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在电子设计领域,功率MOSFET是至关重要的元件,而ON Semiconductor的NID5001N自保护FET凭借其先进的技术和丰富的特性,成为众多工程师的理想选择。下面,我们就来深入了解一下这款产品。
文件下载:NID5001N-D.PDF
NID5001N属于HDPlus系列功率MOSFET,它采用了ON Semiconductor最新的MOSFET技术工艺,在实现每硅面积最低导通电阻的同时,还集成了智能特性。其集成的热限和电流限制功能协同工作,可提供短路保护。此外,该器件还具备集成的漏极 - 栅极钳位,使其能够在雪崩模式下承受高能量,同时为意外电压瞬变提供额外的安全裕度。而集成的栅极 - 源极钳位则提供了静电放电(ESD)保护。
NID5001N具有低(R{DS(on)})特性,这有助于降低功率损耗,提高系统效率。在(V{GS}=10V)时,典型的(R_{DS(on)})为23mΩ。
集成的短路保护功能可以在短路发生时迅速做出响应,保护器件和整个电路系统。
该器件明确规定了雪崩能量,能够在雪崩模式下承受1215mJ的能量,这对于应对突发的高能量冲击非常重要。
通过 slew rate控制,实现低噪声开关,减少对周围电路的干扰。
集成的过压钳位保护功能可以有效防止过压对器件造成损坏。
提供无铅封装选项,符合环保要求。
| 在(T_{J}=25^{circ}C)(除非另有说明)的条件下,NID5001N的最大额定值如下: | 额定值 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 内部钳位的漏源电压 | (V_{DSS}) | 42 | Vdc | |
| 内部钳位的漏栅电压((R_{GS}=1.0MΩ)) | (V_{DGR}) | 42 | Vdc | |
| 栅源电压 | (V_{GS}) | - | Vdc | |
| 连续漏极电流 | (I_{D}) | - | A | |
| 功率耗散((T{A}=25^{circ}C),注1)((T{A}=25^{circ}C),注1)((T_{A}=25^{circ}C),注2) | (P_{D}) | 64、1.0、1.56 | W | |
| 热阻,结到壳 结到环境(注2) | (R{θJC})、(R{θJA})、(R_{θBA}) | 1.95、120、80 | °C/W | |
| 单脉冲漏源雪崩能量((V{DD}=25Vdc),(V{GS}=5.0Vdc)) | (E_{AS}) | 1215 | mJ | |
| 工作和储存温度范围 | - | -55 to 150 | °C |
需要注意的是,超过最大额定值的应力可能会损坏器件,最大额定值仅为应力额定值,并不意味着在推荐工作条件之上可以正常工作。长时间暴露在推荐工作条件之上的应力下可能会影响器件的可靠性。
| 在(T_{J}=25^{circ}C)(除非另有说明)的条件下,NID5001N的电气特性如下: | 测试条件 | 符号 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ((V{GS}=0Vdc),(I{D}=250mu Adc)) ((V{GS}=0Vdc),(I{D}=250mu Adc),(T_{J}=150^{circ}C)) | (V_{(BR)DSS}) | - | - | 50 | V | |
| ((V{DS}=32Vdc),(V{GS}=0Vdc)) | - | - | - | 5.0 | - | |
| ((V{GS}=5.0Vdc),(V{DS}=0Vdc)) | - | - | - | 100 | - | |
| ((V{GS}=10Vdc),(I{D}=5.0Adc),(T_{J}@150^{circ}C)) | (R_{DS(on)}) | - | - | 29.55 | mΩ | |
| ((V{GS}=5.0Vdc),(I{D}=5.0Adc),(T_{J}@150^{circ}C)) | (R_{DS(on)}) | - | - | 34 | mΩ | |
| 源漏正向导通电压 | (V_{SD}) | - | 0.80 | - | V | |
| 关断时间 | (t_{off}) | 86 | - | 95 | ns | |
| 导通转换速率 | (-dV{DS}/dt{on}) | - | - | - | V/μs | |
| (V_{GS}=5.0Vdc) | (T_{LIM(off)}) | 150 | - | - | °C | |
| (电路复位) | (T_{LIM(on)}) | - | 160 | - | °C | |
| 温度限制 | - | 135 | - | - | °C |
文档中还提供了一系列典型性能曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻与栅源电压的关系、导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系、导通电阻随温度的变化、漏源泄漏电流与电压的关系、二极管正向电压与电流的关系以及最大额定正向偏置安全工作区等。这些曲线可以帮助工程师更好地了解器件在不同条件下的性能表现。
| NID5001N采用DPAK封装,有两种型号可供选择: | 器件 | 封装 | 包装形式 |
|---|---|---|---|
| NID5001NT4 | DPAK | 2500/卷带式包装 | |
| NID5001NT4G | DPAK(无铅) | 2500/卷带式包装 |
同时,文档还提供了DPAK封装的机械尺寸和推荐安装脚印等详细信息,方便工程师进行设计和布局。
NID5001N自保护FET以其丰富的特性和出色的性能,为电子工程师提供了一个可靠的解决方案。无论是在短路保护、热管理还是低导通电阻方面,都表现出色。在实际设计中,工程师可以根据具体的应用需求,结合器件的特性和参数,合理选择和使用NID5001N,以实现高效、稳定的电路设计。大家在使用这款器件的过程中,有没有遇到过什么特别的问题或者有趣的应用案例呢?欢迎在评论区分享。
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