电子说
在电子工程师的日常工作中,寻找高性能、可靠且多功能的开关解决方案是一项持续的挑战。今天,我们将深入探讨Analog Devices推出的ADGM1001/ADGM1002/ADGM1003系列0 Hz/DC至34 GHz单刀双掷(SPDT)MEMS开关,看看它们如何满足各种复杂的应用需求。
文件下载:ADGM1001.pdf
ADGM1001/ADGM1002/ADGM1003系列开关采用了Analog Devices的微机电系统(MEMS)开关技术,具有小尺寸、宽带宽、高线性度和低插入损耗等优点,能够在0 Hz/DC至指定的高频范围内稳定工作。该系列产品包括三款型号,分别适用于不同的带宽需求:
采用5.00 mm × 4.00 mm × 0.90 mm的24引脚LGA封装,适合对空间要求较高的应用。
能够在-40°C至+85°C的温度范围内正常工作,适应各种恶劣的工作环境。
| 型号 | 带宽 | 最大RF功率(dBm) | DC信号范围(V) | 最大DC电流(mA) |
|---|---|---|---|---|
| ADGM1001 | DC至34 GHz | 33 | ±6 | 200 |
| ADGM1002 | DC至20 GHz | 30 | ±5 | 150 |
| ADGM1003 | DC至16 GHz | 27 | ±3 | 75 |
ADGM1001采用MEMS开关技术,能够实现高功率、低损耗、低失真和宽带宽的开关性能。该技术结合了卓越的高频RF性能和直流精度性能,同时具有出色的可靠性和小尺寸表面贴装形式,是RF和精密信号仪器应用的理想选择。
ADGM1001内部有一个标称频率为10 MHz的振荡器,用于驱动电荷泵电路,为开关栅电极提供驱动电压。但该振荡器会产生噪声干扰,可通过将EXTD_EN引脚置高来禁用内部振荡器,消除噪声馈通。
该系列开关可用于自动测试设备(ATE)的负载和探头板,提供高精度的信号切换,确保测试结果的准确性。
支持PCIe Gen4/Gen5/Gen6、USB 3和USB 4等数字标准,能够实现高速数字信号的环回测试,满足高带宽测试需求。
凭借其长使用寿命和快速开关时间,可替代传统继电器,提高系统的可靠性和响应速度。
利用其低插入损耗和宽带宽特性,可用于构建可重构滤波器和衰减器,实现信号的灵活调节。
适用于军事和微波无线电系统,提供稳定可靠的信号切换解决方案。
满足5G毫米波通信系统对高频、高性能开关的需求,确保信号的高效传输。
开关的导通电阻漂移会受到多种因素的影响,如器件差异、通道差异、循环驱动、导通后稳定时间、偏置电压和温度变化等。在50 Ω系统中,导通电阻漂移会引入系统误差和插入损耗误差,需要进行相应的计算和补偿。
热切换(在开关上施加过大电压或电流时进行开关操作)会损坏开关触点,显著降低开关的循环寿命。因此,在使用过程中应避免热切换。
为避免ADGM1001下方出现焊料空洞,建议使用0.0767 mm(3 mil)厚的纳米涂层焊料模板,模板孔径尺寸为1:1,并将焊膏掩膜分成多个焊盘。不良的焊接可能会影响开关的RF性能。
ADGM1001/ADGM1002/ADGM1003系列MEMS开关凭借其出色的电气性能、可靠的开关性能、集成化设计和小尺寸封装,为电子工程师提供了一种高性能、多功能的开关解决方案。在实际应用中,我们需要充分考虑系统误差、热切换、处理注意事项和焊接模板等因素,以确保开关的正常运行和系统的稳定性。你在使用这类MEMS开关时遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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