模型静电放电电压 |
–6000 |
+6000 |
V |
根据 JEDEC 标准 JESD22 - A114 确定 |
| VCDM |
带电设备模型静电放电电压 |
–500 |
+500 |
V |
根据 JEDEC 标准 JESD22 - C101 确定 |
| ILAT |
环境温度为 125°C 时的闩锁电流 |
–100 |
+100 |
mA |
根据 JEDEC 标准 JESD78D 确定 |
(四)电压和电流操作评级
| 绝对最大额定值仅为应力评级,在最大值下不能保证功能正常运行。具体参数如下: |
符号 |
描述 |
最小值 |
最大值 |
单位 |
| VDD |
数字电源电压 |
–0.3 |
6.0 |
V |
| IDD |
流入 VDD 的最大电流 |
- |
120 |
mA |
| VIN |
除真正开漏引脚外的输入电压 |
–0.3 |
VDD + 0.31 |
V |
| VIN(真正开漏引脚) |
真正开漏引脚的输入电压 |
–0.3 |
6 |
V |
| ID |
单引脚瞬时最大电流限制(适用于所有端口引脚) |
–25 |
25 |
mA |
| VDDA |
模拟电源电压 |
VDD – 0.3 |
VDD + 0.3 |
V |
五、电气规格
(一)非开关电气规格
- DC 特性
- 工作电压:2.7 至 5.5 V。
- 输出高电压(VOH):不同引脚和驱动强度下有不同的取值,例如标准驱动强度下,5 V 时 Iload = –5 mA 为 VDD – 0.8 V。
- 输出低电压(VOL):同样根据不同条件有不同取值,如标准驱动强度下,5 V 时 Iload = 5 mA 为 0.8 V。
- 输入高电压(VIH):不同 VDD 范围有不同计算方式,如 4.5≤VDD<5.5 V 时为 0.65 × VDD。
- 输入低电压(VIL):类似 VIH,根据 VDD 范围确定,如 4.5≤VDD<5.5 V 时为 0.35 × VDD。
- 输入滞回(Vhys):所有数字输入为 0.06 × VDD mV。
- 输入泄漏电流(|IIn|):引脚处于高阻抗输入模式时,VIN = VDD 或 VSS 时为 0.1 至 1 µA。
- 上拉电阻(RPU):不同引脚有不同取值范围,如 PTA2 和 PTA3 引脚为 30.0 至 60.0 kΩ。
- RAM 保留电压(VRAM):2.0 V。
- LVD 和 POR 规格
- POR 重新启动电压(VPOR):1.5 至 2.0 V。
- 低电压检测阈值(VLVDH、VLVDL):有不同的高低范围取值。
- 低电压警告电压(VLVW1H - VLVW4H、VLVW1L - VLVW4L):根据不同级别有不同取值。
- 带隙输出电压(VBG):1.14 至 1.18 V。
- 供应电流特性
- 运行模式电流:在不同核心/总线频率、VDD 电压和模块时钟状态下有不同的典型值和最大值。例如,FEI 模式下,48/24 MHz、VDD = 5 V 时,所有模块时钟启用,典型值为 11.1 mA。
- 等待模式电流:同样根据不同条件有不同取值,如 48/24 MHz、VDD = 5 V 时,典型值为 8.4 mA。
- 停止模式供应电流:无时钟活动(除 1 kHz LPO 时钟)时,VDD = 5 V 时典型值为 2 µA。
- EMC 性能
- 辐射发射行为:不同频率频段有不同的辐射发射电压,如 0.15 - 50 MHz 频段为 6 dBμV。
- 设计建议:系统设计师可参考 nxp.com 上的应用笔记,如 AN2321、AN1050 等,优化 EMC 性能。
(二)开关规格
- 控制时序
- 系统和核心时钟频率(fSys):最大 48 MHz。
- 总线频率(fBus):最大 24 MHz。
- 内部低功耗振荡器频率(fLPO):0.67 至 1.25 kHz。
