电子说
在电子设计领域,测试与验证是确保产品质量和性能的关键环节。而德州仪器(TI)的SN54LVT8996和SN74LVT8996这两款3.3V 10位可寻址扫描端口(ASP)多分支可寻址IEEE STD 1149.1(JTAG)TAP收发器,为复杂电路组件的测试提供了强大的支持。今天,我们就来深入了解一下这两款器件。
文件下载:SN74LVT8996DW.pdf
SN54LVT8996和SN74LVT8996属于德州仪器SCOPE™可测试性集成电路家族。它们支持IEEE Std 1149.1 - 1990边界扫描,旨在促进复杂电路组件的测试。与大多数SCOPE™器件不同,ASP并非边界可扫描设备,而是将TI的可寻址阴影端口技术应用于IEEE Std 1149.1 - 1990(JTAG)测试访问端口(TAP),从而将扫描访问范围扩展到板级之外。
ASP的大多数操作与主测试时钟(PTCK)输入同步。PTCK始终直接缓冲到辅助测试时钟(STCK)输出。设备上电时,ASP默认主TAP与辅助TAP断开连接(除非使用旁路信号)。通过断言主测试复位(PTRST)输入或使用阴影协议,也可进入复位状态。PTRST始终直接缓冲到辅助测试复位(STRST)输出,确保ASP及其关联的辅助TAP能够同时复位。
系统中ASP的寻址通过阴影协议实现,该协议在PTDI上与PTCK同步接收。阴影协议仅在特定的稳定TAP状态(如Test - Logic - Reset、Run - Test/Idle、Pause - DR和Pause - IR)下发生,以避免在Shift - DR或Shift - IR状态下出现信号总线争用。阴影协议基于串行位对信号方案,使用两种位对组合(数据1、数据0)表示地址数据,另外两种位对组合(选择、空闲)用于帧定界。
ASP的连接状态通过比较最后有效阴影协议中接收到的地址与地址输入(A9 - A0)以及三个内部专用地址(DSA、RSA和TSA)来确定。如果阴影协议地址与地址输入匹配,ASP将发送确认协议并进入连接状态(ON);如果不匹配,则进入断开状态(OFF)。
通过低电平的BYP输入可选择协议旁路模式。在该模式下,无论先前的阴影协议结果如何,ASP都将进入BYP状态(主TAP信号连接到辅助TAP信号),同时禁用阴影协议的接收。
在实际应用中,ASP可用于多个(串行链接)符合IEEE Std 1149.1的设备组。每个组的ASP被分配一个唯一的地址,其主TAP连接到公共(多分支)TAP信号,辅助TAP信号扇出到与之关联的特定设备组。这种应用允许ASP连接到4线或5线多分支测试访问总线,如背板上的总线。
通过阴影协议,可选择单个模块上的扫描链,并通过多分支TAP进行控制,就好像它是系统中唯一的扫描链一样。完成对给定模块的扫描操作后,可按相同方式选择另一个模块。此外,在Pause - DR和Pause - IR TAP状态下,可使用测试同步地址(TSA)实现同时的TAP状态更改和多播扫描操作,这对于模块级或模块间的内置自测试(BIST)功能非常有用。
在规定的工作自由空气温度范围内,器件的绝对最大额定值包括电源电压范围为 - 0.5V至7V,不同型号的输出低态电流也有所不同,如SN54LVT8996为96mA,SN74LVT8996为128mA等。需要注意的是,超过绝对最大额定值可能会对器件造成永久性损坏。
SN54LVT8996和SN74LVT8996在不同的温度范围和电气参数下有各自的推荐工作条件,包括输入电压、输出电流等。例如,在特定的VCC电压下,对输入和输出的电压、电流都有相应的要求。
在推荐的工作自由空气温度范围内,器件的电气特性包括输入钳位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入电流等参数。这些参数对于正确设计和使用器件至关重要。
器件的时序要求包括时钟频率、脉冲持续时间、建立时间和保持时间等。例如,在不同的VCC电压下,PTCK的时钟频率有不同的最小值和最大值要求,同时对BYP、PTCK、PTRST等信号的脉冲持续时间以及A9 - A0、PTDI、PTMS等信号相对于PTCK的建立时间和保持时间也有规定。
开关特性描述了器件在不同输入信号作用下输出信号的转换时间,如从低电平到高电平的转换时间(tPLH)和从高电平到低电平的转换时间(tPHL)等。这些参数对于评估器件的性能和设计电路的时序至关重要。
SN74LVT8996提供了多种封装选项,包括SOIC(DW)和TSSOP(PW)等。不同的封装在引脚数量、包装数量、环保标准、引脚镀层等方面有所不同,用户可根据实际需求进行选择。
文档中还提供了示例电路板布局、模板设计等信息,包括TSSOP封装的焊盘图案、阻焊层细节以及模板的焊膏示例等。这些信息对于电路板的设计和制造具有重要的参考价值。
SN54LVT8996和SN74LVT8996这两款器件凭借其丰富的功能特点、灵活的工作模式和良好的电气性能,为复杂电路的测试和验证提供了有效的解决方案。无论是在航空航天、国防还是医疗等领域,它们都能发挥重要作用。作为电子工程师,我们需要深入了解这些器件的工作原理和特性,以便在实际设计中充分发挥它们的优势,提高产品的质量和可靠性。你在实际应用中是否使用过类似的器件呢?遇到过哪些问题?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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