深入剖析HUF75339P3 N-Channel UltraFET Power MOSFET

电子说

1.4w人已加入

描述

深入剖析HUF75339P3 N-Channel UltraFET Power MOSFET

在电子工程师的日常设计中,功率MOSFET是至关重要的元件,它广泛应用于各种电源管理和功率转换电路中。今天,我们就来详细探讨一下FAIRCHILD的HUF75339P3 N-Channel UltraFET Power MOSFET,看看它有哪些独特的性能和特点。

文件下载:HUF75339P3-D.pdf

一、公司背景与产品编号变更

Fairchild半导体现已成为ON Semiconductor的一部分。由于系统要求,部分Fairchild可订购的产品编号需要更改。具体来说,由于ON Semiconductor产品管理系统无法处理带有下划线()的部件命名,Fairchild部件编号中的下划线()将更改为破折号(-)。大家在使用时,务必通过ON Semiconductor网站(www.onsemi.com)核实更新后的设备编号。

二、HUF75339P3产品概述

2.1 基本参数

HUF75339P3是一款N沟道功率MOSFET,采用创新的UltraFET工艺制造。其主要参数为55V、75A、12mΩ,能够承受雪崩模式下的高能量,并且二极管具有极低的反向恢复时间和存储电荷。该器件适用于对功率效率要求较高的应用,如开关稳压器、开关转换器、电机驱动器、继电器驱动器、低压总线开关以及便携式和电池供电产品的电源管理等。

2.2 订购信息

部件编号 封装 品牌
HUF75339P3 TO - 220AB 75339P

2.3 产品特点

  • 高电流与电压能力:具备75A电流和55V电压的处理能力,能满足大多数中功率应用的需求。
  • 丰富的仿真模型:提供温度补偿的PSPICE®和SABER™模型,以及可在www.fairchildsemi.com上获取的SPICE和SABER热阻抗模型,方便工程师进行电路仿真和设计优化。
  • 性能曲线参考:有峰值电流与脉冲宽度曲线、UIS额定曲线等,帮助工程师更好地了解器件在不同工作条件下的性能。
  • 相关文献支持:如TB334“Guidelines for Soldering Surface Mount Components to PC Boards”,为产品的使用和焊接提供了详细的指导。

三、产品规格参数

3.1 绝对最大额定值

在TC = 25°C(除非另有说明)的条件下,该器件的各项绝对最大额定值如下:

  • 漏源电压(VDSS):55V
  • 漏栅电压(VDGR):55V
  • 栅源电压(VGS):±20V
  • 连续漏极电流(ID):75A
  • 脉冲漏极电流(IDM):需参考图4
  • 脉冲雪崩额定值(EAS):参考图6、14、15
  • 功率耗散(PD):200W
  • 25°C以上的降额系数:1.35W/°C
  • 工作和存储温度范围(TJ, TSTG):-55°C至175°C
  • 引脚焊接最大温度(TL):300°C(10s,距离外壳0.063英寸或1.6mm处)
  • 封装体最大温度(Tpkg):260°C(10s,参考技术简报334)

需要注意的是,超过“绝对最大额定值”的应力可能会对器件造成永久性损坏,且这些只是应力额定值,并不意味着器件可以在这些或其他超出规格操作部分指示的条件下运行。

3.2 电气规格

在TC = 25°C(除非另有说明)的条件下,该器件的电气规格涵盖了多个方面:

