电子说
在电子工程领域,功率器件的性能直接影响着电路的效率和稳定性。onsemi的UG4SC075005L8S碳化硅(SiC)组合场效应管(Combo-FET),为工程师们提供了一种创新的解决方案,适用于多种高功率应用场景。
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UG4SC075005L8S将750V SiC JFET和低压Si MOSFET集成在一个H-PDSO-F8封装中。这种创新设计允许用户创建常关开关电路,同时利用常开SiC JFET的优势,如超低导通电阻((R_{DS(on)}))以最小化传导损耗,以及简化JFET器件结构所具有的出色鲁棒性,使其能够处理电路保护应用中所需的高能量开关。对于开关模式功率转换应用,该器件为JFET和MOSFET栅极提供了独立的接入点,以改善速度控制并便于多个器件并联。
具备个位数的(R_{DS(on)}),能有效降低传导损耗,提高电路效率。
可实现常关开关功能,满足特定电路设计需求。
通过独立的栅极接入,能更好地控制开关速度。
支持3个及以上FET并联,改善并联器件的工作性能。
最高工作温度可达175°C,适应多种恶劣环境。
能够承受高脉冲电流,增强了器件的可靠性。
采用银烧结芯片连接技术,具有出色的热阻特性。
具备短路额定能力,保障电路安全。
无铅、无卤素,符合RoHS标准。
利用其高能量开关能力和短路保护特性,确保电路在故障时的安全切断。
实现快速、可靠的开关动作,提高继电器的性能。
在电池管理系统中,有效控制电池的连接和断开。
应对电路中的浪涌电流,保护设备免受损坏。
精确控制浪涌电流,避免对电路造成冲击。
适用于高功率应用,提高功率转换效率。
| 参数 | 测试条件 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压((V_{DS})) | - | 750 | V |
| JFET栅源电压((V_{JGS})) | DC | -30 to +3 | V |
| AC(注1) | -30 to +30 | V | |
| MOSFET栅源电压((V_{GS})) | DC | -20 to +20 | V |
| AC(f>1 Hz) | -25 to +25 | V | |
| 连续漏极电流((I_{D})) | (T_{C}<144^{circ}C) | 120 | A |
| 脉冲漏极电流((I_{DM})) | (T_{C}=25^{circ}C) | 588 | A |
| 单脉冲雪崩能量((E_{AS})) | (L = 15 mH, I_{AS} = 6.5 A) | 316 | mJ |
| 短路耐受时间((t_{sc})) | (V{DS}=400 V, T{J(START)}=175^{circ}C) | 5 | μs |
| SiC FET dv/dt鲁棒性((dv/dt)) | (V_{DS}<500 V) | 100 | V/ns |
| 功率耗散((P_{tot})) | (T_{C}=25^{circ}C) | 1153 | W |
| 最大结温((T_{J,max})) | - | 175 | °C |
| 工作和存储温度((T{J}, T{STG})) | - | -55 to 175 | °C |
| 回流焊接温度((T_{solder})) | 回流MSL 1 | 260 | °C |
注:
| 在(T{J}=+25^{circ}C)和(V{JGS}=0 V)(除非另有说明)的条件下,该器件具有以下典型静态特性: | 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 漏源击穿电压((BV_{DS})) | (V{GS}=0 V, I{D}=1 mA) | 750 | - | - | V | |
| 总漏极泄漏电流((I_{loss})) | (V{DS}=750 V, V{GS}=0 V, T_{J}=25^{circ}C) | - | 6 | 130 | μA | |
| (V{DS}=750 V, V{GS}=0 V, T_{J}=175^{circ}C) | - | 45 | - | μA | ||
| 总JFET栅极泄漏电流((J_{GSS})) | (V{GS}=-20 V, V{GS}=12 V) | - | 0.1 | 100 | μA | |
| 总MOSFET栅极泄漏电流((I_{GSS})) | (V_{GS} = -20V/+20V) | - | 6 | 20 | μA | |
| 漏源导通电阻((R_{DS(on)})) | (V{GS}=15 V, V{JGS}=2 V, I{D}=80 A, T{J}=25^{circ}C) | - | 5.0 | - | mΩ | |
| (V{GS}=15 V, V{JGS}=0 V, I{D}=80 A, T{J}=25^{circ}C) | - | 5.4 | 7.2 | mΩ | ||
| (V{GS}=15 V, V{JGS}=0 V, I{D}=80 A, T{J}=125^{circ}C) | - | 9.3 | - | mΩ | ||
| (V{GS}=15 V, V{JGS}=0 V, I{D}=80 A, T{J}=175^{circ}C) | - | 12.2 | - | mΩ | ||
| JFET栅极阈值电压((V_{JG(th)})) | (V{DS}=5 V, V{GS}=12 V, I_{D}=180 mA) | -8.3 | -6.0 | -3.7 | V | |
