深入解析 NTMFS6H818N:高性能 N 沟道 MOSFET 的卓越之选

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深入解析 NTMFS6H818N:高性能 N 沟道 MOSFET 的卓越之选

在电子工程领域,MOSFET 作为关键的功率器件,广泛应用于各类电路设计中。今天,我们将深入探讨安森美(onsemi)的 NTMFS6H818N 这款 N 沟道 MOSFET,详细剖析其特性、参数以及在实际应用中的优势。

文件下载:NTMFS6H818N-D.PDF

器件简介

NTMFS6H818N 是一款 80V、3.7mΩ、123A 的单 N 沟道功率 MOSFET。它具有小尺寸封装(5x6mm)的特点,非常适合紧凑型设计。同时,其低 (R{DS(on)}) 能够有效降低传导损耗,低 (Q{G}) 和电容则有助于减少驱动损耗。此外,该器件符合无铅(Pb - Free)和 RoHS 标准。

最大额定值

电压与电流额定值

  • 漏源电压((V_{DSS})):最大值为 80V,这决定了该 MOSFET 能够承受的最大漏源间电压。
  • 栅源电压((V_{GS})):范围为 ±20V,在设计栅极驱动电路时,必须确保栅源电压在这个范围内,以避免损坏器件。
  • 连续漏极电流((I_{D})):在不同温度条件下有不同的值。在 (T{C}=25^{circ}C) 时,(I{D}) 为 123A;在 (T{C}=100^{circ}C) 时,(I{D}) 为 87A。而在 (T{A}=25^{circ}C) 时,(I{D}) 为 20A;在 (T{A}=100^{circ}C) 时,(I{D}) 为 14A。这里需要注意的是,实际应用中电流的大小会受到环境温度的显著影响。
  • 脉冲漏极电流((I_{DM})):在 (T{A}=25^{circ}C),脉冲宽度 (t{p}=10mu s) 时,(I_{DM}) 可达 900A,这表明该 MOSFET 能够承受短时间的大电流脉冲。

功率与温度额定值

  • 功率耗散((P_{D})):在 (T{C}=25^{circ}C) 时,(P{D}) 为 136W;在 (T{C}=100^{circ}C) 时,(P{D}) 为 68W。在 (T{A}=25^{circ}C) 时,(P{D}) 为 3.8W;在 (T{A}=100^{circ}C) 时,(P{D}) 为 1.9W。功率耗散与温度密切相关,在设计散热系统时需要充分考虑。
  • 工作结温和存储温度((T{J},T{stg})):范围为 - 55 至 +175°C,这使得该 MOSFET 能够适应较宽的温度环境。

其他额定值

  • 源极电流(体二极管)((I_{S})):最大值为 113A。
  • 单脉冲漏源雪崩能量((E_{AS})):在 (I{L(pk)} = 9.3A) 时,(E{AS}) 为 731mJ,这体现了器件在雪崩状态下的能量承受能力。
  • 焊接引线温度((T_{L})):在距离管壳 1/8″ 处,焊接 10s 时的温度为 260°C。

热阻额定值

参数 符号 单位
结到壳 - 稳态 (R_{θJC}) 1.1 °C/W
结到环境 - 稳态(注 2) (R_{θJA}) 39 °C/W

需要注意的是,热阻会受到整个应用环境的影响,并非恒定值,且仅在特定条件下有效。其中,结到环境的热阻是在表面贴装于 FR4 板,使用 (650mm^{2})、2oz. Cu 焊盘的条件下测量的。

电气特性

关断特性

  • 漏源击穿电压((V_{(BR)DSS})):在 (V{GS}=0V),(I{D}=250mu A) 时,最小值为 80V。其温度系数为 39mV/°C,这意味着随着温度的升高,击穿电压会有所增加。
  • 零栅压漏极电流((I_{DSS})):在 (T{J}=25^{circ}C) 时为 10μA,在 (T{J}=125^{circ}C) 时为 100μA。温度升高会导致漏极电流增大。
  • 栅源泄漏电流((I_{GSS})):在 (V{DS}=0V),(V{GS}=20V) 时为 100nA。