  • 关断状态规格
    • 漏源击穿电压(BVDSS):ID = 250µA,VGS = 0V时为55V
    • 零栅压漏极电流(IDSS):VDS = 50V,VGS = 0V时最大为1µA;VDS = 45V,VGS = 0V,TC = 150°C时最大为250µA
    • 栅源泄漏电流(IGSS):VGS = ±20V时最大为±100nA
  • 导通状态规格
    • 栅源阈值电压(VGS(TH)):VGS = VDS,ID = 250µA时为2 - 4V
    • 漏源导通电阻(rDS(ON)):ID = 75A,VGS = 10V时典型值为0.010Ω,最大值为0.012Ω
  • 热规格
    • 结到外壳的热阻(RθJC):0.74°C/W
    • 结到环境的热阻(RθJA)(TO - 220封装):62°C/W
  • 开关规格(VGS = 10V)
    • 开启时间(tON):VDD = 30V,ID ≅ 75A,RL = 0.4Ω,VGS = 10V,RGS = 5.1Ω时最大为110ns
    • 开启延迟时间(td(ON)):典型值为15ns
    • 上升时间(tr):典型值为60ns
    • 关断延迟时间(td(OFF)):典型值为20ns
    • 下降时间(tf):典型值为25ns
    • 关断时间(tOFF):最大为70ns
  • 栅极电荷规格
    • 总栅极电荷(Qg(TOT)):VGS从0V到20V,VDD = 30V,ID ≅ 75A,RL = 0.4Ω,Ig(REF) = 1.0mA时为110 - 130nC
    • 10V时的栅极电荷(Qg(10)):60 - 75nC
    • 阈值栅极电荷(Qg(TH)):3.7 - 4.5nC
    • 栅源栅极电荷(Qgs):典型值为9nC
    • 反向传输电容(Qgd):典型值为23nC
  • 电容规格
    • 输入电容(CISS):VDS = 25V,VGS = 0V,f = 1MHz时典型值为2000pF
    • 输出电容(COSS):典型值为700pF
    • 反向传输电容(CRSS):典型值为160pF
  • 源漏二极管规格
    • 源漏二极管电压(ISD = 75A时):最大为1.25V
    • 反向恢复时间(ISD = 75A,dISD/dt = 100A/µs时):最大为85ns
    • 反向恢复电荷(ISD = 75A,dISD/dt = 100A/µs时):最大为160nC

3.3 典型性能曲线

文档中提供了一系列典型性能曲线,如归一化功率耗散与外壳温度曲线(图1)、最大连续漏极电流与外壳温度曲线(图2)、归一化最大瞬态热阻抗曲线(图3)、峰值电流能力曲线(图4)、正向偏置安全工作区曲线(图5)、非钳位电感开关能力曲线(图6)、饱和特性曲线(图7)、传输特性曲线(图8)、归一化漏源导通电阻与结温曲线(图9)、归一化栅极阈值电压与结温曲线(图10)、归一化漏源击穿电压与结温曲线(图11)、电容与漏源电压曲线(图12)以及栅极电荷波形曲线(图13)等。这些曲线能够帮助工程师直观地了解器件在不同工作条件下的性能变化,从而更好地进行电路设计和优化。

四、测试电路与波形

文档还给出了多个测试电路和相应的波形图,包括非钳位能量测试电路(图14)及其波形(图15)、栅极电荷测试电路(图16)及其波形(图17)、开关时间测试电路(图18)及其电阻性开关波形(图19)。这些测试电路和波形图为工程师进行器件测试和验证提供了重要的参考依据。

五、电气与热模型

5.1 电气模型

提供了PSPICE和SABER两种电气模型,详细列出了模型中的各种元件参数和模型定义。例如,在PSPICE模型中,有多个电容(如CA、CB、CIN等)、电感(如LDRAIN、LGATE、LSOURCE等)、电阻(如RDRAIN、RGATE、RSOURCE等)以及二极管(DBODY、DBREAK、DPLCAP等)的参数设置,还有各种MOSFET模型(MMEDMOD、MSTROMOD、MWEAKMOD等)的定义。这些模型能够更准确地模拟器件在电路中的行为,帮助工程师进行电路仿真和优化。

5.2 热模型

同样提供了SPICE和SABER两种热模型,包含了多个热电容(CTHERM1 - CTHERM6)和热电阻(RTHERM1 - RTHERM6)的参数设置。热模型对于评估器件在不同热环境下的性能和可靠性非常重要,工程师可以根据这些模型预测器件的温度变化,从而采取相应的散热措施。

六、商标与免责声明

文档中列出了Fairchild Semiconductor拥有的众多注册商标和未注册商标,同时也包含了相关的免责声明、生命支持政策以及反假冒政策。这些信息提醒工程师在使用产品时要注意知识产权问题,并且明确了产品的使用限制和责任归属。

七、总结与思考

HUF75339P3 N-Channel UltraFET Power MOSFET凭借其先进的工艺、出色的性能和丰富的模型支持,为电子工程师在功率管理和转换电路设计中提供了一个优秀的选择。在实际设计过程中,我们需要根据具体的应用需求,结合器件的各项规格参数和性能曲线,合理选择和使用该器件。同时,也要注意遵守相关的使用限制和规定,确保产品的安全可靠运行。大家在使用这款器件时,有没有遇到过什么独特的问题或者有什么特别的设计经验呢?欢迎在评论区分享交流。

打开APP阅读更多精彩内容
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !

×
20
完善资料,
赚取积分