| MOSFET栅极阈值电压((V_{G(th)})) | (V{DS}=5 V, I{D}=10 mA) | 4 | 4.7 | 6 | V | |
| JFET栅极电阻((R_{JG})) | (f = 1 MHz),开路漏极 | - | 0.8 | - | Ω | |
| MOSFET栅极电阻((R_{G})) | (f = 1 MHz),开路漏极 | - | 0.8 | - | Ω |
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 二极管连续正向电流((I_{S})) | (T_{C}<144^{circ}C) | - | - | 120 | A |
| 二极管脉冲电流((I_{S.pulse})) | (T_{C}=25^{circ}C) | - | - | 588 | A |
| 正向电压((V_{FSD})) | (V{GS}=0 V, I{S}=50 A, T_{J}=25^{circ}C) | - | 1.03 | 1.16 | V |
| (V{GS}=0 V, I{S}=50 A, T_{J}=175^{circ}C) | - | 1.06 | - | V | |
| 反向恢复电荷((Q_{m})) | (V{DS}=400 V, I{S}=80 A, V{GS}=0 V, V{JGS}=0 V, R{JG} = 0.7 Omega, di/dt = 2400 A/μs, T{J} = 25 °C) | - | 377 | - | nC |
| 反向恢复时间((t_{rr})) | - | 70 | - | - | ns |
| 反向恢复电荷((Q_{m})) | (V{DS}=400 V, I{S}=80 A, V{GS}=0 V, V{JGS}=0 V, R{JG} = 0.7 Omega, di/dt = 2400 A/μs, T{J}=150^{circ}C) | - | 427 | - | nC |
| 反向恢复时间((t_{rr})) | - | 78 | - | - | ns |
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|
| MOSFET输入电容((C_{iss})) | (V{DS}=400 V, V{GS}=0 V, f = 100 kHz) | - | 8374 | - | pF |
| 输出电容((C_{oss})) | - | - | 362 | - | pF |
| 反向传输电容((C_{rss})) | - | - | 4 | - | pF |
| 有效输出电容(能量相关)((C_{oss(er)})) | (V{DS}=0 V) to (400 V, V{GS}=0 V) | - | 475 | - | pF |
| 有效输出电容(时间相关)((C_{oss(tr)})) | - | - | 950 | - | pF |
| 总栅极电荷((Q_{G})) | (V{DS}=400 V, I{D}=80 A, V_{GS} = 0 V) to 15 V | - | 164 | - | nC |
| 栅漏电荷((Q_{GD})) | - | - | 24 | - | nC |
| 栅源电荷((Q_{GS})) | - | - | 46 | - | nC |
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|
| JFET输入电容((C_{Jiss})) | (V{DS}=400 V, V{JGS}=-20 V, f = 100 kHz) | - | 3028 | - | pF |
| JFET输出电容((C_{Joss})) | - | - | 364 | - | pF |
| JFET反向传输电容((C_{Jrss})) | - | - | 360 | - | pF |
| JFET总栅极电荷((Q_{JG})) | (V{DS}=400 V, I{D}=80 A, V_{JGS} = -18 V) to 0 V | - | 400 | - | nC |
| JFET栅漏电荷((Q_{JGD})) | - | - | 270 | - | nC |
| JFET栅源电荷((Q_{JGS})) | - | - | 60 | - | nC |
文档中提供了一系列典型性能图表,包括不同温度下的输出特性、导通电阻与温度的关系、栅极电荷特性等。这些图表直观地展示了器件在不同条件下的性能表现,为工程师在电路设计中提供了重要的参考依据。
| 零件编号 | 标记 | 封装 | 包装 |
|---|---|---|---|
| UG4SC075005L8S | UG4SC075005 | H-PDSO-F8(无铅、无卤素) | 2,000 / 卷带包装 |
关于卷带规格的详细信息,可参考Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。
onsemi的UG4SC075005L8S碳化硅组合场效应管凭借其出色的性能和广泛的应用范围,为电子工程师提供了一种高性能、高可靠性的功率器件解决方案。在高功率开关模式转换、电路保护等应用中,该器件能够充分发挥其优势,提高电路效率和稳定性。在实际设计中,工程师们需要根据具体的应用需求,结合器件的电气特性和典型性能图表,合理选择和使用该器件,以实现最佳的电路性能。
你在使用类似功率器件时,遇到过哪些挑战呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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