电子说
在电子设计领域,数模转换器(DAC)是连接数字世界和模拟世界的关键桥梁。今天我们要深入探讨的是Analog Devices公司的AD9731,一款10位、170 MSPS的DAC,它在航天等对可靠性要求极高的领域有着重要应用。
文件下载:AD9731S.pdf
AD9731的规格文档详细规定了基于Analog Devices公司QML认证生产线制造的航天级产品的具体要求,遵循MIL - PRF - 38535 Level V标准,但有部分内容在此文档中进行了修改。其制造流程参考了《STANDARD SPACE LEVEL PRODUCTS PROGRAM》手册,相关信息可在http://www.analog.com/aerospace查询。此数据手册主要针对航天级版本,商业级产品更详细的操作说明和完整数据手册可在www.analog.com/AD9731获取。
| 产品型号 | 描述 |
|---|---|
| AD9731 - 703D | 10位、170 MSPS的DAC |
| AD9731 - 713D | 经过辐射测试的10位、170 MSPS的DAC |
| AD9731 - 703F | 10位、170 MSPS的DAC |
| AD9731 - 713F | 经过辐射测试的10位、170 MSPS的DAC |
| 代码 | 封装类型 | 描述 |
|---|---|---|
| D | CDIP2 - T28 | 28引脚陶瓷侧面钎焊双列直插式封装 |
| F | CDFP3 - F28 | 28引脚陶瓷底部钎焊扁平封装 |
这里大家可以思考一下,不同的封装形式会对产品在实际应用中的性能和布局产生哪些影响呢?
除非另有说明,测试条件为环境温度 (T_{A}=25^{circ}C)。
| 符号 | 条件 | 备注 | 参数 | 子组 | 最小值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DNL | 1 | 差分非线性 | 1 | 1.5 | LSB | ||
| INL | 1 | 积分非线性 | 1 | 1.5 | LSB | ||
| IOS | 1 | 零刻度偏移误差 | 70 | 100 | μA | ||
| Ae | 1, 2, 3 | 满量程增益误差 | ±5 | % FS | |||
| VREF | IREF = - 50 μA 到 500 μA | 1 | 内部参考电压 | - 1.35 | - 1.15 | V | |
| VIH | 1, 2, 3 | 输入逻辑“1”电压 | 2 | V | |||
| VIL | 1, 2, 3 | 输入逻辑“0”电压 | 0.8 | V | |||
| IIH | 1, 2, 3 | 输入逻辑“1”电流 | 50 | μA | |||
| IIL | 1, 2, 3 | 输入逻辑“0”电流 | 100 | μA | |||
| +IDIG | 1 | 正数字电源电流 | 20 | 22 | mA | ||
| -IDIG | 1 | 负数字电源电流 | 42 | 47 | mA | ||
| -IANA | 1 | 负模拟电源电流 | 53 | 66 | mA |
文档还给出了详细的电气测试要求,包括不同子组的测试要求、临时电气参数、最终电气参数以及各测试组的端点电气参数等。大家在进行测试时,一定要严格按照这些要求进行,以确保产品的性能符合标准。
文档中对AD9731的封装引脚布局有相关说明,但文档中未详细展示,大家在实际使用时可以进一步查阅相关资料。
该微电路属于技术组80。
稳态寿命测试遵循MIL - STD - 883 Method 1005,老化测试遵循MIL - STD - 883 Method 1015测试条件B。
对于采用QMLQ晶圆工艺制造的产品,无法进行MIL - STD - 883 TM 5007规定的全晶圆级外观检查(WLA),仅可按照MIL - STD - 883, TM2018进行扫描电子显微镜(SEM)检查。
文档记录了从2000年6月30日到2009年8月18日的多次版本变更,包括功能的添加、删除以及文档内容的更新等。了解这些变更历史可以帮助我们更好地理解产品的发展和改进过程。
总之,AD9731是一款性能优良的DAC产品,在航天等领域有着广泛的应用前景。电子工程师在设计和使用过程中,需要充分了解其各项参数和特性,以确保产品的可靠性和稳定性。大家在实际应用中遇到过哪些关于DAC的问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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