导通特性

  • 栅极阈值电压((V_{GS(TH)})):在 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=190mu A) 时,范围为 2.0 - 4.0V。其温度系数为 7.0mV/°C。
  • 漏源导通电阻((R_{DS(on)})):在 (V{GS}=10V),(I{D}=20A) 时,范围为 3.1 - 3.7mΩ;在 (V{GS}=6V),(I{D}=20A) 时,范围为 4.6 - 5.7mΩ。较低的导通电阻有助于降低功率损耗。
  • 正向跨导((g_{FS})):在 (V{DS}=15V),(I{D}=50A) 时为 170S。
  • 栅极电阻((R_{G})):在 (T_{A}=25^{circ}C) 时为 3.0Ω。

电荷与电容特性

  • 输入电容((C_{ISS})):为 3100pF。
  • 输出电容((C_{OSS})):为 440pF。
  • 反向传输电容((C_{RSS})):为 20pF。
  • 输出电荷((Q_{OSS})):为 66nC。
  • 总栅极电荷((Q_{G(TOT)})):为 46nC。
  • 阈值栅极电荷((Q_{G(TH)})):为 9.0nC。
  • 栅源电荷((Q_{GS})):为 15nC。
  • 栅漏电荷((Q_{GD})):为 8.0nC。
  • 平台电压((V_{GP})):为 5.0V。

开关特性

在 (V{GS}=10V),(V{DS}=64V),(I{D}=50A),(R{G}=2.5Ω) 的条件下:

  • 导通延迟时间((t_{d(ON)})):为 22ns。
  • 上升时间((t_{r})):为 98ns。
  • 关断延迟时间((t_{d(OFF)})):为 49ns。
  • 下降时间((t_{f})):为 21ns。

漏源二极管特性

  • 正向二极管电压((V_{SD})):在 (V{GS}=0V),(I{S}=20A) 时,(T{J}=25^{circ}C) 时范围为 0.8 - 1.2V,(T{J}=125^{circ}C) 时为 0.7V。
  • 反向恢复时间((t_{RR})):为 63ns。
  • 充电时间((t_{a})):为 31ns。
  • 放电时间((t_{b})):为 32ns。
  • 反向恢复电荷((Q_{RR})):为 55nC。

典型特性

文档中给出了多个典型特性曲线,包括导通区域特性、转移特性、导通电阻与栅源电压关系、导通电阻与漏极电流和栅极电压关系、导通电阻随温度变化、漏源泄漏电流与电压关系、电容变化、栅源与总电荷关系、电阻性开关时间随栅极电阻变化、二极管正向电压与电流关系、最大额定正向偏置安全工作区、最大漏极电流与雪崩时间关系以及热响应等。这些曲线能够帮助工程师更好地了解器件在不同条件下的性能表现,从而优化电路设计。

器件订购信息

器件 标记 封装 包装
NTMFS6H818NT1G 6H818N DFN5(无铅) 1500 / 卷带包装

对于卷带规格的详细信息,可参考安森美提供的 Tape and Reel Packaging Specifications Brochure(BRD8011/D)。

机械尺寸与封装

该器件采用 DFN5(SO - 8FL)封装,尺寸为 5x6mm,引脚间距为 1.27mm。文档中给出了详细的机械尺寸图和封装说明,包括各引脚的定义和焊接脚印等信息。在进行 PCB 设计时,需要严格按照这些尺寸和要求进行布局,以确保器件的正常安装和使用。

总结

NTMFS6H818N 作为一款高性能的 N 沟道 MOSFET,具有小尺寸、低导通电阻、低驱动损耗等优点,适用于多种功率电路设计。在实际应用中,工程师需要根据具体的电路要求,综合考虑器件的各项参数和特性,合理设计电路和散热系统,以充分发挥该器件的性能优势。同时,要注意避免超过器件的最大额定值,确保器件的可靠性和稳定性。大家在使用这款 MOSFET 时,有没有遇到过一些特殊的问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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