电子说
在电子工程领域,功率半导体器件的性能直接影响着各种电子设备的效率和稳定性。今天,我们来深入了解一下安森美(onsemi)的碳化硅(SiC)MOSFET——NTHL045N065SC1,看看它有哪些独特之处。
文件下载:NTHL045N065SC1-D.PDF
该MOSFET具有极低的导通电阻,典型值 (R{DS(on)}) 在 (V{GS}=18V) 时为 (32mOmega),在 (V_{GS}=15V) 时为 (42mOmega)。低导通电阻意味着在导通状态下,器件的功率损耗更小,能有效提高系统的效率。这对于追求高功率密度和低能耗的应用来说,是非常关键的特性。
其栅极总电荷 (Q_{G(tot)}) 仅为 (105nC)。超低的栅极电荷使得MOSFET在开关过程中所需的驱动能量更小,从而能够实现高速开关,减少开关损耗。这对于高频应用场景,如开关模式电源(SMPS)等,具有重要意义。
器件的输出电容 (C_{oss}) 为 (162pF),低电容特性使得MOSFET在开关过程中能够更快地充电和放电,进一步提高了开关速度。同时,高速开关能力也有助于降低开关损耗,提高系统的效率和性能。
该MOSFET经过100%雪崩测试,具有良好的雪崩耐量。此外,其工作结温 (T_{J}<175^{circ}C),能够在较宽的温度范围内稳定工作,适应各种恶劣的工作环境。
该器件是无卤的,并且符合RoHS指令(豁免条款7a),采用无铅二级互连(2LI)技术,符合环保要求。
NTHL045N065SC1适用于多种应用场景,主要包括:
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | (650 -8/+22V) | (V) |
| 栅源电压 | (V_{GS}) | (-5/+18V) | (V) |
| 推荐栅源电压工作值 | (V_{GSop}) | (T_{C}<175^{circ}C) | (V) |
| 连续漏极电流(稳态,(T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | - | (A) |
| 功率耗散(稳态) | (P_{D}) | (291W) | (W) |
| 连续漏极电流(稳态,(T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | (46A) | (A) |
| 功率耗散(稳态,(T_{C}=100^{circ}C)) | (P_{D}) | (145W) | (W) |
| 脉冲漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{DM}) | (191A) | (A) |
| 工作结温和存储温度范围 | (T{J},T{stg}) | (-55) 到 (+175^{circ}C) | (^{circ}C) |
| 源极电流(体二极管) | (I_{S}) | (75A) | (A) |
| 单脉冲漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 12A),(L = 1mH)) | (E_{AS}) | (72mJ) | (mJ) |
| 焊接时最大引脚温度(距外壳 (1/8'') 处,(5s)) | (T_{L}) | (300^{circ}C) | (^{circ}C) |
需要注意的是,超过最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。同时,整个应用环境会影响热阻数值,这些数值并非恒定不变,仅在特定条件下有效。
文档中还给出了多种典型特性曲线,包括导通区域特性、归一化导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系、导通电阻随温度和栅源电压的变化、传输特性、二极管正向电压与电流的关系、栅源电压与总电荷的关系、电容与漏源电压的关系、非钳位电感开关能力、最大连续漏极电流与壳温的关系、安全工作区、单脉冲最大功率耗散以及结到壳的热响应等。这些曲线能够帮助工程师更好地了解器件在不同工作条件下的性能,为电路设计提供重要参考。
该MOSFET采用TO - 247 - 3LD封装,详细给出了封装的尺寸信息,包括各部分的最小、标称和最大尺寸。同时,订购信息显示,器件型号为NTHL045N065SC1,采用TO - 247长引脚封装,每管30个单位。
总的来说,onsemi的NTHL045N065SC1碳化硅MOSFET凭借其优异的性能和广泛的应用场景,为电子工程师在设计高效、可靠的电力电子系统提供了一个很好的选择。在实际应用中,工程师需要根据具体的设计需求,结合器件的特性和参数,合理选择和使用该器件,以达到最佳的设计效果。大家在使用过程中有没有遇到过类似器件的一些特殊情况呢?欢迎在评论区分享交流。
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