10位电流输出数模转换器DAC100技术解析

在电子设计领域，数模转换器（DAC）是模拟与数字世界之间的桥梁，起着至关重要的作用。今天我们就来深入了解一下Analog Devices公司的10位电流输出数模转换器DAC100。

文件下载：DAC100S.pdf

一、规格范围

DAC100的规格文档详细规定了其作为太空合格产品的要求，该产品在Analog Devices公司经QML认证的生产线上制造，遵循MIL - PRF - 38535 V级标准，但有部分内容在此处进行了修改。标准太空级产品计划手册中描述的制造流程也是本规格的一部分，该手册可在http://www.analog.com/aerospace 找到。此数据手册专门针对该产品的太空级版本，而商业产品级别的更详细操作说明和完整数据手册可在www.analog.com/DAC100获取。

二、产品型号与封装

2.1 产品型号

DAC100有两个具体型号：

• DAC100 - 703Q：10位电流输出数模转换器。
• DAC100 - 713Q：经过辐射测试的10位电流输出数模转换器。

2.2 封装形式

采用GDIP1 - T16封装，即16引脚陶瓷双列直插式封装（CERDIP）。其引脚连接如图1所示，清晰展示了各个引脚的功能，包括电源引脚（V +、V -）、输出引脚（OUTPUT）、全量程调整引脚（Full Scale Adjust）以及各位数据引脚（BIT 0 - BIT 9）等。同时，图1A给出了简化原理图，包含了关键电阻（RB = 6.12KΩ，RS = 4.88KΩ）等信息。

三、绝对最大额定值

3.1 电压与功率

• V + 电源到V - 电源：0V至36V。
• V + 电源到输出：0V至 + 18V。
• V - 电源到输出：0V至 - 18V。
• 功率耗散：最大500mW。

3.2 温度范围

• 工作温度范围： - 55°C至 + 125°C。
• 存储温度范围： - 65°C至 + 150°C。
• 引脚焊接温度（60秒）： + 300°C。
• 芯片结温（TJ）：最大 + 175°C。

3.3 热特性

不同封装的热阻有所不同：

• CERDIP（Q）封装：结到壳热阻（ΘJC）最大29°C/W，结到环境热阻（ΘJA）最大91°C/W。
• FLATPAK（N）封装：结到壳热阻（ΘJC）最大22°C/W，结到环境热阻（ΘJA）最大90°C/W。

四、电气参数

4.1 电气参数表

参数	符号	条件	子组	最小值	最大值	单位
电源电流	I +、I -	V IH = 2.1V	1, 2, 3		8.33	mA
全量程输出电压	V FR	V IL = 0.7V，全调整引脚连接到V -	1, 2, 3	10.0	11.1	V
零量程输出电压	V ZS	V IH = 2.1V	1, 2, 3		±0.013	%FS
积分非线性	NL	± ½ LSB – 9 Bits	1, 2, 3		±0.1
全量程温度系数	TCV FR	V IL = 0.7V，全量程调整引脚连接到V -	8		±60	ppm/°C
逻辑输入高电平	V IH	V IN = 2.1V至3V（所有输入），相对于输出引脚测量，允许∆V IN变化时≤ ±½ LSB变化	1, 2, 3	2.1		V
逻辑输入低电平	V IL	V IN = 0.7V至0V（所有输入），相对于输出引脚测量，允许∆V IN变化时≤ ±½ LSB变化	1, 2, 3		0.7	V
逻辑输入高电平电流	I IH	V IH = 6.0V，每个输入	1, 2, 3		5	µA
逻辑输入低电平电流	I IL	V IL = 0V，每个输入	1, 2, 3		5
电源灵敏度	PSS	V IL = 0.7V（所有输入），V S = ±6V至±18V	1, 2, 3		±0.1	%/V
单调性	∆I O	在每个主要进位码点测量	1	0		µA
建立时间	T SHL	R L = 1KΩ，C L ≤ 10pF	9		375	nS

4.2 电气测试要求

MIL - STD - 883测试要求	子组（见表I）
临时电气参数（预老化）	1
最终电气测试参数	1, 2, 3, 8
A组测试要求	1, 2, 3, 8, 9
C组测试要求	1
D组测试要求	1

4.3 老化测试增量限制

测试标题	老化终点	终点	寿命测试	增量限制	单位
V FR	10.55 ± 0.55	10.55 ± 0.75		±0.2	V
V ZS	±0.013	±0.018		±0.005	%FS
I +	8.33	8.33		±10%	mA
I -	8.33		8.33	±10%	mA

五、寿命测试与老化电路

5.1 高温反向偏置（HTRB）

HTRB不适用于此设计。

5.2 老化测试

老化测试按照MIL - STD - 883方法1015测试条件B进行。

5.3 稳态寿命测试

稳态寿命测试按照MIL - STD - 883方法1005进行。

六、版本变更记录

DAC100的版本经历了多次变更，每次变更都有其特定的内容，如更新网页地址、添加测试组信息、修改范围描述等。这反映了产品在不断优化和完善的过程。

在实际设计中，工程师们需要根据这些详细的规格参数和测试要求，合理选择和使用DAC100，以确保电路的性能和可靠性。大家在使用过程中有没有遇到过类似产品的一些特殊问题呢？欢迎在评论区分享交流。