安森美SiC MOSFET——NTH4L014N120M3P深度解析

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安森美SiC MOSFET——NTH4L014N120M3P深度解析

在功率半导体领域,碳化硅(SiC)技术正逐渐成为主流,安森美的EliteSiC系列MOSFET更是其中的佼佼者。今天,我们就来深入了解一下安森美这款14毫欧、1200V的NTH4L014N120M3P碳化硅MOSFET。

文件下载:NTH4L014N120M3P-D.PDF

一、产品特性亮点

低导通电阻

在 $V{GS}=18V$ 的典型条件下,$R{DS(on)}$ 仅为14毫欧,这意味着在导通状态下,器件的功率损耗较低,能够有效提高系统的效率。想象一下,在一个功率转换系统中,较低的导通电阻就像是一条畅通无阻的高速公路,电流能够顺畅地通过,减少了能量的浪费。

低开关损耗

典型的导通损耗($E_{ON}$)在74A、800V的条件下为1308J。低开关损耗使得该MOSFET在高频开关应用中表现出色,能够减少开关过程中的能量损失,降低系统的发热,提高系统的可靠性。例如在高频的开关电源中,低开关损耗可以让电源的效率更高,同时也能减少散热设计的难度。

雪崩测试

该器件经过100%雪崩测试,这表明它在承受雪崩能量方面具有可靠的性能。在实际应用中,雪崩现象可能会对器件造成损坏,而经过雪崩测试的MOSFET能够更好地应对这种情况,提高系统的稳定性。

RoHS合规

符合RoHS标准,这意味着该器件在环保方面表现良好,满足了现代电子设备对环保的要求。

二、典型应用场景

太阳能逆变器

在太阳能逆变器中,需要高效的功率转换和低损耗的器件。NTH4L014N120M3P的低导通电阻和低开关损耗特性,能够提高太阳能逆变器的转换效率,将更多的太阳能转化为电能。

电动汽车充电站

随着电动汽车的普及,电动汽车充电站的需求也在不断增加。该MOSFET能够承受高电压和大电流,并且具有良好的开关性能,适用于电动汽车充电站的功率转换模块,提高充电效率。

UPS(不间断电源)

UPS需要在市电中断时快速切换到备用电源,并且保证电源的稳定性。NTH4L014N120M3P的快速开关特性和高可靠性,能够满足UPS对快速响应和稳定供电的要求。

储能系统

储能系统需要高效的能量存储和释放,该MOSFET的低损耗特性能够减少能量在存储和释放过程中的损失,提高储能系统的效率。

SMPS(开关模式电源)

在开关模式电源中,该MOSFET的低导通电阻和低开关损耗能够提高电源的效率,减少发热,延长电源的使用寿命。

三、关键参数解读

最大额定值

参数 符号 数值 单位
漏源电压 $V_{DSS}$ 1200 V
栅源电压 $V_{GS}$ -10/+22 V
连续漏极电流($T_{C}=25^{circ}C$) $I_{D}$ 152 A
功率耗散($T_{C}=25^{circ}C$) $P_{D}$ 686 W
连续漏极电流($T_{C}=100^{circ}C$) $I_{D}$ 107 A
功率耗散($T_{C}=100^{circ}C$) $P_{D}$ 343 W
脉冲漏极电流($T_{C}=25^{circ}C$) $I_{DM}$ 407 A
工作结温和存储温度范围 $T{J},T{stg}$ -55 to +175 $^{circ}C$
源极电流(体二极管)($T{C}=25^{circ}C$,$V{GS}=-3V$) $I_{S}$ 129 A
单脉冲漏源雪崩能量($I_{L(pk)} = 28.9A$,$L = 1mH$) $E_{AS}$ 418 mJ
焊接时最大引脚温度(距外壳1/25英寸,10s) $T_{L}$ 270 $^{circ}C$

这些参数为我们在设计电路时提供了重要的参考,我们需要根据实际应用场景来合理选择和使用该器件,确保其工作在安全的范围内。

热特性

参数 符号 典型值 最大值 单位
结到壳稳态热阻 $R_{JC}$ 0.17 0.22 $^{circ}C$/W
结到环境稳态热阻 $R_{JA}$ 40 - $^{circ}C$/W

热特性参数对于我们进行散热设计非常重要。例如,在设计散热片时,需要根据结到壳和结到环境的热阻来计算所需的散热面积和散热功率,以确保器件在工作过程中不会过热。

推荐工作条件

栅源电压的工作值范围为 -5… -3V 和 +18V。在实际应用中,我们需要确保栅源电压在这个范围内,以保证器件的正常工作。如果超出这个范围,可能会影响器件的性能,甚至导致器件损坏。

电气特性

关态特性

  • 漏源击穿电压 $V{(BR)DSS}$ 在 $V{GS}=0V$,$I_{D}=1mA$ 时为1200V,这表明该器件能够承受较高的电压。
  • 漏源击穿电压温度系数为 -0.3V/$^{circ}C$,这意味着随着温度的升高,漏源击穿电压会降低。在设计电路时,需要考虑温度对击穿电压的影响。

开态特性

  • 栅极阈值电压 $V{GS(TH)}$ 在 $V{GS}=V{DS}$,$I{D}=37mA$ 时为2.08 - 4.63V。
  • 漏源导通电阻 $R{DS(on)}$ 在不同的 $V{GS}$ 和 $T{J}$ 条件下有所不同。例如,在 $V{GS}=18V$,$I{D}=74A$,$T{J}=25^{circ}C$ 时为14 - 20mΩ;在 $V{GS}=18V$,$I{D}=74A$,$T_{J}=175^{circ}C$ 时为 - 29mΩ。这说明导通电阻会随着温度的升高而增大,在高温环境下使用时需要特别注意。

开关特性

  • 开通延迟时间 $t{d(ON)}$ 为26ns,上升时间 $t{r}$ 为40ns,关断延迟时间 $t{d(OFF)}$ 为68ns,下降时间 $t{f}$ 为13ns。这些参数反映了器件的开关速度,快速的开关速度能够减少开关损耗。
  • 开通开关损耗 $E{ON}$ 为1308J,关断开关损耗 $E{OFF}$ 为601J,总开关损耗 $E_{tot}$ 为1909J。

四、典型特性曲线

文档中给出了一系列典型特性曲线,如导通区域特性、归一化导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系、导通电阻随温度的变化、导通电阻与栅源电压的关系、传输特性、二极管正向电压与电流的关系、栅源电压与总电荷的关系、电容与漏源电压的关系、无钳位电感开关能力、最大连续漏极电流与壳温的关系、安全工作区、单脉冲最大功率耗散、开关损耗与漏极电流、开关损耗与漏极电压、开关损耗与栅极电阻、开关损耗与温度、结到壳瞬态热响应等。这些曲线能够帮助我们更直观地了解器件的性能,在设计电路时可以根据这些曲线来优化电路参数。

五、封装信息

该器件采用TO - 247 - 4L封装,这种封装具有良好的散热性能和电气性能。同时,文档中还给出了详细的封装尺寸,方便我们进行PCB设计。

在实际的电子工程师设计中,我们需要综合考虑器件的各种特性和参数,根据具体的应用场景来选择合适的器件。对于NTH4L014N120M3P这款MOSFET,它在高电压、大电流、高频开关等应用场景中具有明显的优势,但在使用过程中也需要注意其热特性和电气特性的变化,以确保系统的可靠性和稳定性。大家在使用这款器件时,有没有遇到过什么问题或者有什么独特的设计经验呢?欢迎在评论区分享。

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