FQB22P10 P-Channel QFET® MOSFET:性能与应用解析

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描述

FQB22P10 P-Channel QFET® MOSFET:性能与应用解析

一、引言

在电子工程师的日常设计工作中,MOSFET是一种常见且关键的电子元件。今天我们要深入探讨的是Fairchild Semiconductor(现属于ON Semiconductor)的FQB22P10 P-Channel QFET® MOSFET。这款MOSFET在众多电子应用中有着广泛的应用,下面我们将详细了解它的各项特性。

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二、产品概述

FQB22P10是一款P-Channel增强模式功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor的专有平面条纹和DMOS技术。这种先进的MOSFET技术经过特别设计,旨在降低导通电阻,提供卓越的开关性能和高雪崩能量强度。它适用于开关模式电源、音频放大器、直流电机控制和可变开关电源等应用。

三、关键参数与特性

3.1 基本参数

  • 电压与电流:其额定电压为 -100 V,连续漏极电流在 (T{C}=25^{circ} C) 时为 -22 A,在 (T{C}=100^{circ} C) 时为 -15.6 A,脉冲漏极电流可达 -88 A。
  • 导通电阻:在 (V{GS}=-10 ~V)、(I{D}=-11 ~A) 时,(R_{DS(on)}) 最大为 125 mΩ。
  • 温度范围:工作和存储温度范围为 -55 至 +175 °C,最大结温额定值为 175°C。

3.2 特性优势

  • 低栅极电荷:典型值为 40 nC,这有助于减少开关损耗,提高开关速度。
  • 低Crss:典型值为 160 pF,能降低米勒效应,改善开关性能。
  • 100%雪崩测试:保证了器件在雪崩情况下的可靠性。

四、电气特性分析

4.1 关断特性

  • 击穿电压:(BV{DSS}) 在 (V{GS} = 0 V)、(I_{D} = -250 µA) 时为 -100 V,其击穿电压温度系数为 -0.1 V/°C。
  • 漏极电流:零栅极电压漏极电流 (I{DSS}) 在 (V{DS} = -100 V)、(V{GS} = 0 V) 时为 -1 µA,在 (V{DS} = -80 V)、(T_{C} = 125°C) 时为 -10 µA。
  • 栅极泄漏电流:正向栅极 - 体泄漏电流 (I{GSSF}) 在 (V{GS} = -30 V)、(V{DS} = 0 V) 时为 -100 nA,反向栅极 - 体泄漏电流 (I{GSSR}) 在 (V{GS} = 30 V)、(V{DS} = 0 V) 时为 100 nA。

4.2 导通特性

  • 栅极阈值电压:(V{GS(th)}) 在 (V{DS} = V{GS})、(I{D} = -250 µA) 时,范围为 -2.0 至 -4.0 V。
  • 静态漏 - 源导通电阻:(R{DS(on)}) 在 (V{GS} = -10 V)、(I_{D} = -11 A) 时,范围为 0.096 至 0.125 Ω。
  • 正向跨导:(g{FS}) 在 (V{DS} = -40 V)、(I_{D} = -11 A) 时为 13.5 S。

4.3 动态特性

  • 输入电容:(C{iss}) 在 (V{DS} = -25 V)、(V_{GS} = 0 V)、(f = 1.0 MHz) 时,范围为 1170 至 1500 pF。
  • 输出电容:(C_{oss}) 范围为 460 至 600 pF。
  • 反向传输电容:(Crss) 范围为 160 至 200 pF。

4.4 开关特性

  • 导通延迟时间:(t{d(on)}) 在 (V{DD} = -50 V)、(I{D} = -22 A)、(R{G} = 25 Ω) 时,范围为 17 至 45 ns。
  • 导通上升时间:(t_{r}) 范围为 170 至 350 ns。
  • 关断延迟时间:(t_{d(off)}) 范围为 60 至 130 ns。
  • 关断下降时间:(t_{f}) 范围为 110 至 230 ns。
  • 总栅极电荷:(Q{g}) 在 (V{DS} = -80 V)、(I{D} = -22 A)、(V{GS} = -10 V) 时,范围为 40 至 50 nC。

4.5 漏 - 源二极管特性

  • 最大连续正向电流:(I{S}) 为 -22 A,最大脉冲正向电流 (I{SM}) 为 -88 A。
  • 正向电压:(V{SD}) 在 (V{GS} = 0 V)、(I_{S} = -22 A) 时为 -4.0 V。
  • 反向恢复时间:(t{rr}) 在 (V{GS} = 0 V)、(I{S} = -22 A)、(dI{F} / dt = 100 A/µs) 时为 110 ns。
  • 反向恢复电荷:(Q_{rr}) 为 0.6 µC。

五、热特性

  • 结到外壳热阻:(R_{theta JC}) 最大为 1.2 °C/W。
  • 结到环境热阻:在最小 2 oz 铜焊盘时,(R{theta JA}) 最大为 62.5;在 1 in² 的 2 oz 铜焊盘时,(R{theta JA}) 最大为 40。

六、典型特性曲线

文档中给出了多个典型特性曲线,如导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流与外壳温度的关系以及瞬态热响应曲线等。这些曲线有助于工程师更直观地了解器件在不同条件下的性能表现。

七、封装与订购信息

FQB22P10采用D2 - PAK封装,器件标记为FQB22P10,卷盘尺寸为330mm,胶带宽度为24mm,每卷数量为800。

八、注意事项

8.1 系统集成

由于Fairchild Semiconductor与ON Semiconductor的整合,部分Fairchild可订购的零件编号需要更改,以满足ON Semiconductor的系统要求。Fairchild零件编号中的下划线 (_) 将更改为破折号 (-),使用时需在ON Semiconductor网站上核实更新后的器件编号。

8.2 应用限制

ON Semiconductor产品不设计、不打算也未获授权用于生命支持系统、FDA Class 3医疗设备或具有相同或类似分类的外国医疗设备,以及任何用于人体植入的设备。如果购买或使用这些产品用于未预期或未授权的应用,买方需承担相关责任。

九、总结

FQB22P10 P-Channel QFET® MOSFET凭借其低导通电阻、良好的开关性能和高雪崩能量强度等特性,在众多电子应用中具有很大的优势。电子工程师在设计开关模式电源、音频放大器等电路时,可以充分考虑这款MOSFET的性能特点,合理选型和应用。同时,在使用过程中要注意系统集成和应用限制等问题,以确保设计的可靠性和安全性。大家在实际应用中是否遇到过类似MOSFET的选型和使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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