电子说
在电力电子领域,碳化硅(SiC)器件凭借其卓越的性能逐渐成为主流。今天,我们要深入探讨的是安森美(onsemi)的一款750V、23mΩ的SiC FET——UJ4C075023L8S。这款器件采用独特的“共源共栅”电路配置,具有诸多出色特性,为众多应用场景提供了高效的解决方案。
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UJ4C075023L8S是一款750V、23mΩ的G4 SiC FET。它基于独特的“共源共栅”电路结构,将常开型SiC JFET与Si MOSFET封装在一起,形成常关型SiC FET器件。这种设计使得该器件具有标准的栅极驱动特性,在替换Si IGBT、Si FET、SiC MOSFET或Si超结器件时,只需进行最小程度的重新设计,就能使用现成的栅极驱动器。它采用H - PDSO - F8封装,具有超低的栅极电荷和出色的反向恢复特性,非常适合用于开关感性负载以及任何需要标准栅极驱动的应用。
采用H - PDSO - F8封装,这种封装有利于实现更快的开关速度和更干净的栅极波形,同时该器件符合无铅、无卤和RoHS标准,环保性能良好。
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DS}) | 750 | V | |
| 栅源电压(DC) | (V_{GS}) | DC | -20 to +20 | V |
| 栅源电压(AC,f > 1Hz) | (V_{GS}) | AC (f > 1 Hz) | -25 to +25 | V |
| 连续漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | (T_{C}=25^{circ}C) | 64 | A |
| 连续漏极电流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | (T_{C}=100^{circ}C) | 46 | A |
| 脉冲漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{DM}) | (T_{C}=25^{circ}C) | 196 | A |
| 单脉冲雪崩能量 | (E_{AS}) | (L = 15mH),(I_{AS}=3A) | 67 | mJ |
| SiC FET dv/dt鲁棒性 | (dv/dt) | (V_{DS}leq500V) | 150 | V/ns |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{tot}) | (T_{C}=25^{circ}C) | 278 | W |
| 最大结温 | (T_{J,max}) | 175 | °C | |
| 工作和存储温度 | (T{J}, T{STG}) | -55 to 175 | °C | |
| 回流焊接温度 | (T_{solder}) | Reflow MSL 1 | 260 | °C |
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 结到外壳的热阻 | (R_{JC}) | 0.42 | 0.54 | °C/W |
在不同测试条件下,该器件的各项电气参数表现如下:
该器件适用于多种应用场景,包括但不限于:
由于该器件具有较高的dv/dt和di/dt速率,为了减少电路寄生参数的影响,强烈建议进行合理的PCB布局设计。例如,尽量缩短栅极驱动线路的长度,减少寄生电感和电容。
当FET工作在二极管模式时,建议使用外部栅极电阻,以实现最佳的反向恢复性能。
使用具有小 (R{(G)}) 的缓冲电路可以提供更好的EMI抑制效果,同时具有更高的效率。与使用高 (R{(G)}) 值相比,小 (R{(G)}) 能更好地控制关断时的 (V{(DS)}) 峰值尖峰和振铃持续时间,并且总开关损耗更小。
UJ4C075023L8S作为一款高性能的SiC FET,凭借其独特的共源共栅结构、出色的电气性能和封装优势,在多个应用领域展现出巨大的潜力。电子工程师在设计相关电路时,可以充分利用该器件的特性,提高系统的性能和效率。同时,在实际应用中,要注意PCB布局、外部栅极电阻和缓冲电路等方面的设计,以确保器件的稳定运行。大家在使用这款器件的过程中,有没有遇到什么特别的问题或者有什么独特的应用经验呢?欢迎在评论区分享交流。
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