- 外部复位脉冲宽度(textrst):1.5 × tcyc ns。
- 复位低驱动时间(trstdrv):34 × tcyc ns。
- IRQ 脉冲宽度:异步路径为 100 ns,同步路径为 1.5 × tcyc ns。
- 端口上升和下降时间:不同驱动强度和负载条件下有不同取值,如正常驱动强度(负载 = 50 pF)时,上升时间为 10.2 ns。
- FTM 模块时序
- 定时器时钟频率(fTimer):等于 fBus。
- 外部时钟频率(fTCLK):最小为 0 Hz。
- 外部时钟周期(tTCLK):最小为 4 × tTimer。
- 外部时钟高时间(tclkh):最小为 1.5 × tTimer。
- 外部时钟低时间(tclkl):最小为 1.5 × tTimer。
- 输入捕获脉冲宽度(tICPW):最小为 1.5 × tTimer。
六、热规格
(一)热操作要求
- 结温(TJ):–40 至 125 °C。
- 环境温度(TA):–40 至 105 °C,若要超过最大 TA,需确保 TJ 不超过最大值,可通过 TJ = TA + θJA x 芯片功耗计算 TJ。
(二)热特性
不同封装和电路板类型的热阻不同,如 64 LQFP 单层层板(1S)的热阻(RθJA)为 71 °C/W。平均芯片结温(TJ)可通过 TJ = TA + (PD × θJA) 计算,其中 PD = Pint + PI/O ,Pint = IDD × VDD 。
七、外设操作要求和行为
(一)核心模块
- SWD 电气特性
- 工作电压:2.7 至 5.5 V。
- SWD_CLK 频率:0 至 24 MHz。
- SWD_CLK 周期:1/J1 ns。
- SWD_CLK 脉冲宽度:20 ns。
- SWD_CLK 上升和下降时间:3 ns。
- SWD_DIO 输入数据设置时间:10 ns。
- SWD_DIO 输入数据保持时间:3 ns。
- SWD_CLK 高到 SWD_DIO 数据有效时间:最大 35 ns。
- SWD_CLK 高到 SWD_DIO 高阻时间:5 ns。
- 外部振荡器(OSC)和 ICS 特性
- 晶体或谐振器频率:低范围(RANGE = 0)为 31.25 至 39.0625 kHz,高范围(RANGE = 1)为 4 至 24 MHz。
- 负载电容:根据晶体或谐振器制造商建议确定。
- 反馈电阻:不同频率和模式下有不同取值,如低频低功耗模式为 MO。
- 串联电阻:同样根据不同模式和频率有不同取值。
- 晶体启动时间:低范围低功耗为 1000 ms,高范围高增益为 1.5 ms。
- 内部参考启动时间:20 至 50 µs。
- 内部参考时钟频率:工厂校准值为 37.5 kHz。
- DCO 输出频率范围:40 至 50 MHz。
- 工厂校准内部振荡器精度:±0.5%。
- IRC 温度偏差:–1 至 0.5%。
- DCO 输出频率精度:–1.5 至 1%。
- FLL 捕获时间:2 ms。
- DCO 输出时钟长期抖动:0.02 至 0.2 %fdco。
- NVM 规格
- 闪速存储器特性:
- 编程/擦除电源电压:2.7 至 5.5 V。
- 读取操作电源电压:2.7 至 5.5 V。
- NVM 总线频率:1 至 24 MHz。
- NVM 操作频率:0.8 至 1.05 MHz。
- 编程/擦除时间:不同操作有不同的时间范围,如擦除所有块为 95.42 至 100.30 ms。
- 编程/擦除耐久性:10 k 至 100k 周期。
- 数据保留时间:平均结温为 85°C 时,经过最多 10,000 次编程/擦除周期后为 15 至 100 年。
(二)模拟模块
- ADC 特性
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