电子说
在电子工程领域,功率半导体器件的性能对整个系统的效率和可靠性起着关键作用。今天要介绍的是安森美(onsemi)的一款碳化硅(SiC)MOSFET——NVH4L022N120M3S,它具有诸多出色的特性,适用于多种汽车应用场景。
该MOSFET典型的导通电阻 (R{DS(on)}) 在 (V{GS}=18V) 时为 (22mOmega),这意味着在导通状态下,器件的功率损耗较低,能够提高系统的效率。同时,其超低的栅极电荷 (Q_{G(tot)} = 137nC),使得开关过程中所需的驱动能量减少,有助于实现高速开关。
具备低电容特性,例如输出电容 (C_{oss}=146pF),这使得器件在开关过程中能够快速充放电,实现高速开关动作,减少开关损耗。此外,该器件经过100%雪崩测试,保证了其在雪崩状态下的可靠性。
NVH4L022N120M3S通过了AEC - Q101认证,并且具备生产件批准程序(PPAP)能力,适用于汽车应用。同时,该器件是无卤的,符合RoHS标准(豁免7a),并且在二级互连(2LI)上是无铅的,满足环保要求。
在汽车车载充电器中,NVH4L022N120M3S的低导通电阻和高速开关特性能够有效提高充电效率,减少充电时间,同时降低充电器的发热,提高系统的可靠性。
对于电动汽车和混合动力汽车的DC - DC转换器,该MOSFET能够在高电压和大电流的条件下稳定工作,将电池电压转换为合适的电压,为车辆的电气系统供电。
| 参数 | 条件 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | 1200 | V | |
| 栅源电压 | (V_{GS}) | -10/+22 | V | |
| 推荐的栅源电压工作值 | (T_C < 175°C) | (V_{GSop}) | -3/+18 | V |
| 连续漏极电流(稳态) | (T_C = 25°C) | (I_D) | 89 | A |
| 功率耗散 | (P_D) | 348 | W | |
| 连续漏极电流(稳态) | (T_C = 100°C) | (I_D) | 62 | A |
| 功率耗散 | (P_D) | 174 | W | |
| 脉冲漏极电流 | (T_C = 25°C) | (I_{DM}) | 275 | A |
| 工作结温和存储温度范围 | (TJ, T{stg}) | -55 至 +175 | °C | |
| 源极电流(体二极管) | (TC = 25°C, V{GS} = -3V) | (I_S) | 72 | A |
| 单脉冲漏源雪崩能量 | (I_{L(pk)} = 23.1A, L = 1mH) | (E_{AS}) | 267 | mJ |
| 焊接时的最大引脚温度(距外壳1/25英寸,持续10s) | (T_L) | 270 | °C |
需要注意的是,超过最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。同时,整个应用环境会影响热阻值,这些值不是常数,仅在特定条件下有效。
在 (V{GOP}= +18V),(V{DS}=10V),(ID = 40A) 时,导通电阻 (R{DS(on)}) 有特定值。
文档中还给出了一系列典型特性曲线,包括导通区域特性、归一化导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系、导通电阻随温度的变化、导通电阻与栅源电压的关系、传输特性、开关损耗与漏极电流的关系、开关损耗与漏极电压的关系、开关损耗与栅极电阻的关系、开关损耗与温度的关系、二极管正向电压与电流的关系、栅源电压与总电荷的关系、电容与漏源电压的关系、非钳位电感开关能力、最大连续漏极电流与壳温的关系、安全工作区、单脉冲最大功率耗散、结到壳的瞬态热响应等。这些曲线能够帮助工程师更好地了解器件在不同条件下的性能,从而进行合理的设计。
该器件采用TO - 247 - 4L封装,文档给出了详细的封装尺寸,包括各部分的最小、标称和最大尺寸,这对于PCB布局和散热设计等方面非常重要。
总的来说,onsemi的NVH4L022N120M3S碳化硅MOSFET以其出色的性能和特性,为汽车电子领域的电源转换和控制提供了一个优秀的解决方案。工程师在设计相关系统时,可以根据这些特性和参数,合理选择和使用该器件,以实现高效、可靠的系统设计。大家在实际应用中,有没有遇到过类似器件的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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